Способ рентгенорадиометрического анализа вещества

 

Изобретеьше относится к ядернофизическим методам анализа вещества. Цель изобретения - повьшеьше точности анализа и определение концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вьфождения аналитического графика. Образцы с разным содержанием определяемого элемента облучают гамма-излучением, регистрируют отношение интенсивностей характеристического излучения определяемого элемента и рассеянного из- . лучения при нескольких углах падения первичного излучения в диапазоне-О - 90°. Выбирают угол падения, при котором это отношение максимально, и строят аналитический график по результатам измерений при выбранном угле падения. Исследуемое вещество облучают гамма-излучением, регистрируют отношение указанных интенсивностей и находят концентрацию определяемого элемента по аналитическому графику. Измерения проводят в области инверсии по расстоянию от исследуемого вещества. Измерение интенсивности рассеянного излучения производят в энергетическом интервале регистрации аналитической линии определяемого элемента. В интервале концентрационного вырождения аналитического графика облучение проводят под углом, близким к 90°. 1 з.п. ф-лы. i оо 00 оо оо

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ, н АВтОРсному свидетепьству ró "

СО. (2 i ) 3837837/23-25 (22) 04.01.85 (46) 23.03.88. Бюл. № 11 (71) Уральский филиал Всесоюзного научно-исследовательского и конст- рукторского института "Цветметавтоматика" (72) Я.H,Ñåìåèîâ и В.Л.Пишванов (53) 539.1.03/06 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 918828, кл. G 01 N 23/223, 1980.

Авторское свидетельство СССР № 1221559, кл. G Oi N 23/223, 1984. (54) СПОСОБ РЕНТГЕНОРАДИОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ВЕЩЕСТВА (») Изобретение относится к ядернофизическим методам анализа вещества.

Цель изобретения — повышение точности анализа и определение концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вырождения аналитического графика, Образцы с разным содержанием определяемого элемента облучают гамма-излучением, ре„„QIJ„„1383173 А 1 (51)4 G 01 N 23/223 гистрируют отношение интенсивностеи характеристического излучения определяемого элемента и рассеянного излучения при нескольких углах падения первичного излучения в диапазоне 0—

90 . Выбирают угол падения, при котором это отношение максимально, и строят аналитический график по результатам измерений при выбранном угле падения. Исследуемое вещество облучают гамма-излучением, регистрируют отношение указанных интенсивностей и находят концентрацию определяемого элемента по аналитическому графику. Измерения проводят в области инверсии по расстоянию от исследуемого вещества. Измерение интенсивности рассеянного излучения производят в энергетическом интервале регистрации аналитической линии определяемого элемента. В интервале концентрационного вырождения аналитического графика облучение проводят под углом, близким к 90о

1 з.п. ф-лы.

1383173

Изобретение относится к области флуоресцентного рентгенорадиометрического опробования вещества.

Целью изобретения является повы5 шение точности анализа и определение концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вырождения аналитического графика.

Способ реализуют с использованием рентгенорадиометрического двухканального спектрометра "Проба-6", Для возбуждения характеристического рентгеновского излучения (ХРИ) определяемых элементов используют источник у-излучения Самарий-145. Регистрацию осуществляют сцинтилляционным детектором с кристаллом NaI(T1)

При облучении исследуемого вещестВа датчик спектрометра устанавливают 20 в точке опробования непосредственно на поверхность исследуемого вещества.

С целью исключения влияния неровности поверхности зондовое устройство устанавливают в центр инверсии, область которой определяют путем измерений на разных расстояниях от исследуемого вещества. Источник излучения имеет механизм угла поворота и соответственно обладает возможностью смещения. площади засветки относительно окна детектора.

Эталонные пробы облучают под разными углами наклона источника и выбирают угол наклона, при котором отношение интенсивности аналитической линии определяемого элемента (олова) к интенсивности рассеянного излучения (фона под аналитической линией олова) максимально. Облучение эталонных проб проводят также под углом падения первичного излучения, близким к 90 .

Строят аналитические графики по измерениям, полученным на эталонных пробах с разным содержанием олова при указанных углах наклона источника (45 и 90 ). Значение интенсивности фона определяют от фонового эталона.

В области низких содержаний опре- 50 деляемого элемента аналитические графики при угле наклона источника

45 и 90 практически сливаются. В области же больших содержаний определяемого элемента тангенс угла на- 55 клона аналитического графика, измео ренного при угле 90., больше, чем при. угле в 45О, а также он сохраняет линейность в более широком диапа- . зоне содержаний.

При проведении анализа вещества неизвестного состава облучение осуществляют под углом 45 к поверхО ности вещества. Зарегистрировав.интенсивность ХРИ олова и фона, по аналитическому графику определяют концентрацию олова. Если содержание олова попадает в интервал концентрационного вырождения аналитического графика, то дополнительно облучают в вещество под углом 90 и по второму аналитическому графику находят концентрацию олова.

Способ позволяет повысить точность анализа и увеличить диапазон определения анализируемых элементов.

Формула изобретения

1. Способ рентгенорадиометрического анализа вещества, включающий облучение эталонных образцов с разным содержанием определяемого элемента первичным 1 - излучением, регистрацию отношения интенсивностей ха" рактеристического излучения определяемого элемента и рассеянного излучения при нескольких углах падения первичного излучения в диапазоне

0-90О, выбор угла падения, при котором укаэанное отношение максимально, построение аналитического графи-. ка при найденном угле падения, облучение первичным у-излучением исследуемого вещества и нахождение кон- + центрации определяемог6 элемента по зарегистрированному значению отношения .указанных интенсивностей из аналитического графика, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью повышения точности анализа, измерения проводят в области инверсии по расстоянию от исследуемого вещества, причем измерение интенсивности ðàñсеянного излучения производят в энергетическом интервале регистрации аналитической линии определяемого элемента..

2, Способ по п. 1, о тлич ающийся тем, что, сцельюопределения концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вырождения аналитического графика, исследуемое вещество облучают первичным -излучением с углом о падения, близким к 90

Способ рентгенорадиометрического анализа вещества Способ рентгенорадиометрического анализа вещества 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам изготовления излучателей для рентгенофлуоресцентного анализа

Изобретение относится к аналитической химии, конкретно к области, занимающейся изготовлением образцов для РФА

Изобретение относится к контролю термической обработки сталей и может быть использовано в черной металлургии при вьтлавке флокеночувствительных конструкционных сталей

Изобретение относится к устройствам для получения проб-излучателей для рентгекоспектрапьного анализа состава вещества.Целью изобретения является получение тонких дисковых проб с равномерной поверхностной плотностью

Изобретение относится к методам

Изобретение относится к методам контроля при обогащении кусковых гор ных по{)од гамма-абсорбционным методом

Изобретение относится к приборам , с помощью которых проводят исследования с использованием адернофизических методов

Изобретение относится к устрой- СТВШ4 для рентгено уоресцентиого анализа элементного состава и используется в области аналитической химии при анализ е материалов сложного химического состава

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх