Устройство для контроля шероховатости поверхности

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей за счет измерения также волнистости поверхности. Устройство состоит из источника излучения, фотоприемника зеркального отражения и фотоприемника диффузного отражения. Фотоприемник выполнен четырехквадрантным, что позволяет путем контроля положения пятна зеркально отраженного излучения дополнительно измерять волнистость поверхности. 3 ил.

СО!ОЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 С 01 В 21/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н A ВТОРСКОМЪГ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ.

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4357922/24-28 (22) 04.01.88

{46) 30.01.90. Бюл. !! 4 (71) Киевский научно-исследовательский и конструкторский институт периферийного оборудования (72) Н.П.Степчук (53) 531.717(088.8) ! (56) Международная заявка

У 82/01767, кл. G 01 В 11/30, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть

i использовано для контроля качества поверхности.

Цель изобретения — расширение функциональных воэможностей за счет измерения также и волнистости поверхности.

На фиг. 1 представлена блок-схема устройства; на фиг. 2 — конструктив- ное расположение светочувствительных элементов фотоприемника зеркально отраженного излучения; на фиг. 3 — схема блока обработки.

Устройство состоит из источника 1 излучения, фотоприемника 2 зеркально отраженного от контролируемой поверхности излучения, фотоприемника 3 диффузно отраженного от контролируемой поверхности излучения и блока 4 обработки, электрически связанного с выходами фотоприемников 2 и 3. Фотоприемник 2 выполнен четырехквадратным со светочувствительными элементами 5-8. Блок 4 обработки состоит

„„SU„„1539529 А1

{57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изоб ретения - расширение функциональных возможностей эа счет измерения также и волнистости поверхности. Устройство состоит из источника 1 излучения, фо- топриемника зеркального отражения и фотоприемника диффузного отражения.

Фотоприемник выполнен четырехквадрантным, что позволяет путем контроля по- ложения пятна зеркально отраженного излучения дополнительно измерять волнистость поверхности. 3 ил. из преобразователей 9-13 фототока в напряжение, входы которых подключе- . ны к выходам фотоприемнйка 3 и элементов 5-8 соответственно, сумматора 14, входы которого подключены к выходам преобразователей 10-13, вычитателя 15, входы которого подключены к выходам преобразователей 10 и 12, вычитателя 1б, входы кото рого подключены к выходам преобразователей 11 и 13, делителя 17, входы которого подключены к выходам преобразователя 9 и сумматора 14, и.

° ° ндикаторов 18-20, входы которых . одключены к выходам вычитателей 15 и 16 и делителя 17 соответственно.

Устройство работает следующим образом.

Источник l формирует параллельный пучок света, имеющий .форму круга в сечении, и направляет его под углом на контролируемую поверхность 21. Зеркально отраженный от поверхности 21 пучок света попадает на фотоприемник.

2, а диффуэно отраженное излучение

1539529 регистрируется фотоприемником 3. Зеркально отраженный от поверхности 21 пучок света, имеющий в сечении форму эллипса формирует на светочувствиЭ

5 тельных элементах 5-8 фотоприемника

2 световое пятно.

Сигналы со светочувствительных элементов 5-8, пропорциональные освещенной площади каждого из них, поступают на четыре независимых преобразо вателя 10-13.

Сигнал, пропорциональный диффузно отраженному излучению, с фотоприемника 3 поступает на вход преобразова- 1 теля 9. Выходные сигналы с преобразователей 10-13 поступают на сумматор 14. Суммарный сигнал с сумматора

14, пропорциональный зеркальной составляющей отраженного пучка света, поступает на второй вход делителя

17, при этом на первый делитель 17 поступает сигнал, сформированный преобразователем 9.

Напряжение с выходов преобразователей 10 и 12, пропорциональные сигналам элементов 5 и 7, вычитаются в вычитателе 15, а напряжение с выходов преобразователей 11 и 13, пропорциональные сигналам с элементов 6 и 8, вычитаются в вычитателе 16.

Результаты вычитания с вычитателей

15 и 16 и результат деления с делителя 17 поступают соответственно на индикаторы 18-20. При этом показания индикатора 20 характеризуют шерохова35 тость поверхности 21, а показания индикаторов 18 и 19 — волнистость поверхности.

Формула изобретения

Устройство для контроля шероховатости поверхности, содержащее узел формирования светового луча, фотоприемник диффуэно отраженного излучения, фотоприемник зеркально отраженного излучения, два преобразователя фототока в напряжение, подключенные к соответствующим фотоприемникам, и делитель, входы которого подключены к выходам преобразователей, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных воэможностей за счет измерения также и волнистости поверхности, оно снабжено третьим, четвертым и. пятым преобразователями фототока в напряжение, сумматором, входы которого подключены к выходам второго, третьего, четвертого и пятого преобразователей, двумя блоками сравнения, входы первого блока сравнения подключены к выходам второго и четвертого преобразователей, входы второго блока сравнения подключены к выходам третьего и пятого преобразователей, фотоприемник зеркально отраженного излучения выполнен четырехквадратным, а выходы его элементов подключены соответственно к входам второго, третьего, четвертого и пятого преобразователей.

1539529

Составитель М.Кузнецов

Техред Л.Олийнык Корректор М.Шароши

Редактор А.Orap

Заказ 207 Тираж 473 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

Устройство для контроля шероховатости поверхности Устройство для контроля шероховатости поверхности Устройство для контроля шероховатости поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к области акустических методов неразрушающего контроля

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля децентровки оптических поверхностей при изготовлении линз в оптическом приборостроении

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов на деталях с оптически грубой поверхностью

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптико-электронным устройствам для бесконтактного измерения отклонения поверхности длинных узких объектов от прямолинейного на заданном отрезке и может быть использовано для контроля прямолинейности поверхности катания рельса

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам для измерения формы и перемещений поверхности объекта

Изобретение относится к способу и устройству для измерения плоскостности полосы в шахте моталки стана для горячей прокатки полос

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к измерению параметров движущихся поверхностей

Изобретение относится к области приборостроения и цифровых оптических устройств и может быть использовано для бесконтактного определения качества изделий, имеющих средние и низкие классы чистоты обрабатываемых поверхностей в пределах Ra=0,8÷100 мкм

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим способам измерения высоты микрорельефа поверхностей интерференционным методом

Изобретение относится к прецизионной измерительной технике, а именно к оптическим способам контроля шероховатости поверхности, и может быть использовано в различных отраслях науки и техники, в частности в ювелирной промышленности для оценки чистоты огранки алмазов
Наверх