Устройство для измерения поглощения вещества

 

Изобретение относится к лазера. ной спектроскопии и может использоваться при создании вьюокочувствительных спектрометров для определения поглощательных свойств вещества Целью изобретения является повышение чувствительности устройства. Устройство содержит два резонатора - активный (лазерный) и.пассивньЙ (в последнем расположении кювета с исследуемым веществом). За счет размещения .в пассивном резонаторе преобразователе частоты удается развязать активный и пассивный резонаторы, осуществив независимый друг от друга выбор оптимальнык зеркал для зтих резонаторов. Это приводит к увеличению числа проходов через вещество и, как следствие, повышает чувствительность устройства. 1 ил. сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

РЕСПУБЛИН

am<>an (51) 5 С 01 J 3/42

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ ССОР (46) 23.09.90.Бюл. Ф 35 (21) .3956780/31-25 (22) 25.09.85 (71) Институт физики АН БССР (72) Н.С.Казак, А.С.Лугина, Е, ИИиклавская, А.В.НаДененко1, В.K. Павленко.и Ю.А,Санников (53) 535.8 (088.8) (56) Kyle J,, Schuateg B. Second .

1авет cavity for weak absorption..

Арр1. Îpt, 1978, v. 17, N 817, р. 2659-2660. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ 53MEPEHHH IIOIaOЩЕНИЯ ВЕЩЕСТВА

Ю (57) Изобретение относится к лазер«. ной спектроскопии и может использоваться при создании высокочувствительных спектрометров для определения поглощательных свойств вещества т Целью изобретения является повышение чувствительности устройства. Устройство содержит два резонатора - активный (лазерный) и.пассивный (в послед- нем расположении кювета с исследуемым веществом). За счет размещения ,в пассивном резонаторе преобразователе частоты удается развязать активный и пассивный резонаторы, осуществив независимый друг от друга выбор оптимальных зеркал для этих резонаторов. Это приводит к увеличе нию числа проходов через вещество

1 и, как следствие, повышает чувстви" тельность устройства. 1 ил.! 4 47053

Изобретение относится к лазерной спектроскоггш! и может испольэовать» ся при создании высокочувствительггг-.гх спектрометров для определения поглощательных свойств вещества.

Цеггьго изобретения является повышение чувствительности устройства.

На чертеже приведена оптическая схема предлагаемого устройства. !Î

Устройство содержит источник излучения накачки и активную лазер-! яую среду 2, помещенную в активный резонатор, образованный зеркалами 3 и 4. Расположенная за зеркалом А сис- !5 тема формирования двух пучков содержит светоделитель 6. В пассивном резонаторе, образованном зеркалами

7 и 8, размещены нелинейный преобразователь (удвоитель> 9 частоты и кю- 20 вета 10 с исследуемым веществом.

Зеркало 7 пассивного резс>натора выполнено с максимальным коэффициентом отражеш-гя, а на рабочие грани кристалла нанесено просветляющее 25 покрытие длл уменьшенил потерь на отражение пучков Основной частоты и второй гармоники, Зл выходныгг зеркалом В пассивного резонатора расположена система !! регистрации.

„ Устройство работает следун>щигг образом. Излучение лазера через выходное зеркало 4, которое лвллетсл оптимальным длл активной лазерной среды, выходггт иэ резонатора и по" падает на систему форг.вгровапия двух пучков. Светоделитель 5 делит пучок лазерного излучения на два пучка одинаковой интенсивности.,Пучки лазерного излучения, прошедшие зеркало 5 .!Д и отраженные зеркалами, 5 и 6, нересекалсь в нелинейном кристалле под углом, удовлетворяющим усгговиго век торного фазового синхрониэма, енерируют в пассивном резонаторе иэлуче45 ние удвоенной частоты, на которой необходимо измерить поглощение исследуемого вещества. Излучение удвоен« ной частоты распространяется вдоль оси пассивного резонатора и, отражаясь эеркалами, многократно проходит через кювету с поглощагощим веществом.

После каждого прохода излучения по резонатору часть его через зеркало

8 попадает в систему !! регистрации.

В зависимости от типа источника лазерного излучения система 3! должна измерять любо суммарную интенсивность излучения, либо амплитуды излучения после первого и после и-го обхода резонатора. В устройстве осуществллетсл за счет оптимального выбора зеркао пассивного резонатора большее количество проходов излучения через вещество, что повышает чувствительность устройства.

Формула изобретения

Устройство длл измерения поглощеггил вещества, содержащее источник излучения нагсачки, лазерную среду, помещенную в активный резонатор, пассивный резонатор, в котором установлена кювета с исследуемым веществом,. и систеиу регистрации, о т л и ч а ю" ц е е с л тем, что, с целью повышения чувствительности, между активным и пассивным резонаторами на пути излучения установлена система формирования двух пучков, а в пассивном резонаторе размещен нелинейный преобразователь частоты, выполненный для генерации второй гармоники при век» торногл фазовом синхронизме таким образом, что волновой вектор преобрам эованного излучения совпадает с осью пассивного резонатора, причем одно из зеркал пассивного резонатора имеет максимальный коэффициент отражения на частоте второй гармоники.! 447053

Составитель И.Скляров

Техред Л.Олийнык

Корректор С.Черни

Редактор Л. Бельская

Подписное

Тираж 43!

Заказ 3329

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосхва, Ж-35, Раувская наб., д. 4/5

Устройство для измерения поглощения вещества Устройство для измерения поглощения вещества Устройство для измерения поглощения вещества 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к спектральному приборостроению и может быть использовано в автономно-абсорбционных спектрометрах

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к оптическому нриборостроению и может быть исиользовано для определения цвета об ьскта

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано при определении микроколичеств элементов атомно-абсорбционным методом

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к технике аналитического контроля

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх