Способ дефектоскопического контроля сварного шва и околошовной зоны

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при визуальном контроле сварных соединений. Целью изобретения является повышение достоверности контроля путем увеличения числа обнаруживаемых дефектов и снижение трудоемкости путем понижения физиологической утомляемости контролеров. Излучение раскладывают в спектр и освещают этим излучением сварной шов и околошовную зону. Осуществляют продольное и поперечное перемещение разложенного в спектр излучения относительно сварного шва со скоростью 3 - 6 м/ч. Визуально определяют дефекты по локальному поглощению спектральных составляющих излучения. 1 ил.

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при визуальном контроле сварных соединений. Целью изобретения является повышение достоверности контроля путем увеличения числа обнаруживаемых дефектов и снижение трудоемкости путем понижения физиологической утомляемости контролеров. На чертеже изображено устройство для осуществления способа дефектоскопического контроля сварного шва и околошовной зоны. Устройство содержит источник 1 излучения, размещенный в непрозрачном боксе 2, щелевую диафрагму 3, призму 4, тубус 5, в котором размещена лупа 6 и выполнено смотровое отверстие 7, и узел 8 настройки, кроме того, на чертеже показан сварной шов 9. Способ осуществляется следующим образом. Излучение от источника 1 излучения, прошедшее щелевую диафрагму 3, раскладывают в спектр с помощью призмы 4 и освещают этим излучением сварной шов 9 и околошовную зону. Осуществляют продольное и поперечное перемещение разложенного в спектр излучения относительно сварного шва 9 со скоростью 3 6 м/ч. Диапазон скоростей установлен экспериментально на основании анализа производительности и качества труда контролеров, осуществляющих дефектоскопический контроль. Рассеянное швом 9 излучение проходит лупу 6, размещенную в тубусе 5, и выполненное в нем смотровое отверстие 7 и регистрируется контролером, который визуально определяет дефекты по локальному поглощению спектральных составляющих излучения.

Формула изобретения

Способ дефектоскопического контроля сварного шва и околошовной зоны, заключающийся в том, что исследуемую поверхность освещают излучением и визуально определяют дефекты, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля и снижения его трудоемкости, излучение раскладывают в спектр, освещение производят излучением, разложенным в спектр, осуществляют продольное и поперечное перемещение разложенного в спектр излучения относительно сварного шва со скоростью 3 6 м/ч, а дефекты определяют по локальному поглощению спектральных составляющих излучения.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности для определения шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля качества поверхности цилиндрических отверстий в цилиндрических деталях

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к приборам, предназначенным для исследования и контроля шероховатости поверхности по методу темного поля

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при изготовлении внеосевых сегментов асферических поверхностей в оптическом приборостроении

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в целлюлозно-бумажной промышленности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения шероховатости поверхности изделий

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх