Способ градуировки шкалы длин волн спектрофотометров

 

Изобретение относится к области оптики и может быть использовано для градуировки шкалы длин волн оптических приборов, в частности спектрофотометров . Целью изобретения является повышение точности градуировки и обеспечение использования одного эталона для градуировки всех типов спектрофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных-областях. При градуировке шкалы длин волн в качестве эталона используется монокристалл Nd,Gaj-0,t Спектры поглощения ионов Nd в гранатовой матрице имеют узкие интеисивньте линии поглощения в широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм. § (Л с

СОК 3 СОВЕТСКИХ

СОЦИА ЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 J 3 12

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АBTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (46) 15. 12. 90. Бюл. Ф 46 (21 ) 39911 34/24-25 (22) 21. ) 0.85 (72) Б.Н. Копко, А.О. Матковский, Д.Ю. Сугак и В.И, Литвиненко (53) 535.8(088.8) (56) Сайдов Г.В. и др. Практическое руководство по молекулярной спектроскопии. Л., иэ-во ЛГУ, 1980, с ° 135, Спектрофотометр "Specord М40".

Инструкция по пользованию. Народное предприятие ."Карл lleAcc Иена", ГДР, 1981, .с. 142. (54) СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ ШКАЛЫ ДЛИН

ВОЛН СПЕКТРОФОТОМЕТРОВ (57) Изобретение относится к области оптики и момет быть использовано для градуировки шкалы длин волн оптических приборов, в частности спектрофотометров. Целью изобретения является повышение точности градуировки и обеспечение использования одного эталона для градуировки всех типов спектрофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, блюкней и средней инфракрасных. областях. При градуировке шкалы длин волн в качестве эталона используется монокристалл Nd>Ga<0,q . Спектры поглощения ионов Nd в гранатовой матрице имеют узкие интенсивные линии поглощения в широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм.

14 15867

Формула изобретения

Составитель Н. Назарова

Техред Л.Олийнык Корректор С. Черни

Редактор Т. 1)рчинова акаэ 4335 Тираж 428

В11ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

1 1 3035, Москва, Ж" 35 ° Раушская наб., д. 4/5

Подписное

Ф

Производственно-поли. рафическое предприятие, r. ужгород, ул. Проектная, 4

Иэ: бретение относится к области оптики и может быть использовано для градуировки шкалы длин волн оптических приборов, н частности спектроS фотометров.

Целью изобретения является повышение точности градуировки шкалы для спехтрофотометрон и обеспечение воз можности использования одного этало- н для градуиронки нсех типов спектрофотометрон, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях спектра.

Воэможность использования монокрис f5 таллических пластин неодимгаллиеного граната в качестве градуировочных эталонов обусловлена особенностями спектрон поглощ .ня ионов неодима

3+

1d в гранатовой матрице, н первую 20 очередь наличием узких интенсивных линий поглощения з широком диапазоне длин волн от 0,25 до 8 мкм (4000С1250 см )

П р и и е-р. Тонкую пластину моно- 25 кристалла Nd > Ga>0» крепят в держателе, который устанавливают и отсеке для испытания образцов спектрофотоиетров. Проводят регистрацию спектра пьопускания градуировочного эталона 3р

Nd> Са,0, . В случае несоответствия между показаниями шкалы длин волн прибора и изнестным спектральным положением максимумов характеристических полос поглощения (минимумов про- >5 пускания) эталона Яй 0а О» добиваютсч путем поворота регулирово (ного нинта на рычаге призмы (или решетки) совпадения индекса на шкале длин волн прибора со эначеннеи длин волн максимумов полос поглощения (минимумов пропускания) Nd>Ga<0, . Проверку шкалы длин волн проводят по всему рабочему спектральному диапазону спектрофотометра.

Поскольку линии поглощения иона неодима имеют очень малую ширИну и большую интенсивность, точность определения положения максимума характеристической линии поглощения возрастает в 4-10 раэ,что соответственно увеличивает точность градуидовки.

Способ градуировки шкалы длин волк спектрофотометров, заключающийся в том, что регистрируют спектр градуироночного эталона и устанавливают соответствие между спектральньач положением характеристических линий поглощения эталона и показаниями шкалы длин волн спектрофототметра, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью поньыения точности градуировки и обеспечения использования одного s1aлона для градуировки всех типов спек" трофотометров, работающих в ультрафиолетовой, видимой, ближней и средней инфракрасных областях, регистрируют спектр градуировочного эталона, выполненного в ниде пластины монокристалла неоднм-галлиевого граната

Nd> Ga 0, .