Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов

 

Изобретение относится к технике лабораторных испытаний напряженного состояния тонкостенных конструктивный элементов и может быть использовано для оценки прочностных свойств тонкостенных пластин. Целью изобретения является повышение точности и оперативности путем автоматизации графоаналитической обработки картины полос на табло Это достигается наложением на табло двух пар взаимно перпендикулярных пластин с прорезями и шкалами, что в совокупности с электронной схемой позволяет автоматизировать процесс обработки муаровых картин. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН (19) 111) G 01 В-.11/16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 1260675 (21) 4200680/25-28 (22) 27.02.87 (46) 07.11.88. Бюл. У 41 (72) А.С.Кочетов и В.К.Нефедьев (53) 620.178(088.8), (56) Авторское свидетельство СССР

У 1260675, кл. G 01 В 11/16, 1985. .(54) МУАРОВАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДО- .

ВАНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ. ТОНКОСТЕННЫХ ЭЛЕ-.

МЕНТОВ (57) Изобретение относится к технике лабораторных испытаний напряженного состояния тонкостенных конструктивны)с элементов и может быть использовано для оценки прочностных свойств тон .костенных пластин. Целью изобретения является повьппение точности и оперативности путем автоматизации графоаналитической обработки картины полос на табло. Это достигается наложением на табло двуХ пар взаимно перпендикулярных пластин с прорезями и шкалами, что в совокупности с электронной схемой позволяет автоматизировать про цесс обработки муаровых картин. 3 ил.

1435934

Изобретение относится к технике лабораторных испытаний напряженного состояния тонкостенных конструктивных элементов и является усовершенствова5 нием установки по авт. св. Р 1260675.

Целью изобретения является повы-. шение точности и оперативности путем автоматизации графоаналитической обработки картины полос на табло.

На фиг. 1 - 3 изображена кинемати ческая схема установки с раскрытием ее функциональных блоков.

Установка содержит вертикальный и горизонтальный цилиндрические экраны 1 и 2, на внутренней поверхности которых нанесены полосы растра, тон-, костенный испытуемый образец 3, исполнительный электродвигатель 4 нагруэочного устройства, раму 5 муаро- 20

Вои, установки, шаговые электродвигатели 6,7 и 8,9 устройств перемещения вертикального 1 и горизонтального

2 экранов соответственно с ширинойшага (хода), равной расстоянию между полосами растра экранов 1 и 2, объ.ектив 10, оптическая ось которого направлена на испытуемый образец 3, матрицу 11 с и фотореле, регистр 12 с двумя ячейками памяти и с вторым 30

"Сброс", распределитель 13 (шаговый искатель) на пять выходов, тактовый генератор 14, источник 15 электрической энергии, табло 16 с и световыми индикаторами, управляемый пере:.ключатель 17, линию 18 задержки, временной интервал задержки которой равен времени перемещения экрана 1 (или 2) за один такт времени работы тактового генератора 14, блок 19 и 40 схем И на два входа каждая, неподвижную направляющую 20, две пары пластин 21, 22 и 23, 24, подвижных в двух взаимно перпендикулярных направлениях с продольной прорезью и линейной 45 шкалой каждая.

На фиг. 2 - 3 приведены приращения в вертикальном 25 и горизонтальном

26 направлениях (по оси У и Х соответственно), зажим 27 и направляю50 щая прорезь для перемещения пластин

21 и 22 относительно пластин 22 и 24 и фиксирования значений приращений, 28 и 29 — координатные оси У 28 и

У 55

Х 29, включенные индикаторные световые лампочки 30 (индикаторы), контрольная точка 31 на полосе Муара, величина 32 ошибки в определении yrла наклона касательной к контрольной точке 31, набор потенциометрических преобразователей 33 и 34 с заэемленным редним отводом каждый, панели 35 и 36 коммутационных гнезд, инверторы

37 и 38, суммирующие усилители 39 и

40, измерительный усилитель 41, сдвоенный переключатель 42, вольтметр 43 с симметричной относительно нуля шкалой, переменные резисторы 44-48.

Установка работает следующим образом.

Тактовый генератор 14, питаемый электрической энергией от источника

15, вырабатывает управляющий импульс, который поступает на вход регистра 12 и запоминается в нем, а также. поступает через распределитель 13 на соответствующие входы двигателей 4 и 69 для нагружения испытуемого образца

3 и для перемещения экранов 1 и 2 соответственно. Кроме того, тактовый импульс с выхода генератора 14 поступает на электрические входы и фотореле матрицы 11.

В зависимости от вида исследований деформаций тонкостенного образца 3 в первом такте может отсутствовать усилие нагрузки на этот образец 3 либо одно из перемещений экранов 1 или 2, определяемое электрической схемой распределителя 13.

При поступлении управляющих электрических сигналов на фотореле матрицы 11 часть их срабатывает под действием светового потока от отражающих поверхностей экранов 1, 2 и поверхности испытуемого образца 3 при наложении светового изображения чередующихся муаровых полос растра. Выходные сигналы включенных (сработанных) фотореле матрицы 11 поступают в линию 18 задержки.

При появлении тактового импульса на выходе генератора 14 происходит переполнение ячеек памяти регистра 12.

С помощью выходного сигнала регистра

12 срабатывает управляемый переключатель 17, который подготавливает к работе схему И блока 19. Кроме того, второй тактовый импульс с выхода генератора 14 повторно подготавливает к работе все фотореле матрицы 11, которые срабатывают под действием светового потока от сформированных муаро" вых полос при перемещении экранов 1 или 2 с полосами растра или при нагру1435934 жении испытуемого образца 3. Выходные сигналы включенных фотареле мат" .рицы 11 поступают вновь на входы линий 18 задержек и управляемых пере"

5 ключателей 17. С выходов управляемых переключателей 17 . сигналы поступают на одни входы схемы И блока 19, на другие входы. которых к этому моменту времени поступают сигналы с вы- 10 ходов линий 18 задержек.

Сработают те схемы И блока 19, на оба входа которых будет подано напряжение с выходов фотореле матрицы

11. 15

Под действием выходных сигналов схем И блока 19 включаются соответствующие лампочки 30 табло 16 в виде муаровых полос с высокой степенью контрастности, определяемой разностью20 светового потока ат светящихся и несветящихся индикаторов табло 16.

Для повышения точности и оператив- ности графоаналитической обработки муаровой картины, высвеченной на таб-25 ло 16, предлагается с помощью направляющих пластин 21, 22 и 23, 24 измерять величины приращений в направлении осей 28 и 29. С этой целью при заданном фиксированном приращении просматривают в прорези направляющих пластин высвеченные лампочки 30 и измеряют (отсчитывают) расстояние между ними в делениях линейных шкал этих направляющих пластин.

Для каждой муаровой паласы с помощью соответствующего патенциометрическаго преобразователя 33 (34) перемещают движок подвижного отвода., на величину ранее измеренного рассто- 40 яния с учетом знака (направления перемещения относительно неподвижнога среднего заземленного отвода). Далее на коммутационной панели 35 (36) устанавливают коммутационные сдвоен ные вилки в те гнезда, положение которых относительно осей 28 и 29 соответствует выбранным направлениям измерения напряжений б„и G .

Электрический сигнал в виде разности напряжений двух соседних потенциометров поступает на соответствующий вход суммирующего усилителя 39, 40.

Формирование сигнала разности обеспечивается инвертарами 37 и 38, которые включены в электрическую цепь од55 ной из сдвоенных коммутационных вилок.

Величина коэффициента передачи суммирующих усилителей 39 и 40 регулируется с помощью переменных резисторов

44 — 47 и коммутируется с помощью сдвоенного переключателя 42, что обеспечивает техническую реализацию умножения постоянной величины (коэффициента Пуассона) на соответствующую частную производную второго порядка.

Выходные сигналы усилителей 39 и

40 после суммирования измерительным усилителем 41 предъявляются с помощью: вольтметра 43. В одном из положений переключателя 42 производится отсчет показаний с вольтметра 43 величины напряжения б„, а в другом — величины напряжения б . Регулировка величины коэффициента р интенсивности распределенной нагрузки осуществляется с помощью переменного резистора 48.

Для изменения величины приращений в вертикальном 25 и горизонтальном

26 направлениях одни из направляющих пластин 21 и 23 перемещают относительно направляющих пластин 22 и 24 и фиксируют это изменение с помощью зажимов 27. С уменьшением величин приращения повышается точность вычислений 5 и б„.

Формула из обре тения

Муаровая установка для исследования деформаций тонкостенных элеменТоН по авт. св. Р 1260675, о т л и— ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повьппения точности и оперативности путем автоматизации графоаналитическай обработки картины полос на табло, она снабжена двумя парами пластин с линейными шкалами и продольными прорезями каждая, установленными на табло с возможностью перемещения во взаимно перпендикулярных направлениях, вольтметром, источником постоянного тока с двумя клеммами и заземленной нейтралью, двумя коммутационными панелями с одинаковым наба" ром пар входных и выходных гнезд каждая, двумя суммирующими усилителями с изменяемым коэффициентом передачи, связанными своими входами с выходны1" ми гнездами соответствующей коммутационной панели, двумя наборами потенциометрических преобразователей по числу входных гнезд соответствующей коммутационной панели, имеющими заземленные средние отводы каждый и связанными своими подвижными отвода5 1435934 6 ии с соответствующими входными гнез-" щнми входами парой сдвоенных коммутадами коммутационной панели, а крайни- ционных вилок и измерительным усилими отводами - с соответствующими телем, связанным своими входами с выклеммами источника тока, двумя инвер- ходами суммирующих усилителей, а вы" торамИ, связанной с их соответствую- ходом — с вольтметром.

22

1435934

Составитель В.Чернов

Редактор С.Пекарь Техред Л.Сердюкова Корректор С.Черни

Заказ 5634/39 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул, Проектная, 4

Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов Муаровая установка для исследования тонкостенных элементов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к исследованию деформаций, перемещений, давления оптическими методами

Изобретение относится к опреденапряжений на моделях конструкций поляризационно-оптическим методом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения остаточных напряжений в пластинах

Изобретение относится к измер ительной технике и может быть использовано при исследовании деформированного состояния в процессе прессования материалов методом голографической интерферометрии

Изобретение относится к исследованию напряжений и деформаций в конструкциях из анизотропных материалов на моделях поляризационно-оптическим методом

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано для измерения деформаций низкомодульных движущихся материалов, в частности резиновых изделий

Изобретение относится к измери тельной технике и может быть использовано для измерения деформаций дви жущихся объектовр Целью изобретения является расширение технологических возможностей путем измерения деформаций движущихся объектов

Изобретение относится к измерительной технике для градуировки измерителей и может быть использовано при дистанционном измерении параметров механических колебаний в труднодоступных местах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения толщины покрытий оптическими методами

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх