Устройство контроля параметров игольно-платинных изделий

 

Изобретение относится к 1 змерйтельной технике. Цель изобретения - повышение точности и помехоустойчивости контроля, Контролируемая область изделия освещается торцовьм или боковым осветителями 1,2, Из отраженного от изделия оптического сигнала фильтром 8 вьщеляется информация,характеризующая дефект и зталон, С помощью зеркала 24 сигнал направляется в эталонный канал 10 и канальный блок 17 дефектов, из каналов которого формирователями 18-18г7 выделяет из оптического сигнала составляющие , харктеризующие определенный тип дефекта. Оптические сигналы преобразуются в электрические фотоприемниками 14, 19-19 и сравниваются в схемах 22-22 сравнения. Схемы 22-22 „ сравнения формируют положительный импульс в том случае, если степень отклонения дефекта от нормы меньше допустимой , и отрицательный импульс в противоположном случае. Аналогично ; осуществляется работа устройства при использов ании торцового канала, 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 6 01 В 21 /30

11) " 3

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АBTOPCHOMV CBMPETEllbCTBV

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4046188/24-28 (22) 31.03.86 (46) 23.02.88,Бюл. ¹ 7 (71) Всесоюзный научно-исследовательский институт трикотажной промышленности (72) Ю.Г.Горохов (53) 531.077(088.8) (56) Патент ФРГ № 1573839, кл. G 01 N 21/32, 1980. (54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ

ИГОЛЬНО-ПЛАТИННЫХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения повышение точности и помехоустойчивости контроля. Контролируемая область изделия освещается торцовым или боковым осветителями 1,2. Из отраженного от изделия оптического сигнала

„„SU„„1375954 А 1 фильтром 8 выделяется информация,характеризующая дефект и эталон. С помощью зеркала 24 сигнал направляется в эталонный канал 10 и канальный блок 17 дефектов, каждый из каналов которого формирователями 18-18„ вы- . деляет из оптического сигнала составляющие, харктеризующие определенный тип дефекта. Оптические сигналы преобразуются в электрические фотоприемниками 14, 19-19„ и сравниваются в схемах 22-22 „ сравнения. Схемы 22-22 „ сравнения формируют положительный импульс в том случае, если степень отклонения дефекта от нормы меньше допустимой, и отрицательный импульс

-С2 в противоположном случае. Аналогично е осуществляется работа устройства при использовании торцового канала. 1 ил. /

13?5954

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля параметров игольно-платинных изделий.

Целью из обр ет ения . является повышение точности и помехоустойчивости контроля за счет выделения из оптического сигнала информационных составляющих .дефекта и эталона. 10

На чертеже приведена блок-схема устройства.

Устройство содержит торцовый 1 и боковой 2 осветители, каждый из которых состоит из объектива и источника 15 света, торцовый 3 и боковой 4 анализаторы, каждый из которых состоит из объектива и точечного фотоприемника, блоки 5 и 6 управления торцовым 1 и боковым 2 осветителями, торцовый 7 и 20 боковой 8 пространственные фильтры, торцовый 9 и боковой 10 эталонные каналы, каждый из которых состоит из оптически связанных формирователя 11 (12) эталонного распределения интенсивности, координатно-чувствительного фотоприемника 13(14) и нормирователя

15(16) эталонных каналов, и-канальный блок 17 дефектов, каждый из и каналов которого содержит оптически связанные формирователь 18 распределения интенсивности сигнала дефекта и координатно-чувствительный фотоприемник 19, нормирователь 20, первую группу схем 21 сравнения, число кото- 35 рых равно числу каналов блока 17 дефектов и первый вход каждой из которых связан с выходом нормирователя 20 блока 17 дефектов, а второй вход — с выходом нормирователя 15 торцового 40 эталонного канала 9, вторую группу схем 22 сравнения, число которых равно числу каналов блока 17 дефектов и первый вход .каждой из которых связан с первым входом первой группы 45 схем 21 сравнения, а второй вход— с выходом нормирователя 16 бокового эталонного канала 10, коммутатор 23, входы которого связаны с выходами первой и второй групп схем.21 и 22 сравнения, полупрозрачные зеркала 24, предназначенные для оптическ о сопряжения торцового 1 и бокового 2 осветителей, торцового 3 и бокового 4 анализаторов, торцового 9 и бокового 10 эталонных каналов и и каналов блока 17 дефектов, непрозрачное зеркало 25, оптически связанное с боковым пространственным фильтром 8.

Устройство работает следующим образом.

Перед началом работы производится настройка устройства: устанавливаются с помощью коммутатора 23 комбинации и последовательность работы эталонных каналов и каналов дефектов.Необходимость различных комбинаций работы каналов вызвана наличием большо- го числа видов дефектов на контролируемом изделии (трещин, царапин, сколов, ржавчины, заусенцев и др.).Каждое конкретное состояние коммутатора 23, установленное перед началом работы, ориентирует работу данного устройства на контроль определенного вида дефекта. Коэффициенты усиления нормирователей 15 и 16 устанавливаются также в зависимости от вида дефекта и степени допустимого его отклонения от нормы; После настройки изделие подается в зону контроля, и контролируемая область облучается одним. из осветителей (1 или 2). Освещение контролируемой поверхности торцовым 1 или боковым 2 осветителями, обуславливается видом дефекта или типом конт: ролируемой поверхности с целью получения максимальной пространственной модуляции оптического сигнала. Если один из каналов выбран для анализа дефектов, другой канал может быть использован для анализа отражающей способности. В этом случае сигнал от детали принимается за счет отражения от одного из полупрозрачных зеркал 24, преобразуется точечными фотоприемника ми торцового 3 или бокового 4 анализаторов в электрический сигнал и через блоки 5 или 6 управляет яркостью источников света торцового 1 или бокового 2 осветителей. Предположим, что для контроля дефекта используется боковой канал. В этом случае сигнал осветителя 2 отражается от иэделия и через полупрозрачное 24 и непрозрачное 25 зеркала попадает в боковой пространственный фильтр 8, пропускающий на выход только те части сигнала, которые являются характерными для эталона и дефекта. С выхода фильтра 8 оптический сигнал разделяется с помощью зеркала 24 на два пучка, один из которых направляется в боковой эталонный канал 10, а другой - в и-канальный блок 17 дефектов. Формирователь 12 выделяет из сигнала ту часть света, которая присуща эталону, 1375954 приемник 14 преобразует ее в электрический сигнал, а нормирователь 16 усиливает этот сигнал. Второй пучок света от зеркала 24 с помощью зер5 кал распределяется между каналами блока 17 дефектов. В каналах с помощью формирователей 18 -18" выделяется часть оптического сигнала, присущая дефекту, приемники 19 -19" преобразуют оптический сигнал в электрический, нормирователи 20 -20 " усиливают сигнал в соответствии с нормой дефекта. Затем сигнал с выхода эталонного нормирователя 16 сравнивается на схе-15 и мах 22 -22 со всеми выходными сигналами нормирователей 20 -20", и в зависимости от этих сигналов на выхо.дах схем 22 -22" сравнения появляются положительный или отрицательный им- 20 пульсы. Положительный импульс формируется на выходе схемы 22 сравнения в том случае, если степень отклонения

- дефекта от нормы меньше допустимой, а отрицательный — больше, т.е. при 25 наличии брака на выходе схемы сравнения формируется отрицательный сигнал. Коммутатор 23 пропускает на выход сигнал только от той схемы 22 сравнения, канал которой задействован З0 для обнаружения данного дефекта. Для обнаружения специфического дефекта (или группы дефектов) могут быть задействованы несколько каналов. В этом случае факт наличия дефекта определяется по комбинации сигналов.

Бып рассмотрен процесс обнаружения дефекта с помощью бокового эталонного канала. То же самое происходит при обнаружении дефекта с помощью 40 торцового канала, причем не исключена поСледовательная или параллельная работа обоих каналов в сложной ситуации по обнаружению дефекта или комбинации дефектов. 45

Таким образом, введение дополнительных блоков и связей позволяет увеличить точность и помехоустойчивость устройства, так как в устройстве анализ ведется только по тем составляющим оптического сигнала, которые несут информацию о дефекте, что является залогом повышения точности. Помехоустойчивость в устройстве увеличивается за счет того, что из анали55 за исключаются те части сигнала, которые не несут информации об эталоне и дефекте и являются также источниками помех.

Формула изобретения

Устройство контроля параметров игольно-платинных изделий, содержащее первый оптический канал, предназначенный для размещения по нормали к контролируемой поверхности и состоящий из оптически связанных осветителя и фотоприемника, блок обработки, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности, оно снабжено вторым оптическим каналом, предназначенным для размещения под углом к контролируемой поверхности и состоящим из оптически связанных осветителя и фотоприемника, блоками управления осветителями первого и второго оптических каналов, соответственно, первым и вторым пространственными фильтрами, оптически связанными с первым и вторым оптическими канала. ми соответственно, первым и вторым эталонными каналами, каждый из которых состоит из оптически связанных формирователя эталонного распределения интенсивности и координатно-чувствительного фотоприемника, нормирователя, вход. которого связан с выходом координатно-чувствительного фотоприемника, первый и второй эталонные каналы оптически связаны с первым и вторым пространственными фильтрами соответственно, п-канальным блоком дефектов, каждый канал которого оптически связан с первым и вторым пространственными фильтрами и состоит из оптически связанных формирователя распределения сигнала дефекта и координатно-чувствительного фотоприемника, нормирователя дефекта, вход которого связан с выходом координатно-чувствительного фотоприемника, а блок обработки выполнен в виде первой и второй групп схем сравнения, число которых в каждой из групп выбрано равным числу каналов блока дефектов, коммутатора, первый вход каждой из схем сравнения первой группы связан с выходом нормирователя дефекта соответствующего канала блока дефектов и с первым входом каждой из схем сравнения второй группы, второй вход каждой из схем сравнения первой группы подключен к выходу нормирователя первого эталонного канала, второй вход каждой из схем сравнения второй группы связан с выходом нормирователя второго эта5 1375954 лонного канала, выходы каждой из схем сравнения первой и второй групп связаны с входами коммутатора, первый и второй выходы которого подклю-. чены к первым входам блоков управления осветителями первого и второго оптических каналов, вторые входы которых подключены к выходам фотопри.

5 емников первого и второго оптических каналов.

Составитель О.Несова

Техред М.Ходанич, Редактор В.Бугренкова

Корректор С.Шекмар

Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 7б9/41

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород,ул.Проектная, 4