Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка

 

Изобретение относится к измерительной технике и может использовано для измерения параметров линейной поляризации светового пучка. Цель изобретения - повьшение быстродействия . Устройство состоит из анализатора 1 , выполненного в виде конуса из диэлектрического материала с углом Брюстера при основании. Анализатор I помещен в отражатель 2, выполненный в виде шарового сегмента с прозрачньм основанием и входным отверстием для прохождения светового пучка. За основанием отражателя расположено многоэлементное регистрирующее устройство 3, выполненное в виде многоэлементного фотоприемника. 1 з,п. . ф-лы, 3 ил. Л ю

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСГВБЛИН

„„Я0„„1441209 А 1 (Ю4 G Ol J 4/04

Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4218505!31-25 (22) 26.01 87 (46) 30,11.88. Бюл. У 44 (7l) Институт физики АН БССР (72) А.И.Колесник и А.Б.Гаврилович (53) 535.8(088,8) (56) Кожевников В.М., Кружалов С.В., Пахомов Л.М. Квантовая электроника. труды ЛПИ Ф 344, изд-во ЛПИ, 1975, с. ЗЗ, Ландсберг Г.С. Оптика. М.: Наука, 1976, с. 374-377. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМКРКНИЯ ПАРАмктРОВ линкйной поляРизАпии свктовОГО

ПУЧКА (57} Изобретение относится к иэмерительной технике и может быть использовано для измерения параметров линейной поляризации светового пучка. ЦелЬ изобретения — повышение быстродействия. Устройство состоит из анализатора 1, выполненного в виде конуса as диэлектрического материала с углом

Брюстера при основании. Анализатор 1 помещен в отражатель 2, выполненный в виде шарового сегмента с прозрачньаа основанием и входным отверстием для прохождения светового пучка. Ва основанием отражателя расположено многоэлементное регистрирующее устройство 3, выполненное в виде многоэлементного фотоприемника. 1 э .и. ф-лы, 3 ил.

1441209

Изобретение относится. к измерительной технике и может быть использовано для измерения параметров линейной поляризации светового пучка.

У 5

Цель изобретения - повышение быстродействия.

На фиг. 1 приведена схема предложенного устройства; на фиг ° 2 — расположение фотоприемника; на фиг,3 — 10 угловая. зависимость интенсивности сигнала, регистрируемого элементами фотоприемника.

Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка содержит анализатор 1, отражатель 2 и регистрирующее устройство

3, Анализатор I представляет собой конус, изготовленный из оптически непрозрачного диэлектрического матерна- 20 ла с углом Брюстера при основании.

Отражатель выполнен в виде шарового сегмента, на внутреннюю поверхность которого нанесено зеркальное покрытие с коэффициентом отражения 0,99. 25

Оси симметрии отражателя и анализатора совпадают, Шаровой сегмент в верхней части для прохождения светового пучка имеет отверстие диаметром, не превышающе диаметр основания кону- 30 са, Регистрирующее устройство расположено эа отражателем перпендикулярно его оптической оси, В качестве регистрирующего устройства используется на-. бор линейных многоэлементных приемни- 35 ков, расположенных по сторонам многоугольника АВСЭЕР (фиг.2).

Выбор соотношения для определения параметров элементов устройства в ме- 40 ридиональной плоскости проводится на основании требования схождения лучей в области регистрирующего устройства

3 (фиг. 1). В саггитальной плоскости требования к параметрам устройства согласуются с условием телескопичного хода лучей а= (l)

Zcoso(g

50 где d< — расстояние. между точками отражения центрального луча (отличен стрелкой) на поверхностях конуса и сферического отражателя; 55 г и R — соответствующие радиусы кривизны указанных отражающих поверхностей;

- угол Брюстера (tg d =n, nпо к as а тель пр еломлення ма териала конуса).

В конкретной реализации устройства радиус R сферической поверхности и положение ее центра на оптической оси устройства удовлетворяют условию равенства высот конуса h и шарового сегмента h. Диаметр основания шарового сегмента d связан с его высотой

h и радиусом R соотношением

d=2h — — l .

h (2) Подставив в формулу (2) значение Ь=

=d.<(tgds)/2, получим соотношение (3) а=а„ tgp, связывающее диаметр d основания сферического отражателя с его радиусом R, диаметром d < основания конуса н углом Брюстера a(a. Диаметр отверстия в верхней части отражателя выбран равным (нли несколько меньше) диаметру основания конуса, чтобы весь световой пучок падал на боковую поверхность конуса.

В конкретной реализации устройства материалом для изготовления конуса служит поглощающий диэлектрик типа стекла НС-ll с показателем преломления n=l,51, Угол прн основании конуса равен углу Брюстера at =56 33 .

Диаметр основания конуса ад=26 мм.

Диаметр основания сферического отражателя а=48 мм. Радиус поверхности сферического отражателя R=25 мм. Регистрирующее устройство иэ набора ли-. нейных многоэлементных приемников располагают на удалении 12 мм от основания.

Устройство работает следующим образом.

Параллельный лучок света направляется на конический анализатор 1 вдоль его геометрической оси. Угол падения света на боковую поверхность конуса обеспечивается при этом равным углу Брюстера, вследствие чего отраженное излучение полностью поляризуется. Прн этом колебания электрического вектора лежат в плоскости, перпендикулярной плоскости падения пучка. Отражатель 2 изменяет направление распространения падающего на него света и преобразует его в пучок, сходящийся в плоскости регистрирующего устройства, Таким образом, в

1441209 з 4 плоскости регистрирующего устройства осуществляется засветка светочувст- ройства по сравнению с прототипом яввительных элементов в кольцевой зоне ляется повьппение быстродействия в

4 радиусом r. Ширина кольца определя" 5 10 раз, точности HsMepeHHH степени ется угловой расходимостью падающего поляризации в 2 раза, азимута поляриизлучения. В случае использования зации в 5-6 раз. Кроме того, воэможнабора линейных фотоприемников шири- но использование его в качестве пона кольцевой зоны увеличивается до ляриэатора для получения светового оптимальной величины путем расфокуси- 10 пучка в виде цилиндра, имеющего в ро к овки светового пучка (фиг. 2). своем сечении кольцо, в котором наРаспределение интенсивности света правление колебаний электрическог ого

I(d) вдоль кольцевой зоны отражает вектора расположено параллельно касостояние поляризации исследуемого сательной. светового пучка. В случае естествен- 15 ного света X(d)=const. В случае пол- ф о р м у л а и э о б р е т е н и я костью поляризованного пучка с фиксирова анньи значением азимута поляриза- 1. Устройство для измерения пара-. етовоции зависимость I(l) подчиняется зако- метров линейной поляризации светов ну Иалюса I(af}=I< cos at (фиг.3). По 20 го пучка, содержащее оптически свяугловому положению a минимума I(a() занные и последоватЕльно расположенопределяется азимут поляризации све- ные по ходу пучка анализатор, выполго пучка относительно плоскости ненный с отражающей поверхностью, тово п е еренции PP. Степень поляризации расположеннои под углом Hp p световпго пучка определяется по фор- регистрирующее у

25 т ее стройство, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью муле повышения быстродействия, анализатор

Хнаи.- Х мин выполнен в виде конуса из диэлектрики «а Тмм ческого материала с углом Брюстера

Погрешность определения степени 30 нри основании, конус расположен в поляр изации зависи« оТ погрешности отражател р р е с и оз ачным основанием, и I и составляет при этом отражатель выпол фор и и со неи в ме измерения I„ и „„„ и со ента Ось симметрп4 ко0 57. Точность определения азимута шарового сегмента, Ось сим ры« поляризации зависит от контрастной . ° ОЧНОСТЬ ОПР Д торог о совп ает с осью конуса, осад он са становлено на прочувст вительности элементов фотопри- 35 нование к у у вхо or o емника и их числа, пр иходящего на зрачном основании, диаметр дн единицу длины кольцевой зоны. При ис- отверстия шарового сегмента не превыпользовании для регистрации комплекта шает ди р т амет а основания конуса, а выиз шести лине ных и фотоприемников ти- сота шарового сегмента не превышает па К 1200 цЛ 2 с 2048 элементами каж- 40 высоты конуса, причем регистрирующее нено в виде многодый на кольцевой зоне радиусом r= устройство выполнено ид

=20 MM погрешность определения азиму- элементного фотоприемника. та поляризации Ы составляет 10 для . p (2 Уст ойство пО и. l 0 т л иполностью поляризованного света и чающ е е с я тем, что, с целью

30 для частично поляризованного. 45 повьпп ения точности измерений, диаметр

Конструкция устро ства, и выполнен- d, прозрачного основания определяется ная в виде оптически связанных кони- формулой ческого анализатора и сфьрического

4R ) 1/2 отражателя, обеспечивает возможность а=а„ср од дновременной засветки всех фотопри- 50 т и поверхноемных элементов регистр т ирующего уст- где R - радиус отражающе я че быстродейст- сти шарового сегмента; ройства, благодаря чему ыс

d. — диаметр основа но ания конуса

Ф вие излучения параметров поляризации

-<о 10-3 с(6 - угол Брюстера. достигает 10 " - 10 с.

144!209

Составитель В.Рандошкин

Техред Л.Сердюкова Корректор М.Иаксимишинец о

Редактор И.Келеиеш

Тираж 499 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж"35, Раушская наб., д, 4/5

Заказ 6277/43

Производственно-полиграфическое предприятие, r, Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано в технике измерений поляризационных характеристик оптического излучения

Изобретение относится к об.части оптического ирибо)остр()ения, конк 1етиее к ойт и ко-а,те кт ройным ноляризаинони ьи у стройства.м, и .может Спл 1 исг о:1ьз()15аи() в ана- .титичеекой .химии, 1И1Н1ево1 1 микробиоло1 ичеекои нромыиь 1еиности, а также в медицине

Изобретение относится к области оптики, в частности к устройствам для диагностики плазмы, и мояет быть использовано дпя измерения переменного по времени угла поворота плоскости поляризации в плазме

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к оптико-электронным поляризационным устройствам, предназначенным для анализа состава и строения вещества, и может быть использовано в оптической технологии, аналитической химии, микроэлектронике, пищевой и микробиологической промышленности

Изобретение относится к области аналитического приборостроения и может быть использовано для контроля качества выпускаемой продукции, например, в оптико-механической, микроэлектронной, пищевой, химической, микробиологической промышленности, а также в медицине

Изобретение относится к поляризационной оптике и может использоваться в эллипсометрии

Изобретение относится к технике оптических измерений и может быть использовано в установках по диагностике физических объектов оптическими поляризационными методами

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к технике измерения оптического вращения плоскости поляризации света гироанизотропными средами

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх