Способ измерения контактной разности потенциалов

 

Класс 21g 13зо № 148155 ссср

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подггисная гругггта № 97

Н. В. Паро,пь и В. М. Петухов

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНТАКТНОЙ РАЗНОСТИ

ПОТЕНЦИАЛОВ

Заявлено 13 июля 1961 г. за № 738410/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 12 за 1962 r, Известны способы измерения контактной разности потенциалов электронных ламп методом тока насыщения (см. Б. М. Царев «Контактная разность потенциалов», !955 г., стр. !07) .

Недостатком этих способов является сложность процесса измерения и низкая точность. Объясняется это необходимостью проведения трудоемких графических построений и поддержания постоянной температуры катода.

Предложенный способ лишен указанного недостатка. Сущность изобретения заключается в том, что величина контактной разности потенциалов определяется как величина анодного напряжения, которое соответствует максимальному значению крутизны анодной характеристики лампы при глубоком недокале.

На чертеже изображена схема для измерения контактной разности потенциалов электронных ламп, согласно предложенному способу.

На подогреватель испытуемой лампы 1 подается напряжение, пониженное до 20 — 30% от номинального значения. В цепь анода лампы включено сопротивление 2, величина которого составляет 2 — 0 ком.

1-1а анод испытуемой лампы подается постоянное напряжение, величину которого можно плавно изменять от нуля до 2 в, и переменное напряжение низкой частоты. Переменное напряжение на анодной нагрузке лампы измеряется ламповым вольтметром 8. Для этой цели удобсн усилитель типа «28-И». Постоянное напряжение измеряется ламповы vt вольтметром 4, например, типа «А4-М2», При повышении анодного напряжения от нуля крутизна экспоненциального участка характеристики непрерывно растет и достигает максимума у точки перехода анодной характеристики в режим насыщения. Затем крутизна быстро падает, так как анодная характеристика в режиме насыщения идет очень полого. Максимум выходного напряжения соответствует максимальной кру№ 148155

Предмет изобр етения

Способ измерения контактной разности потенциалов электронныx ламп методом тока насыщения, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений при повышении их точности, величину контактной разности потенциалов определяют как величину анодного напряжения, соответствующего максимальному значению крутизны анодной характеристики лампы при глубоком недокале.

Составитель описания А. П . Бидевкин

Техред А. А. Камышникова Корректор С, Ю. Цверина

Редактор Б. В. Гурчев

Поди, к печ, 27Л -62 г. Формат бум. 70x108 /, Объем 0,18 изд. л.

Зак 5575 Тираж 1050 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр М. Черкасский пер., д. 2/б.

Типография ЦБТИ Москва, Петровка, 14. тизне характеристики. Его величина определяется с помощью выходного усилителя 5. Соответствующее этому максимуму анодное напряжение фиксируется на усилителе по пОложению его стрелки.

Предложенный способ не требует снятия характеристик по точкам и графических построений. Он позволяет отсчитывать величину контактной разности потенциалов с помощью стрелочного прибора.