Электронный анализатор дефектоскопа

 

Изобретение относится к контрольно-сортировочной технике и может быть использовано для настройки порога срабатывания фотоэлектрических поверхностных дефектоскопов. Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса калибровки дефектоскопа. Электронный анализатор состоит из компаратора 1 генератора 2 импульсов, элемента И 3, двух счетчиков 4 и 5 с разрядностью M и M+N, где N - показатель степени числа 2<SP POS="POST">N</SP>, равного числу эталонных изделий, используемых при калибровке, а также из M - секционного переключателя 6 режимов и цифроаналогового преобразователя 7 (ЦАП). В РЕЖИМЕ КАЛИБРОВКИ ВХОДЫ ЦАП соединяются с выходом счетчика 4, а в рабочем режиме с выходами счетчика 5. При калибровке дефектоскопа используется выборка изделий, которые нельзя однозначно на основе принятых технических требований отнести к группе годных или к группе дефектных. Среднее арифметическое пиковых значений сигнала от всех изделий этой выборки, вычисляемое схемой и запоминаемое в счетчике 5, принимается за пороговый оптимум и подается на опорный вход компаратора в рабочем режиме дефектоскопа. Благодаря высокой частоте и малой величине шага дискретизации пиковое значение сигнала определяется для каждого изделия за время одного цикла развертки. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦ)ИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (5D 4 G 01 N 21/88

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4376107/24-25 (22) 1 1. 02. 88 (46) 30. 10.89. Бюл, Р 40 (75) Б.А. Борзых (53) 621.035 (088.8) (56) Патент ФРГ У 2621109, кл. G 01 N 21/32, 1977.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ll0 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И (ЛНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР

Патент Великобритании Р 1577764, кл. С 01 N 21/88> 1980. (54) ЭЛЕКТРОННЫЙ АНАЛИЗАТОР ДЕФЕКТОСКОПА (57) Изобретение относится к контрольно-сортировочной технике и может быть использовано для настройки порога срабатывания фотоэлектрических поверхностных дефектоскопов. Пелью изобретения является повышение точности и упрощение процесса калибровки дефектоскопа. Электролой яналпзато1 состоит из компаратора 1 генератора 2 импульсов, элемен га И 3,,-;«ух счетчиков 4 и 5 с разрядностью т и в+и, „„SU„, 1518739 А1 где n — показатель степени числа 2

f! ра но о числу эталонных изделий, используемых при калибровке, а также из m-секционного переключателя 6 режимо« и цифроаналогового преобразователя 7 (ЦАП). В режиме калибровки входы

ЦАП соединяются с выходом счетчика 4, а « рабочем режиме с выходами счетчика 5. При калибровке дефектоскопа используется выборка изделий, которые нельзя однозначно на основе принятых технических требований отнести.к группе годных или к группе дефис:тных.

Среднее арифметическое пиковых значений сигнала от всех изделий этой выборки, «ычисляемое схемой и запоминаемое в счетчике 5, принимается эа пороге.шй оптимум и подается на опорный вход компаратора в рабочем режиме дефекгсскопа. Благодаря высокой частоте и малой величине шага дискретизации пиковое значение сигнала определяет"я для кая;дого изделия за время одного цикла развертки. 1 ил.

1518739

Изобретение относится к контрольно-сортировочной технике и может быть использовано для настройки порога срабатывания фотоэлектрических по5 верхностных дефектоскопов.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса калибровки.

На чертеже представлена схема пред-10 лагаемого электронного анализатора дефектоскопа.

Электронный анализатор содержит компаратор 1, сигнальный вход которого подключается к источнику аналогового 5 сигнала, а выход — к исполнительному механизму или к запоминающему устройству (не показаны) генератор 2 импульсов, элемент И 3, первый вход которого соединен с выходом компара- 20 тора 1, а второй вход — с выходом re нератора 2 импульсов, первый двоичный счетчик 4 с числом разрядов ш, которое зависит от принятого шага квантования аналогового сигнала, вто- 25 рой двоичный счетчик 5, с числом разрядов (m+n), и — показатель степени числа 2, равного числу эталонных изб делий, используемых при калибровке

П дефектоскопа (папример, n=5 и 2 =32) . 3p

Входы обоих счетчиков 4 и 5 объединены и подключены к выходу элемента

И 3. Выходы всех разрядов счетчика 4 и выходы m старших разрядов счетчика

5 через m-секционный переключатель 6 режимов соединены с входами цифроаналогового преобразователя (ЦАП) 7. Переключатель 6 показан включенным на

"Рабочий режим". Выход ЦАП 7 соединен с опорным входом компаратора 1.

Электронный анализатор работает следующим образом.

В исходном состоянии во все разряды счетчиков 4 и 5 записаны нули. Переключатель 6 переведен в положение 45

"Наладочный режим". Перед началом калибровки дефектоскопа делается выборка иэ потока таких изделий, которые по принятым техническим требованиям не могут быть однозначно отнесены к группе годных или к группе дефектных.

При этом в выборке должны быть . представлены разнообразные типы дефектов, по своим размерам, глубине и т.д.>находящихся на границе между допустимыми и недопустимыми. Первое из55 делие из выборки помещается в зону контроля дефектоскопа и начинается развертка его поверхности, Аналоговый сигнал фотодатчика после усиления и фильтрации поступает на сигнальный вход компаратора 1 (на чертеже верхний). На опорном входе компаратора 1 в первый момент времени аналоговое опорное напряжение равно нулю. На выходе компаратора 1 появляется логическая единица в соответствии с сигналом на его входе. В периоды действия единичного выходного сигнала компаратора 1 импульсы с выхода генератора 2 проходят через элемент И 3 в счетчики 4 и 5. Когда число в счетчике 4 и соответствующее ему аналоговое опорное напряжение с выхода ЦАП 7 станут больше любого иэ пиковых значений сигнала, дальнейший счет прекращается, После окончания развертки поверхности изделия число в счетчиках и 5 соответствует пиковому значению сигнала, появившемуся в течение цикла развертки, 3а счет высокой частоты импульсов генератора 2 схема будет успевать доводить состояние счетчика 4

I до пикового уровня аналогового сигнала эа один цикл развертки. Перед началом развертки второго изделия счетчик 4 обнуляют (вручную или тактовым импульсом). После окончания развертки в счетчике 4 появится новое пиковое значение, а в счетчике 5 — сумма двух пиковых значений. После снятия пиковых значений сигнала всех изделий из выборки в счетчике 5 накопится сумма нсех пиковых значений. Поскольку объем

BbtGoPKH n HHHM e PGBHbM емкости той части счетчика 5, выходы которой не используются, на используемых выходах старших разрядов будет получен двоичный код среднего арифметического всех пиковых значений. Данное число путем перевода переключателя 6 в

"Рабочий режим" подается на входы

ЦАП 7 и на выходе ЦАП 7 устанавливается полученный оптимальный опорный уровень. После окончания калибровки вход счетчика 5 должен быть заперт для предотвращения изменений опорного уровня.

Изобретение позволяет точнее калибровать дефектоскопы в автоматизированном режиме без использования сложных вычислительных блоков и без многократного развертывания поверхности.

Ф о р м у,. а и з о б р е т е н и я

Электронный анализатор дефектОскопа, содержащий компаратор, первый

1518739

Составитель А. Грузинов

Техред Л.Сердюкова Корректор jI. Патай

Редактор h3. Середа

Заказ 6601/49 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101

m-разрядный счетчик и цифроаналоговый преобразователь, выход которого соединен с опорным входом компаратора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса калибровки, он снабжен генератором импульсов, m-секционным переключателем режимов, элементом И и вторым счетчиком с разрядностью (m+n), где п — показатель степени числа 2, равного числу эталонных изб ! делий, используемых при калибровке анализатора, причем первый вход элемента И соединен с выходом компара" тора, второй вход соединен с выходом генератора импульсов, входы счетчиков объединены и подключены к выходу элемента И, а выходы первого,счетчиУ ка и выходыш старших разрядов второго счетчика через m-секционный переключатель режимов подключены к входам цифроаналогового преобразователя.

Электронный анализатор дефектоскопа Электронный анализатор дефектоскопа Электронный анализатор дефектоскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области оценки уровня технологических дефектов и исследования физико-механических свойств композитных армированных светопропускающих материалов

Изобретение относится к строительству и машиностроению, конкретно к методам дефектоскопии строительных материалов и конструкций из неметаллов, например пластиков, позволяет определять величину и положение дефекта, оценивать раскрыв и может быть использовано при контроле изделий с переменной толщиной

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а более конкретно к устройствам визуальной и фотометрической оценки рентгенограммы повьшенной плотности

Изобретение относится к оптическим методам контроля, в частности изменений объектов решетчатой структуры, например намотанной на решетку пряжи

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано в оптическом приборостроении при контроле качества оптического стекла

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при автоматизации визуального метода дефектоскопии

Изобретение относится к области полупроводниковых приборов, чувствительных к ИК-излучению, в частности к фотоприемным устройствам, в которых проявляется взрывной шум

Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано для автоматизированного определения постоянной времени фотоприемников и фотоприемных устройств

Изобретение относится к фотометрии и предназначено для автоматизированного контроля спектральной чувствительности фотоприемников

Изобретение относится к области измерений и может быть использовано для регистрации слабых и сверхслабых световых потоков в физике лазерного зондирования атмосферы, космических исследованиях, химии, астрономии

Изобретение относится к области приборостроения и предназначено для автоматического колориметрического определения концентрации несброженных или остаточных сахаров

Фотометр // 1516802
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к фотометрам, и может быть использовано в химической, текстильной промышленности, а также в медицинском и оптическом приборостроении, т.е

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для регистрации тепловых и оптических потоков излучения

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в системах связи по оптическому каналу в атмосфере

Изобретение относится к оптике атмосферы и может быть использовано для регистрации слабых и сверхслабьк световых потоков в физике,кос| ических исследованиях,лазерном зондировании атмосферы, спектроскопии, химии , астрономии и т.д

Изобретение относится к приборостроению, а именно к технике измерения фотометрических параметров, и может найти применение на аэродромах для измерения оптических характеристик атмосферы при определении видимости световых ориентиров взлетно-посадочной полосы (ВПП) в ходе метеорологического обеспечения действия авиации на аэродроме
Наверх