Устройство для получения дифференциальных спектров отражения
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИН (51) 4
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
Н ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ъ! 1 .2i,:.
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
IlO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4023983/24-25 (22) 19.02.86 (46) 23.01.88. Бюл. Ф 3 (72) П.И.Борисова, Ю.В.Воробьев, В.Н.Захарченко, 3..А.Исмагилова и В.В.Карпов (53) 535.853(088.8) (56) Спектрометр инфракрасный ИКС-24.
Техническое описание и инструкция по эксплуатации. ЛОМО, 1970.
Спектрофотометр СФ-8. Техническое описание и инструкция по эксплуатации. ЛОМО, 1972 ° (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫХ СПЕКТРОВ ОТРАЖЕНИЯ (57) Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению.
Целью изобретения является повышение точности и локальности измерений.
Свет от источника 1 проходит через монохроматор 2 и с помощью первого объектива 3 фокусируется на рабочей плоскости держателя 9 образца. В
„„SU,„, 1368661 А1 двухлучевой оптической системе 4 двухканальным коммутатором является двухстороннее плоское зеркало 5. Когда зеркало 5 установлено за объективом 3, оно отражает излучение на рабочую плоскость держателя 8 эталона.
Когда зеркало 5 фиксируется перед объективом 10, оно направляет излучение, отраженное от образца, установленного в держателе 9, на объектив 10. Рабочие плоскости держателей
8 и 9 параллельны. Симметрично между ними перемещается зеркало 5 ° Для обеспечения локальности рабочие плоскости держателей 8 и 9 оптически .сопряжены с задним фокусом объектива 3 и передним фосусом объектива 10. После объектива 10 установлен приемник
ll, через усилитель 12 соединенный с регистратором 13. Уменьшение погрешности примерно в 5 раз достигается использованием минимального колйчества зеркал в двухлучевой оптической системе. 1 ил.
68661
25
Тираж 499 Подписное
ВНИИПИ Заказ 279/40
Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
1 13
Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению.
Цель изобретения — повышение точности и локальности измерений.
На чертеже изображена блок-схема устройства.
Устройство содержит источник 1 излучения, монохроматор 2, первый формирующий объектив 3, двухлучевую оптическую систему 4, двухстороннее плоское зеркало 5 с отражающими поверхностями 6 и 7, держатель 8 эталона, держатель 9 образца, второй формирующий объектив 10, приемник Il излучения, усилитель 12, регистратор
13 спектра. Держатели 8 и 9 находятся в заднем фокусе первого формирующего объектива 3 и в переднем фокусе второго формирующего объектива 10.
Устройство работает следующим образом.
Для измерения спектров отражения в держатели 8 и 9 устанавливают эталон и образец. В момент, изображенный на чертеже, излучение от источника 1, пройдя через монохроматор 2 и первый формирующий объектив 3, попадает на образец, установленный в держателе 9 образца. Отраженный от образца пучок излучения поступает на зеркальную поверхность 7 двухстороннего плоского зеркала 5, занимающего положение перед вторым объекти— вом 10 и направляющего на последний отраженный от образца поток излучения. Объектив 10 направляет излучение в приемник 11, где оно преобразуется в электрический сигнал и поступает в усилитель 12, после которого записывается регистратором 13 спектра. В следующий момент времени зеркало 5 занимает положение, изображенное пунктиром, и выходящее из объектива 3 излучение, отразившись от зеркальной поверхности 6 зеркала 5, попадает на эталон, установленный в держателе 8., Отраженное от эталона излучение попадает во второй формирующий объектив 10, далее как в первом случае. Таким образом, один и тот же оптический поток, поочередно отражаясь от исследуемого образца и эталона, поступает в приемник ll, вырабатывающий переменный электрический сигнал, соответствующий разности сигналов от образца и эталона. Этот сигнал после усилителя 12 записывается регистратором 13. Поступающий из монохроматора пучок излучения с последовательно изменяющейся длиной волны, но монохроматический в каждые два описанных момента времени, отражающийся поочередно от образца и эталона, позволяет получить и зафиксировать на регистраторе 13 спектральную зависимость разностного сигнала отражения от длины волны, характеризующую физические свойства данного образца.
При измерении на устройстве спектров отражения погрешность измерений спектров примерно в 5 раз ниже из-за уменьшения паразитного сигнала, возникающего вследствие большого количества зеркал в известном устройстве.
Формула из обретения
Устройство для получения дифференциальных спектров отражения, содержащее оптически связанные источник излучения, монохроматор, первый формирующий объектив, двухлучевую оптическую систему., снабженную двухканальным коммутатором и держателями эталона и образца с рабочими плоскостями, второй формирующий объектив и приемник излучения, а также регистратор спектра, через усилитель соединенный с приемником излучения, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и локальности измерений, рабочие плоскости держателей эталона и образца установлены взаимно параллельно, а двухканальный коммутатор выполнен в виде двухстороннего плоского зеркала, установленного симметрично рабочим плоскостям держателей эталона и образца с возможностью перемещения в своей плоскости и поочередной фиксации по ходу излучения за первым формирующим объективом и перед вторым формирующим объективом, при этом рабоЧие плоскости каждого держателя оптичес- ки сопряжены с задним фокусом первого формирующего объектива и передним фокусом второго формирующего объектива.