Способ рентгенофлуоресцентного анализа образцов сульфатно- карбонатных пород

 

1. Способ рентгенофлуоресцентного анализа образцов сульфатно-карбонатных пород, включающий облучение градуировочных и анализируемых образцов рентгеновским или гамма-излучением с энергией E1, достаточной для возбуждения характеристического рентгеновского излучения породообразующих элементов, измерение интенсивности характеристического рентгеновского излучения, облучения этих образцов монохроматическим рентгеновским или гамма-излучением с энергией E2, отличной от E1, измерение интенсивности прошедшего через образцы излучения с энергией E2 и вычисление массового коэффициента ослабления образцами этого излучения, отличающийся тем, что, с целью определения минерального состава пород, сложенных кальцитом, доломитом и ангидритом, предварительно приготовляют образцы с известным содержанием кальцита и произвольными содержаниями доломита и ангидрита, для определения массовых коэффициентов ослабления выбирают энергию E2 излучения в зависимости от энергии E1 по формулам E2 (кэВ) = 71 - 5 E1 при E1 < 11,5 кэВ 1 кэВ и 4 кэВ < E2 < [10 + 22 (к.д - 4,4)1/2] кэВ при E1 11,5 кэВ 1 кэВ, где к.д - допустимая погрешность определения содержания кальцита (мас.%), измеряют интенсивность характеристического рентгеновского излучения кальция, по результатам измерения градуировочных образцов строят зависимость произведения интенсивности характеристического рентгеновского излучения кальция на массовый коэффициент ослабления от содержания кальцита, по установленной зависимости и измеренной интенсивности рентгеновского излучения кальция в анализируемом образце и массового коэффициента ослабления им излучения с энергией E2 определяют содержание кальцита в анализируемой пробе, а затем по нему находят содержания доломита и ангидрита.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве градуировочных используют чистые определяемые минералы и бинарные образцы, сложенные кальцитом и доломитом и кальцитом и ангидритом.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к приборам , с помощью которых проводят иссле дования с использованием ядерно-физических методов

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к подготовке излучателей из проб керамических материалов для рентгеноспектрального анализа их состава

Изобретение относится к рентгеноспектральному анализу элементного состава веществ

Изобретение относится к методам количественного определения состава вещества ядерно-физическими методами

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к рентгеноспектральному анализу веществ

Изобретение относится к ядерно-физическим методам анализа и , в частности, к способам изготовления стандартных образцов, используемых в ходе проведения анализа

Изобретение относится к анализу материалов с помощью рентгеновского излучения, а именно к области пробоподготовки образцов для рентгенофлуоресцентного анализа

Изобретение относится к области аналитической химии ,в частности, к анализу материалов рентгеноспектральными методами

Изобретение относится к анализу материалов ядерно-физическими методами ,в частности, к подготовке образцов для проведения рентгенофлуоресцентного анализа

Изобретение относится к неразрушающим методам анализа состава материалов с регистрацией флуоресцентного рентгеновского излучения и может быть использовано в любой области науки и техники, где требуется качественное и количественное определение содержания химических элементов

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, конкретнее к радиационной дефектоскопии, и может быть использовано для обнаружения малоконтрастных дефектов с помощью рентгеновских флюороскопов

Изобретение относится к рентгеновским поляризационным спектрометрам (РПС) для рентгенофлуоресцентного анализа веществ

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности, при проведении рентгеноспектрального анализа руд после их кислотного разложения и экстракции определяемых элементов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины лент, полотен и т.п

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а именно к устройствам рентгеновской и изотопной дефектоскопии объектов, находящихся в труднодоступных полостях
Наверх