Спектрофотометрическая установка для измерений коэффициентов отражения сферических вогнутых зеркал

 

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению. Целью изобретения является повышение точности измерений абсолютных значений коэффициента отражения. Излучение монохроматического осветителя 1 проходит через первый объектив 2, формирующий на поверхности первого светоделителя 3 изображение осветителя 1. Это изображение передается вогнуто-сферическим зеркалом 4 на поверхность второго .светоделителя 7, который установлен под углом 45 к оптической оси. Второй объектив В передает изображение на фотоприемник 9, который регистрирует полученный сигнал . Так измеряется сигнал Ь. Сигнал Ь измеряется при удалении светоделителя 7. Сигнал b3 измеряется при установке светоделителя 7 в позицию 12. При этом в объектодержателе 6 установлено испытуемое зеркало 5. Сигнал Ъ измеряется, когда светоделитель 7 установлен в позицию 10. Коэффициент отражения определяют по формуле . Установка поз:: воляет измерять коэффициенты отражения по всей апертуре вогнутого сферического зеркала при нормальном падении излучения. Не требуется также знания спектрофотометрических характеристик , входящих в нее элементов. 1 ил. 8 (Л ф ел 00 00 00

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4 154464/40-25 (22) 01.12.86 (46) 23.01.89. Бюп. Р 3 (72) В.Б.Знаменский (53) 535.853(088.8) (56) Мельников A.Â. Измерение коэффициентов отражения зеркал для газовых ОКГ. — Журнал прикладной спектроскопии, 1967, вып. 6, Р 6, с. 821—

823 °

Шайович С.Л. Установка для измерений коэффициента отражения зеркал на основе автоколлимационной схемы хода лучей. — Тезисы докл. XIV науч. техн. конф. молодых специалистов ГОИ, Л., 1982, с. 143. (54) СПЕКТРОФОТОМЕТРЦЧЕСКАЯ УСТАНОВКА

ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЙ КОЭФФИЦИЕНТОВ ОТРАЖЕНИЯ

СФЕРИЧЕСКИХ ВОГНУТЫХ ЗЕРКАЛ (57) Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению.

Целью изобретения является повышение точности измерений абсолютных значений коэффициента отражения. Излучение монохроматического осветителя 1 проходит через первый объектив 2, фор„„SU„„1453188 А1 (51) 4 G 01 J 3/42 мирующий на поверхности первого светоделителя 3 изображение осветителя

1. Это изображение передается вогнуто-сферическим зеркалом 4 на поверхность второго .светоделителя 7, котоо рый установлен под углом 45 к оптической оси. Второй объектив 8 передает изображение на фотоприемник 9, который регистрирует полученный сигнал. Так измеряется сигнал Ъ . Сигнал Ь измеряется при удалении светоделителя 7. Сигнал Ь з измеряется при установке светоделителя 7 в по- . зицию 12. При этом в объектодержателе 6 установлено испытуемое зеркало

5. Сигнал Ь| измеряется, когда све- с тоделитель 7 установлен в позицию

10. КоэфФициент отражения определяют Я по формуле Ъ /Ь „Ь 4. Установка поз= воляет измерять коэффициенты отраже- С ния по всей апертуре вогнутого сферического зеркала при нормальном падении излучения. Не требуется также знания спектрофотометрических характеристик, входящих в нее элементов.

1453188!

Изобретение относится к оптическоспектральному приборостроению, Цель изобретения — повышение точости измерений абсолютных значений коэффициента отражения.

На чертеже показана оптичЕская схема спектрофотометрической установки для измерений абсолютных значений оэффициентов отражения сферических огнутых. зеркал .

Спектрофотометрическая установка содержит монохроматический осветитель 1, первый объектив 2, первый аветоделитель.3, сферическое вогнутое зеркало 4, измеряемое зеркало

5, установленное в объектодержателе

6, второй светоделитель 7, второй объектив 8, фотоприемник 9 и позиции 10-12 светоделителей. .20

Установка работает следующим образом.

До начала измерений осуществляют юстировку оптических, элементов, вхоящих в состав спектрофотометричес- 25 кой установки. Первый объектив 2 создает изображение осветителя 1 с центром в точке, являющейся осевой точкой, оптически связанной с осветителем, Устанавливают светоделитель 30

;3 под углом 45 к оптической оси излучателя так, что его центр совпада т с центром изображения осветителя

l1 и своей отражающей поверхностью наравлен в сторону сферически-вогну35

oro зеркала 4 — положение светодели1еля 3, соответствующее позиции 10, IHog углом В (2,5 (В (15 ) к оптической оси установки размещается зерМало 4 так, чтобы осуществить опти- 40 ческое сопряжение отражающих поверхностей светоделителей 3 и 7. Благодаря этому создается .промежуточное изображение осветителя 1 на отражающей поверхности светоделителя 7. Мини- 45 мальное значение угла В = 2,5 определяется из условия отсутствия винь6тирования светового пучка излучения рправами светоделителя 3 и 7 и зеркала 4. Максимальное значение угла па- О дения В = 15 на зеркало 4 зависит т требования несущественности влия:ния аберраций на качество изображения осветителя 1.

Благодаря оптическому сопряженияю ерез зеркало 4 светоделителей 3 и

l на их отражающих поверхностях cosдают одинаковые по площади зоны изоб1 ажения осветителя 1. Затем на оптической оси устанавливается второй объектив 8 так, что промежуточное иэображение, сфррмированное на светоделителе 7, создает на чувствительной площадке фотоприемника 9 уменьшенное изображение осветителя 1.

В дальнейшем на объектодержателе 6 устанавливают измеряемое зеркало 5 и перемещением объектодержателя 6 с зеркалом 5 вдоль оптической оси достигают совмещения центра кривизны измеряемого зеркала 5 и изображения осветителя 1. Благодаря этому обеспечивается освещение исследуемого зеркала 5 с радиусом кривизны L и диаметром D по всей его апертуре

2D (— -) при нормальном падении излучения

L на его отражающую поверхность. Угловые размеры изображения при этом должны быть небольшими (например, не более 1 ), чтобы исключить влияние перемещения зрачка на точность измерений.

После проведения юстировки установки проводятся измерения в следующей последовательности . Измеряется сигнал Ь, фотоприемника 9, соответствующий интенсивности светового потока после взаимодействия со светоделителем 3, находящимся в позиции 10, sepкалом 4 и светоделителем 7 в позиции11. Величина этого сигнала Ь „=I г. R077 определяется интенсивностью светового потока от осветителя 1 I, коэффициентами отражения светоделителя 3 (r„) и зеркала 4 (R ) и пропускания светоделителя 7 (g>). Если с оптической оси установки выводится светоделитель 7, то измеряемый сигнал Ь.g фотоприемника Ь = Ig>gR . Затем с оптической оси выводится светоделитель 3, а на его место устанавливается светоделитель 7 в позиции 12. Сигнал фотоприемника в этом случае зависит от величины коэффициента отражения R измеряемого зеркала 5 b >=I "г Е ГдК .

Дпя исключения иэ результатов измерений спектрофотометрических величин элементов, формирующих сравниваемые по интенсивности потоки излучения, проводится дополнительное измерение интенсивности светового потока, когда светоделитель 7 располагается в пози- ции 10. В этом случае b I r R .

Абсолютное значение коэффициента отражения измеряемого сферического

1453188 вогнутого зеркала R a этом случае определяется как

Составитель С.Иванов Редакто,р М.Бланар Техред Л.Олийнык Корректор Л.Пилипенко с

Заказ 72?1/35,Тираж 466 Подписное

BHKKH Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Ь2 Ьэ

R = — —— 5

1, В установке р еали эуется во змож" ность определения абсолютных значений коэффициентов отражения сферических вогнутых зеркал по всей их апертуре 1О при нормальном падении излучения и повышается точность измерений при использовании одних и тех же осветителей и регистрирующей излучение аппаратуры за счет исключения при расче- 15 тах необходимости знания спектрофотометрических характеристик входящих в нее элементов.

Формула изобретения 2р

Спектрофотометрическая установка для измерений коэффициентов отражения сферических вогнутых зеркал, содержащая оптически связанные моно- 25 хроматический осветитель, первый объектив, первый светоделитель, объектодержатель, зеркало, второй объектив и фотоприемник, о т л и ч а ю— щ а я с я тем, что, с целью повышения точности измерений абсолютных значений коэффициента отражения, ус тановка дополнительно содержит второй светоделитель, зеркало выполнено во- гнуто-сферическим, второй светодели-. тель расположен между зеркалом и вторым объективом под углом 45 к оптиО ческой оси, фокус первого объектива совмещен с отражающей поверхностью первого светоделителя, которая опты. чески сопряжена с отражающей поверх костью второго светоделителя через зеркало, первый светоделитель установлен с воэможностью разворота в плоскости, проходящей через оптические оси установки, фокус второго объектива совмещен с отражающей поверхностью второго светоделителя, объектодержатель установлен с возможностью перемещения вдоль оптической оси установки.

Спектрофотометрическая установка для измерений коэффициентов отражения сферических вогнутых зеркал Спектрофотометрическая установка для измерений коэффициентов отражения сферических вогнутых зеркал Спектрофотометрическая установка для измерений коэффициентов отражения сферических вогнутых зеркал 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к лазера

Изобретение относится к спектральному приборостроению и может быть использовано в автономно-абсорбционных спектрометрах

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к оптическому нриборостроению и может быть исиользовано для определения цвета об ьскта

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано при определении микроколичеств элементов атомно-абсорбционным методом

Изобретение относится к оптическому спектральному приборостроению

Изобретение относится к области оптического спектрального приборостроения

Изобретение относится к технике аналитического контроля

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх