Патент ссср 160887
COma C BBTCK
СО!!ИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
ОПИСAHИЕ
ИЗОБРЕТЕННАЯ
К ABTQPCKOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ
X 160887
K, éCC 27
МПК
G 01111
Заявлено 06.1Ч.1963 (,11" 829-190:26-10) ГОСУДАРСТВЕННЫИ
КОМИТЕТ ПО ДЕЛАМ
ИЗОВРЕТЕНИй И ОТКРЫТИЙ
СССР
Опубликовано 26.11.1964. Бюллетень ЛЪ 5
Подписная группа ¹ 116
Е, H. Андреева и В. В, Новицкий
С ПОСОБ ИССЛ ЕДОВАН ИЯ КРИВИЗН Ь! ПОВЕРХНОСТЕЙ
Способы исследования кривизны поверхностей известны. По этим способам непосредственным результатом эксперимента является
i!e распределение кривизны, а распределение углов наклона поверхности. Для получения кривизны по известным спосооам возникает необхо,1имость дополнительной обработки (численного дифференцирования), которая требует значительной затраты труда и снижает точность результатов.
Предлагаемый способ отличается от известных тем, что для непосредственного получения значений кривизны по всей исследуемой поверхности производят взаимное смещение экрана и исследуемой поверхности в направлении, по которому определяют кривизну без изменения рельефа исследуемой поверхности.
На чертеже показана схема устройства для получения графической картины распределе1 ия кривизны по предлагаемому способу.
На цилиндрический экран 1 нанесен растр в виде системы равноотстоящих параллельных полос (черных и белых), ориентированных вдоль образующих цилиндрической поверхности экрана. К отверсти1о (на чертеже не обозначенному) в экране 1 примыкает объектив фотоаппарата 2. Исследуемая поверхность .3 установлена на расстоянии а от объектива фотоаппарата. Экран 1 выполнен поворотным вокруг оси, совпадающей с оптической осью объектива фотоаппарата 2. Кроме того, экран и фотоаппарат (как единое целое) выполнены подвижными в плоскости, перпендикулярной оптической оси объектива фотоаппарата..для исследования кривизны поверхности по предлагаемому способу неслед емуlо нов«р.;1 ость 8 устанавливают ll«! poccTOIIIIIIII а оТ ооъектива фотоаппарата 2. Затем растр. il;lllcсенный на экран 1, раьн1омсрно осве1ц«пот дополннтельнымн нсточннкамн излучения (на 1ерте>кс нс показаны) 11 фото. рафнруют отражение указанного растра от нссле;1уемой погерхностн 8 фотоаппаратом 2 через отверстие в экране 1. Не меняя взаимного расположения экрана н фотоаппарата. сме;L;IIOT»x на вел1гч ну Л относительно нсслетуемой I!0BcpxIIocTII в направлении, перпендикулярном полосам растра, и повторно фотографируIOT его отражен1ге от исследуемой!10BcpxilocTII на тот же нсга «нв.
В результате надо>кения двух и",oáðàæcíèé растра, отраженных от исследуемой повеpxlloсти, находящейся в двух положениях, образуется картина муаровыx полос, вдоль которыx кривизны нмеlот постоянное знЗ Iенне.
На чер-.еже линиями Л1,Л Л 1 н М Л Л1 показан ход лучей прн фотографирог>анни отражения растра для точки Л1 исследусмо11 повсpxности при двух положениях поверхности. 1yp!I«нзна К в точке Л исследуемой погерхностн равна:
1 . .l 1,.1 1е
К=—
R Л 2а1 где R — радиус кривизны псверхности; т — угол между нормалями п, и и в точке Лт поверхности при двух ее положениях;
Л вЂ” величина сдвига;
М1Мв — длина дуги экрана. № (60887
Предмет изобретения
ЬК= а
2аЬ
Составитель В. Ф. Ванторин
Редактор H. С. Кутафина Текред T. П. Курнлко Корректор M. П. Ромашова
Подп, к пеи. 10/IV — G4 г. Формат оум. 60 Q 90 /a Ооъме 0,23, изд. л.. аказ 715/8 Тираж 900 Цена 5 коп.
ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР
Москва, Центр. пр. Серова, д. 4
Типографии, пр. Сапунова, 2
Величина М>Мв в данной формуле определяется по картине муаровых полос, Действительпо, там где при наложении изображений какая-то полоса первого изобра>кения растра пересеклась с этой же полосой второго изображения, величина М1М.,=О и К=О. Там же, где эта полоса при пало>кении пересеклась с соседней, величина М М = д, где d — расстояа ние ме>кду осями полос растра и К=
2а Л
Таким образом, при переходе от одной муаровой полосы к соседней имеем изменение кривизны и", величину, равную
Аналогичным образом можно получить картину распределения кривизн по любому направлению, для чего следует повернуть экран около оптической оси объектива фотоаппарата таким образом, чтобы полосы растра были ориентированы перпендикулярно направлению, по которому исследуется кривизна.
Способ исследования кривизны поверхностей путем пало>кения изображения линейчатого растра, отраженного от исследуемой поверхности, рассматриваемых через отверстия в экране, на котором нанесен указанный растр, отличающийся тем, что, с целью непосредственного определения кривизны по всей исследуемой поверхности, производят взаимное смещение экрана и исследуемой поверхности, без изменения рельефа последней, в
1,àïðàâëåíèè, по которому определяют кривизну.
