Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения

 

Изобретение относится к технике генерирования рентгеновского направленного излучения и может быть использовано в рентгеновской и ядерной спектроскопии для селективного возбуждения атомных и ядерных уровней, структурного анализа вещества, калибровки спектрометрической аппаратуры и т.д. Способ основан на взаимодействии пучка ускоренных электронов с монокристаллом и дает возможность получать пучок монохроматического рентгеновского излучения с плавно перестраиваемой энергией. Цель изобретения - расширение диапазона регулирования энергий излучения TΩ от мягкого рентгена до мягкого γ-излучения, повышение степени монохроматичности рентгеновского излучения и понижение вклада непрерывного фона при понижении требований к качеству электронного пучка, повышение точности настройки источника на заданную энергию излучения при упрощении способа перестройки энергии излучения и обеспечение возможности повышения интенсивности излучения путем увеличения толщины мишени. Канал формирования излучения фиксируют под углом Θ<SB POS="POST">K</SB>(φ/2*22О<SB POS="POST">к</SB>μс<SP POS="POST">2</SP>/ε) к направлению пучка электронов, а в точке пересечения его с осью пучка электронов устанавливают монокристалл так, чтобы его семейство плотноупакованных плоскостей было перпендикулярно плоскости реакции, заданной направлениями пучка электронов и каналом коллимирования излучения (ML<SP POS="POST">2</SP> - энергия покоя электрона, ε - энергия ускоренных электронов). Поворачивая кристалл вокруг оси, перпендикулярной плоскости реакции, устанавливают это семейство плоскостей кристалла по отношению к направлению пучка электронов под углом Ф, расчетная формула которого приведена в формуле изобретения. С целью достижения максимальной интенсивности излучения угол Θ<SB POS="POST">к</SB> и параметр решетки кристалла D выбирают такими, чтобы вариация параметра Ф осуществлялась при значениях Ф ближе к Θ<SB POS="POST">к</SB>/2. При этом возникают условия, необходимые для возбуждения пучком электронов в кристалле состояния электромагнитного поля в периодически неоднородной среде, именуемого пенделезунгом (термин "пенделезунг" введен Эвальдом при описании дифракции рентгеновского излучения в кристаллах), причем механизм излучения является тормозным. Кроме указанных свойств, излучение является линейно поляризованным. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 С 21 G 4/06

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4227556/24-25 (22) 13.04.87 (46) 07.10,89.,Бюл. № 37 (72) Д.И.Адейшвили, С.В.Блажевич, Г.Л.Бочек, В.И.Кулибаба, В.П.Лапко, В.Л.Мороховский, Г.Л.Фурсов и А.В.Щагин (53) 621.386.12(088.8) (56) Datz S et а1. Electron and position planar channeling Radiation

from Diamond. — Phys. Lett., v.96 А, 1983, № 6, р. 314 °

Адищев И.Н. и др. Энергетическая зависимость параметрического (квазичеренковского) излучения электронов в монокристалле алмаза. — Известия вузов . Физика, Томск, 1986, с. 14. (54) СПОСОБ ГЕНЕРАЦИИ МОНОХРОМАТИЧЕСКОГО НАПРАВЛЕННОГО РЕНТГЕНОВСКОГО

ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Изобретение относится к технике генерирования рентгеновского направленного излучения и может быть использовано в рентгеновской и ядерной спектроскопии для селективного возбуждения атомных и ядерных уровней, структурного анализа вещества, калибровки спектрометрической аппаратуры и т.д. Способ основан на взаимодействии пучка ускоренных электронов с монокристаллом и дает возможность получать пучок монохроматического рентгеновского излучения с плавно перестраиваемой энергией.

Цель изобретения — расширение диапазона регулирования энергий излучения у от мягкого рентгена до мягкого.,Т— излучения, повышение степени монохроматичности рентгеновского излу„SU„„513528 А1

2 чения и понижение вклада непрерывного фона при понижении требований к,качеству электронного пучка, повышение точности настройки источника на заданную энергию излучения при упрощении способа перестройки энергии излучения и обеспечение возможности павьш ения интенсивности излучения путем увел учения толщины мишени. Канал формирования излучения фиксируют под углом g,, (7/24ршс /Я) к направлению пучка элекгронов, а в точке пересечения его с осью пучка электронов устанавливают монокристалл так, чтобы его семейство плотноупакованных плоскостей было перпендикулярно плоскости реакции, заданной направлениями пучка электронов и каналом коллимирования излучения (me — энергия покоя электроZ на, C — энергия ускоренных электронов) . Поворачивая кристалл вокруг оси, перпендикулярной плоскости реакции, устанавливают это семейство . плоскостей кристалла по отношению к направлению пучка электронов под углом Ф, расчетная формула которого приведена в формуле изобретения. С целью достижения максимальной интенсивности излучения угол k и параметр решетки кристалла d выбирают такими, чтобы вариация параметра @ осуществлялась при значениях Р ближе к 8 /2, При этом возникают условия необходи-, мые для возбуждения пучком электронов в кристалле состояния электромагнитного поля в периодически неоднородной среде, именуемого пендслезунroM (термин пенделезунг введен

Эвальдом при описании дифракции рентгеновского излучения в кристаллах), 1513528 причем механизм излучения является тормозным. Кроме указанных свойств, Изобретение относится к технике генерирования ран ггеновского направленного излучения и может быть использовано в рентгеновской спектрометрии для селективного возбуждения атомных и ядерных уровней, для структурного анализа вещества, калибровки рентгеновской спектрометрической аппаратуры. !5

Цель изобретения — расширение диапазона .регулирования энергий излучения h р от мягкого рентгена до мягкого -излучения; повышение степашин монохроматичности рентгеновского из- 2р лучения и понижение вклада непрерывного фона при одновременном существенном понижении требований к качеству электронного пучка — ширине спектра и расходимости, повышение 25 точности настройки источника на заданную энергию излучения fi(g при одновременном упрощении способа перестройки источника по энергии фотонов (энергии излучения); обеспечение воз- 30 можности повышения интенсивности излучения путем увеличения толщины мишени, а также достижение максимальной интенсивности излучения °

На Аиг. 1 показана схема эксперимента; на Аиг. 2 — измеренный спектр излучения для случая, когда энергия электронов E = 24 мэВ, а угол излучения 8„= 17 .

На схеме изображены гониометр 1, 40 отклоняющий магнит 2, Аотонные коллиматоры 3 и полупроводниковый рентгеновский спектрометр 4.

Пусть мы имеем монокристалл хороше" го качества. (вещество не имеет значения), который вырезан так, что представляет собой пластинку, плотность которой близка к кристаллографической плоскости кристалла с низкими индексами МиллеРа. Монокристаллическую пластинку помещают в гониометр с тремя ортогональными осями

1 вращения. Гониометр помещают в ваку

„.мную камеру ускорителя электронов так, чтобы одна из осей вращения была направлена вдоль оси пучка релятивистских электронов. При этом монокристаллическая пластинка располагается перпендикулярно направлению излучение является линейно поляризованным. 1 s.ï.ф-лы, 2 ил. пучка. Направление потока излучения, генерируемого ускоренными электронами в кристалле, задается системой коллиметров, создающих канал коллимирования под углом 6 к направлению падающего на кристалл пучка электронов (Т/2 > О„ъ О) . Одну из осей гониометра, ортогональных направлению пучка, удобно установить перпендикулярно к плоскости, заданной направлением пучка ускоренных электронов и направлением канала формирования излучения (т.е. перпендикулярно плоскости реакции). Углы поворотов вокруг осей гониометра обозначают следующим образом: о — угол поворота кристалла вокруг оси, параллельной направлению пучка электронов, ф — угол поворота кристалла вокруг оси, ортогональной плоскости реакции; (— угол поворота кристалла вокруг третьей оси гониометра, ортогональной направлению пучка электронов и параллельной плоскости реакции.

Закон сохранения энергии-импульса для рентгеновского излучения релявистских электронов для данного процесса в кристалле имеет вид

Р =P+ +8 (1)

F= K +Q где р — импульс электронов до излу— У ( чения; р — импульс электронов после излучения; k — импульс фотона; g— переданный кристаллу импульс, равный вектору обратной решетки кристалла; E. — энергия электрона до излучения; C. - энергия электрона после излучения; Π— энергия фотона (в системе единиц, где 6 = с=тп =1 энергии F E. сд измеряются в еди— У! -+ ницах тп с; Р, Р,, g — в единицах m с, длины в единицах комптоновских длин воля).

Схема вращений гониометра и Аормирования излучения показана на фиг, 1. Начало отсчета углов oC = О, тР = 0 и ч = О осуществляют от положения кристалла, когда одна из его

Ф главных осей е направлена вдоль оси пучка электронов, а вторая ось е

5 15135 перпендикулярна плоскости реакции ((е,, е„) =3;к, ik =1, 2, 3). Из. соотношения (1) следует,что в таком случае максимумыинтенсивности рентгенов5 ского излучения под углом О,с наблюдают для импульсов отдачи кристаллу, равных векторам g, для которых g„

=(g, е,),= О, (g; = (g, е;)). Согла,сно (1) для фиксированных углов о, Р, фиксированной энергии электронов

Э

«Ф :, фиксированного вектора g получают только одно значение энергии фотонами, ф Я вЂ” ширина спектра излучения определяется исключительно углом захвата кол- 15 лиматора ЬВ . Если в качестве мишени использовать монокристалл кремния и выбрать векторы g = (111) или g

=(220), то при углах В = 10

10 рад, Ы, = О; 10 з Р, 4+10 рад 20 можно получить максимум излучения с энергией в интервале 10 — 500 кэВ.

Из законов сохранения энергииимпульса (1) вытекает следующая зависимость: 25

s in@+ 8 sing=0(1-cas 8< +

+ 1/2с ). (2)

При малых углах Р и g и фиксиро-э. 30 ванных О„, ы, g u E 10 мэВ, зависимость Ю = P (ф очень близка к линейной. Совокупность этих линий для pa3HbIx векторов g образует "Карту" плоскостей кристалла. Поворот кристалла на угол Ы приводит к пово- 35 роту всей карты в плоскости координат g, Р как целого. Это дает возможность, контролируя, подобрать такое значение угла, для которого проекция выбранного вектора обратной 4О решетки (g, е ) обращается в нуль, при этом линия равного Я параллель-. на оси соответствующей углам У . Тогда энергия в максимуме спектра может быть найдена по упрощенному вирианту 45 формулы (2) т1 = P ", (3)

- Ф

1-cosgÄ+1/2К

50 где g = 2 ii % /d; d — расстояние между плоскостями в выбранном семействе плоскостей, соответствующих вектору

g h — комптоновская длина волны; .С (с 3 " 10 см) И и Е измеряются 55 в едтпти,ах m с — 511 кэВ.

Если энергия электронов Я настоль1 ко велика, что 1 — cosgg» —.-, то

28 невысокая точность определения энергии электронов не влияет на точность определения энергии монохроматических фотанов т,1 . Точность определения

И получают в основном с помощью точности измерения углов ф и Q,с и для указанных выше значения параметров

Р,О„, Р составляетЬсд /Сд = 10 -10

Ширйна спектра.ЬЯ определяется дифференцированием выражения (3) по 0 <, 1

gg =Ю gÄ 60 . Из динамики процесса следует, что интенсивность в максимуме спектра рентгеновского излучения достигается при значении угла

9=6/2, т.е. при выполнении условия

Брегга для излучаемых фотонов. Поэтому для получения интенсивного источника излучения угол Р должны варьировать вблизи значения B/2.

Выражение -д з1пl+g> sin 4 представляет скалярное произведение (g и) в ортогональной системе коорФ динат (е;, е„), связанной с кристал— Ъ лом и расположенной так., чтобы е „было направлено по пучку электронов, а е лежало в плоскости излучения; (т), Р при этом являются углами поворо— э тов кристалла вокруг осей е и е> соответственно.

Канал AopMHpoBRHHH Hsn eHHH AHKсируют под произвольным углом О с к направлению пучка электронов в пре2

ЯеС делах — ) О, — с — (где с .- — энер2 " E гия электронов; m — масса электрона; с — скорость света), а в точке пересечения канала с осью пучка электронов устанавливают кристалл так, чтобы проекция вектора обратной решетки кристалла g(g = 2 ii e/d, где

11

9 с =3 861 ° 10 см, d — межтлоскостное расстояние, на направление пучка электронов равнялась

-+ — Я тп с

4 (g и)= (1-cos 0 + — — ) э mс2 2 Я 2 .е и в канале формирования получают фотоны с заданной энергией h D .

Возможность создания источника по предлагаемому способу проверена на пучках линейных ускорителей при энергии электронов 24 мэВ и 1200 мэВ.

В качестве мишени используют монокристалл кремния толщиной 240 мкм, плоскость которого (111) перпендикулярна плоскости реакции и составляет угол 8,5 по отношению к на— а правлению пучка электронов. Сттектры

1513528 излучения измеряются кремний-литиевым детектором с разрешением

230 эВ. Результаты измерений(фиг.2) показывают, что интенсивность излучения в максимке, обусловленном

5 параметрическим механизмом излуче1 ния (2-й максимум примерно на порядок больше, чем интенсивность ХРИ из того же кристалла — 1-й макси- 10 мум). Калибровка спектрометра с помощью предлагаемого источника сравнивается с калибровкой с помощью стандартных источников. Сравнение приводит к выводу, чтр калибровки полно- 15 стью совпадают, т.е. метод дает возможность задавать абсолютное значение энергии фотонов в максимуме без сравнения с другими эталонами. Аналогичные спектры получены при энергии 20 фотонов 300 кэВ на пучке электронов с энергией t200 мэВ при угле 8

= 2 ° 10 рад.

Таким образом, на пучке электронов с произвольной фиксированной 25 энергией . > ш с при использовании произвольного монокристалла с известным параметром решетки d предлагаемый способ генерации моноэнергетического направленного рентгеновского 30 излучения дает возможность плавно перестраивать энергию источника от

10 кэВ до 1 МэВ путем дискретного из-! менения угла 8 к и непрерывного изме-!, нения угла Ф; устанавливать энергию

1 фотонов в максимуме спектра с точностью hQ /а =10 — 10

При этом точность установки энергии фотонов тем выше, чем 8 ) m с /, как следует из формулы (3) bM /сд — pp максимально в области мягкого рентгена (требуются пучки электронов с ординарными параметрами; ширина спектра электронов может быть AE 0=0,05, а расходимость = 10 рад) .

Предлагаемый способ осуществляет .плавную перестройку источника по энергии фотонов путем изменения угла ориентации кристалла Р . При этом точность перестройки определяется соотношением Ь @ / Ф, т. е. точностью гониометра и расходимостью пучка.

Соотношение А Р /Р может принимать значения 10 -10 . Такой способ перест-Ъ -б ройки энергии источника является более простыми гарантирует более высокую точность. Кроме того, он повышает интенсивность излучения в максимуме спектра путем наращивания толщины мишени При этом интенсивность в максимуме спектра растет с толщиной кристалла по логарифмическому закону, а ширина пика достигает определенного предела и далее с увеличением толщины кристалла не увеличивается. В отличие от известного способа, где возможно применение кристаллов только с толщинами порядка нескольких микрон, в предлагаемом способе генерации излучения толщины монокристаллической мишени могут достигать достаточно большой величины вплоть до величины порядка сантиметра.

Формула изобретения

1 ° Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения, основанный на взаимодействии пучка ускоренных электронов с монокристаллической мишенью и расположении канала формирования рентге-.-. новского излучения под углом 9к(II (- к направлению пучка электронов

2 п ((й = 1.), о тлич а ющийся тем, что, с целью расширения диапазона регулирования излучения Q повышения степени монохроматичности рентгеновского излучения и понижения вклада непрерывного фона при понижении требований к качеству электронного пучка, повышения точности настройки источника на заданную энергию излучения у при упрощении способа перестройки энергии излучения и обеспечения возможности повышения интенсивности излучения путем увеличения толщины мишени, канал формирования излучения фиксируют

m c под произвольным углом В

k Я направлению пучка электронов и (где

Я вЂ” энергия электронов; m — масса электрона, с — скорость света), а монокристаллическую мишень устанавливают так, чтобы проекция вектора обратной решетки монокристалла

g (!gJ = 2н Л /d, где Л = 3 ° 861

« 10 н см, d — межплоскостное расстояние) на направление пучка электронов определялась выражением — сд

m c

2 4 (g,n) = ---- (1-I"os6 + — — ) . ш с2

-е к 2 с ° (151 3528 1О

2. Способ по п. 1, о т л и ч à io- риация угла Ф поворота монокристалла шийся тем, что, с целью достиже- относительно оси, ортогональной плосния максимальной интенсивности излу- кости излучения, осуществлялась при чения, угол д „ и межплоскостное рас- значениях, близких к 8 Ä /2. стояние d выбирают такими, чтобы ва733<уо беппо

Ь

500

ГОО

ФОО

Щг2

600 ЮО

Номер канала

Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения Способ генерации монохроматического направленного рентгеновского излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано для приготовления высокоактивных источников альфа-излучения на основе полония-210
Изобретение относится к области атомной техники
Изобретение относится к технологии изготовления источников на основе радионуклида 57Со для ядерной гамма-резонансной (мессбауэровской) спектроскопии

Изобретение относится к медицинской радиационной технике и может быть использовано для контроля системой неоднородности медицинских гамма-камер при работе с радиофармпрепаратами, например, на основе радионуклидов технеций 99 м и галлий 201
Изобретение относится к технологии изготовления мессбауэровских источников и может быть использовано в ядерной гамма-резонансной спектроскопии (ЯГРС)

Изобретение относится к технологии изготовления закрытых радиоактивных излучателей, используемых в лабораторной и производственной ядерно-спектроскопической аппаратуре и, в частности, в устройствах радиоизотопной медицинской диагностики

Изобретение относится к источникам гамма-излучения. Получение источника гамма-излучения включает в себя этапы, на которых обеспечивают неподходящий материал, являющийся комбинацией подходящих и неподходящих изотопов, затем преобразуют неподходящий материал в подходящий материал путем удаления неподходящих изотопов из неподходящего материала с оставлением только подходящих изотопов. Далее смешивают селен-74 с подходящим материалом, нагревают смесь, чтобы вызвать реакцию между компонентами, и подвергают последующему облучению продукт реакции для превращения по меньшей мере части селена-74 в селен-75. Получение источника гамма-излучения может также включать в себя этапы, на которых добавляют к смеси по меньшей мере один другой подходящий материал. Этот по меньшей мере один другой подходящий материал может быть добавлен в смесь перед нагреванием смеси. Неподходящие материалы могут быть выбраны из группы, состоящей из: цинка, титана, никеля, циркония, рутения, железа, серебра, индия, таллия, самария, иттербия, германия и иридия. Техническим результатом является возможность создания материалов, используемых для изготовления источника гамма-излучения, не приводящих к долговременному испусканию паразитного излучения. 3 н. и 17 з.п. ф-лы, 4 ил., 3 табл., 6 пр.
Наверх