Способ определения белизны эмалевого покрытия

 

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу. Целью изобретения является осуществление возможности определения белизны до нанесения покрытия. В качестве измеряемого параметра берется соотношение фаз анатаза и рутила в титановой эмали, |а также ot,-кварца и кианита в грунте по интегральным интенсивностям дифракционных линий этих фаз, после чего сравнивают замеренные параметры с эталонными образцами. Способ позволяет учесть влияние структуры поверхности и фазового состава на отражающую способность покрытия из белой титановой эмали, учитывает рлияние фазового состава грунта, не связан с необходимостью замера толпцшы тонкого слоя и устраняет расхождение восприятия белизны эмалевого покрытия глазом и показаниями прибора. 1 ил. 1 табл. (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (j9> SU (II) д11 4 С 01 Н 23/20

А3

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Cl

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО-ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

I (21) 4177091/23-25 (22) 09. 01. 87 (46) 30. 10.88. Бюп. Р 40 (71} Череповецкий металлургический комбинат им. 50-летия СССР (72) В.И.Славов, С.Н.Костылев, В.Н.Задорожная, В.И.Семериков, К.Х.Хачпанян и Л.И.Щипакина (53) 621.382 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

11 1144035, кл. G 01 N 21/55, 1983. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ БЕЛИЗНЫ Э% ЛЕВОГО ПОКРЫТИЯ (57) Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу. Целью изобретения является осуществление возможности определения белизны до нанесения покрытия. В качестве измеряемого параметра берется соотношение фаэ анатаза и рутила в титановой эмали,, а также .-кварца и кианита в грунте по интегральным интенсивностям дифракционных линий этих фаз, после чего сравнивают замеренные параметры с эталонными образцами. Способ позволяет учесть влияние структуры поверхности и фазового состава на отражаю шую способность покрытия из белой титановой эмали, учитывает влияние фазового состава грунта, не связан с необходимостью замера толщины тонкого слоя и устраняет расхождение вос" приятия белизны эмалевого покрытия глазом и показаниями прибора. 1 ил.

1 табл.

1434337

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и може т быть использовано для объективной оценки белизны покрытия из титановой эмали.

Цель изобретения — осуществление возможности определения белизны до нанесения покрытия.

На чертеже представлена номограмма, позволяющая реализовать предлагаемый способ и получить стальную эмалированную посуду требуемого качества.

Сущность предлагаемого способа заключается в том, что в качестве измеряемого параметра берется соотношение фаз анатаза и рутила в эмалевом покрытии из белой титановой эмали, определяемой по соотношению интегральных интенсивностей дифракцион-2р ных линий этих фаз. Дополнительно измеряют соотношение фаз oL -кварца и кианита в грунте по интегральным интенсивностям дифракционных линий этих фаэ, после чего сравнивают замеренные 25 параметры с параметрами эталонных образцов.

Номограмма увязывает между собой четыре величины: соотношение анатаза и рутила в белой покровной эмали, со-30 отношение оС -кварца и кианита н грунте, белизну эмалевого покрытия и коэффициент диффузного отражения .(КДО).

Предлагаемый способ осуществляют следующим образом.

При производстве больших партий эмалированной посуды предварительно готовят образец из белой титановой эмали данной партии и рентгенографически определяют в нем соотношение фаз анатаза и рутила. Затем снимают рентгенограмму образца грунта. Если отношение интегральных интенсивностей дифракционных линий

I,g (d п = 3 3431 считается кварцевым и определение белизны получаемого покрытия производят при помощи линии I номограммы. В противном случае грунт считается кианитовым и определение белизны произво50 дят при помощи линии II.

Если белизна находится в областях

1-3, производят воздействие на технологические параметры (температура

55 плавки и обжига, химический состав) с цепью пс>г|адания н области 4 -5 помог раммы. Затем по фотоэлектрическому прибору определяют КДО данной партии эмали и при помощи его контролируют белизну эмали в течение смены, производя необходимые воздействия на технологический процесс (иэменяя скорость конвейера, толщину покрытия и т.п.) с целью максимального приближения КДО к определенному заранее значению и получению тем самым белизны эмалевого покрытия в области 4-" номограммы.

Области белизны с 1 по 5 опреде— лялись экспертным методом ГОСГ

23554.1-79, В таблице приведены результаты экспертной оценки белизны белой титановой эмали (I„ — интегральная интенсивность пинии анатаза на рентгенограмме; I — интегральная интенсивность линйи рутила на рентгенограмме), Достоинством способа является то, что он учитывает влияние структуры поверхности и фазового состава на отражающую способность белой титановой эмали, учитывает влияние фазового состава грунта, не связан с необходи— мостью замера толщины тонкого слоя и устраняет расхождение восприятия белизны эмалевого покрытия глазом и показаниями прибора. формула и з о б р е т е н и я

Способ определения белизны эмалевого покрытия на грунтованном изделии, включающий определение физических параметров белой титановой эмали и сравнение их с параметрами эталона, отличающийся тем, что, с целью осуществления возможности определения до нанесения покрытия, рентгенографически по интегральным интенсивностям линий фаз определяют соотношение фаз анатаза и рутила в белой титановой эмали и соотношение фаз М -кнарца и кианита н грунте с учетом величины соотношения фаз о кварца и кианита в грунте, по соотношению фаз анатаза и рутила н белой титановой эмали определяют белизну эмалевого покрытия, используя предварительна построенную номограмму..

l 434337

Белизна образцов, определенная экспертным методом

Отношение интегОбласть на н омо г ра мме таза и рутила

Цвет образца белый с выраженным серым оттенком — --а0 45 да

Цвет эмали белый с сермы или желтым оттенком

0 45 .- ---- а l 20 да

Э Z У

Цвет эмали белый с небольшим серым или желтым оттенком

Цвет эмали белый д» вЂ” — 9,0

Цвет эмали белоснежный,70 ь» бб 01 ur t 7SZ Scree

Сооаношениеинтееральных ин ррисаВносвей JE&fud Г 4УилизЯ крущщ

áÐ

5|× Я Чб

97

@4 38 ральных интенсивностей линий ана1 20 с — »6 3 34

У д

3 35 <-- — 9 0 д»

1 с ф

Способ определения белизны эмалевого покрытия Способ определения белизны эмалевого покрытия Способ определения белизны эмалевого покрытия 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к нейтро18 10 нографии и предназначено для измерения дифракционной картины, возникающей при рассеянии нейтронов излучаемым объектом

Изобретение относится к физическим методам исследования поверхности твердого тела, в частности методам обратного рассеяния ионов, и может использоваться для изучения адсорбционных явлений

Изобретение относится к устройствам для определения параметров кристаллической решетки, используе мых при рентгеноструктурном анализе твердых тел в магнитном поле

Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрии

Изобретение относится к области средств контроля строительных ма:- териалов, в частности свойств высококальциевой золы, используемой в бетонах и растворах

Изобретение относится к области научного приборостроения и может использоваться для неразрушакщего троля макронапряжений в узлах и деталях машин и механизмов

Изобретение относится к рентгенографическим способам исследования полимерных веществ

Изобретение относится к физике твердого тела и кристаллооптике, а именно к способам определения мозаичности монокристаллов

Изобретение относится к технике точного спектрального приборостроения

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх