Устройство для оптико-электронной дефектоскопии

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для обнаружения дефектов поверхности различных объектов . Целью изобретения является повыщение стабильности измерений за счет совмещения одним элементом функций излучения и приема. В устройстве коммутатор 5, управляемый генератором 7 тактовых импульсов, осуществляет последовательное подключение каждого из светодиодов 2 к генератору 8 тока . В результате световой поток, выходящий в виде узкого пучка из гнезд 3, обегает поверхность 4 контролируемого объекта вдоль образующей. Коммутатор 6, управляемый от того же генератора 7, подключает светодиод, предшествующий или последующий по отношению к излучающему, к блокам обработки 9 и регистрации 10. Применение ИК светодиодов позволяет увеличить помехоустойчивость устройства вследствие малой чувствительности ИК диодов к видимому излучению. 1 ил. i (Л С со ел 1

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (51)4 С 01 В 21 30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4001968/24-28 (22) 02.01.86 (46) 07.12.87. Бюл. 9 45 (72) Ю.В.Гавинский, А.М.Галушин и M.È.×óáèðêî (53) 531 ° 71 (088.8) (56) Пасечник В.С. Разработка и ис следования различных оптико-электронных систем контроля дефектов деталей.

Тезисы докладов 1-й Всесоюзной межвузовской научно-технической конференции Оптические и радиоволновые методы и средства неразрушающего контроля качества материалов и изделий".

Фергана, 1981, ч. 1, с. 243-246. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для обнаружения дефектов поверхности различных объек„„SU„„1357714 А1 тов. Целью изобретения является повыщение стабильности измерений за счет совмещения одним элементом функций излучения и приема. В устройстве коммутатор 5, управляемый генератором 7 тактовых импульсов,. осуществляет последовательное подключение каждого из светодиодов 2 к генератору 8 тока. В результате световой поток, выходящий в виде узкого пучка из гнезд

3, обегает поверхность 4 контролируемого объекта вдоль образующей.

Коммутатор 6, управляемый от того же генератора 7, подключает светодиод, предшествующий или последующий по отношению к излучающему, к блокам обработки 9 и регистрации 10. Применение ИК светодиодов позволяет увели- рр чить помехоустойчивость устройства вследствие малой чувствительности С

ИК диодов к видимому излучению. 1ил.

Ю\

13577 1 4

35

BHHHfIH Заказ 5986/37 Тираж 677 Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для обнаружения дефектов поверхности разнообразных объектов..

Целью изобретения является повышение стабильности измерений.

На чертеже приведена структурная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит светодиодную линейную матрицу 1 из светодиодов 2, укрепленных в гнездах 3. Матрица 1 расположена вблизи от поверхности 4 контролируемого объекта вдоль его. образующей. Каждый из светодиодов 2 соединен с коммутаторами 5 и 6, управляемыми генератором 7 тактовых импульсов. С коммутатором 5 соединен генератор 8 тока, при подключении к которому поочередно каждого из светодиодов 2 вырабатываются импульсы излучения, освещающие последовательно дискретные участки контролируемого объекта 4 вдоль образующей. С коммутатором 6 соединен блок

9 обработки электрических сигналов, вырабатываемых светодиодами 2, работающими при отключении их от генератора 8 тока в фотогальваническом режиме. В данном случае светодиоды являются приемниками излучения выпускаемого соседними светодиодами и отраженного от поверхности объекта. Блок 9 обработки включает усилитель фототока, элементы фильтрации и сумматор (не показаны). С выхода блока 9 обработки сигнал поступает в блок 10 регистрации, обеспечивающий удобное для восприятия представление информации о дефектности изделия.

Устройство работает следующим образом.

Коммутатор 5, управляемый генератором 7 тактовых импульсов, осуществляет последовательное подключение каждого из светодиодов 2 к генератору 8 тока. В результате световой поток, выходящий в виде узкого пучка из гнезд 3, обегает поверхность 4 контролируемого объекта вдоль образующей. Коммутатор 6, управляемый от того же генератора 7, подключает светодиод, предшествующий или последующий по отношению к излучающему, к блокам 9 и 10 обработки и регистрации соответственно.

При последовательном переключении

5 всех светодиодов в линейке получают информацию о качестве объекта вдоль одной строки. При повороте объекта на небольшой угол циклы переключения повторяются, что дает возможность судить о качестве изготовления объекта в целом.

В основу работы устройства положен тот факт, что при облучении одного светодиода излучением другого идентичного светодиода через который протекает прямой ток, в первом светодиоде возникает фотоЭДС значительной величины. Это в наибольшей степени относится к инфракрасным свето. диодам, например АЛ 107.

Таким образом, в измерительной головке дефектоскопа функции излучения и приема осуществляют одни и те же элементы — светодиоды. Это позволяет существенно упростить устройство, Кроме того, применение ИК светодиодов в качестве оптопары позволяет увеличить помехоустойчивость устройства вследствие малой чувствительности ИК диодов к видимому излучению.,Формула изобретения

Устройство для оптико-электронной дефектоскопии, содержащее генератор тока, коммутатор, соединенный с его выходом, светодиодную линейную матрицу, генератор тактовых импульсов, подключенный к управляющему входу коммутатора, и блоки обработкИ сигнала и регистрации, соединенные последовательно, о т л и ч а ю щ е— е с я тем, что, с целью повышения стабильности измерений, оно снабжено вторым коммутатором, К-вход которого соединен с (К-1) выходом первого коммутатора и с выходом К-го светодиода линейной матрицЫ, вход блока обработки сигнала соединен с выходом второго коммутатора, а генератор тактовых импульсов подключен также к управляющему входу второго коммутатора.