Способ определения оптической разности хода составляющих поляризованного луча

 

Изобретение относится к фотоупругости и может быть использовано при оценке прочности изделий в машиностроении, электронной, оптической промышленности, в частности при оценке прочности и надежности элементов световолоконной оптики. Цель изобретения - упрощение, повышение точности определения оптической разности хода δ перпендикулярно поляризованным компонентам и увеличение быстродействия света. Для этого выбирают возможные границы изменения длины волны света λ<SB POS="POST">1</SB> и λ<SB POS="POST">2</SB> (пусть λ<SB POS="POST">1</SB>*98л<SB POS="POST">2</SB>). Плавно изменяют длину волны от λ<SB POS="POST">1</SB> к λ<SB POS="POST">2</SB>. Определяют λ<SB POS="POST">1</SB> при прохождении через точку первой полосы (MIN освещенности). Подсчитывают число T полос, проходящих через точку, и определяют λ<SB POS="POST">2</SB> при прохождении через точку последней регистрируемой полосы. Рассчитывают оптическую разность хода δ составляющих поляризованного луча, проходящего через исследуемую точку объекта.

(54)

СКО

ПОЛ (57) И може ности ронн (22) 3 (46) 2 (75) А (53) 5 (56) ронн заци напр

А кл, G.05,88 .11.90. Бюл, ¹ 43

В.Мыльников

5.8(088. 8) дельштейн Е.И, Координатно-синхй поляриметр КСП вЂ” 7. — В кн.: Поляринно-оптический метод исследования жений. Изд-во ЛГУ, 1966, с. 498-512. тарское свидетельство СССР ¹ 789689, 1 J 4/0, 1978.

ПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕРАЗНОСТИ ХОДА СОСТАВЛЯЮЩИХ

РИЗОВАННОГО ЛУЧА .обретение касается фотоупругости и быть использовано при оценке прочизделий в машиностроении, электй, оптической промышлености. в сти элементов световолоконной оптики.

Цель изобретения — упрощение, повышение точности определения оптической разности хода д перпендикулярно поляризованным компонентам света и увеличение быстродействия. Для этого выбирают возможные границы изменения длины волны света Л1 и

Л2 (пусть Л > Л2). Плавно изменяют длину волны от Л1 к Лг . Определяют Л1 при прохождении через точку первой погосы (min освещенности), Подсчитывают число т полос, проходящих через точку, и определяют

Л2 при прохождении через точку последней регистрируемой полосы. Рассчитывают оптическую разность хода д составляющих поляризованного луча, проходящего через исследуемую точку объекта.

И сти (и иссле може ности ранна частн сти эл обретение относится к фотоупругооляризационно-оптическому методу ования напряжения и деформаций) и быть использовано при оценке прочизделий в машиностроении, электй, оптической промышленности, в сти при оценке прочности и надежноментов световалоконной оптики. ности полос вычис точнос ской р ших сакра дения ль изобретения — получение возможопределения целой части порядка в точке, исключение необходимости ения его дробной части, повышение и и упрощение определения оптичезности хода д, особенно при боль>82 ) ее значениях, а также ение трудоемкости и времени провепераций, с этим связанных.

Для этого наблюдают картину интерференций перпендикулярно поляризованных компонент света, прошедшего через абра- C) зец, и регистрируют изменение оптической (ф картины полос в тачке при непрерывном фь, изменении длины волны света Л в пределах Д отЛ1 до Л2. Сд

Так как при одной и той же разности хода лучей д на различных длинах волн Л наблюдают разные картины полос ni (п может иметь как целую, так и дробную часть) д д=Лпь то, изменяя Л не дискретно, а непрерывно, отмечают различную интенсивность света в точке — изменение картины полос. Причем темнота в точке (полоса) соответствует нулевой разности фаз Л или разности хода д, равной целому числу волн iL ь

1б08443 д=п1 Л1 или д=n2 Лг

Л2 t Ф Л1 п1 Ф Ф n2 =,„

Л1 — Лг Л1 Л2

Л1 и Лг, — длины волн излучения, на которых ф ф наблюдают первую и последнюю полосы с минимальной освещенностью;

t — количество полос, которые наблюдают в исследуемой точке образца при изменении Л в пределах Л1 — Лг,, 25

Составитель А.Грузинцев

Техред M.Моргентал Корректор В.Гирняк

Редактор А.Козориз

Заказ Зб07 Тираж 419 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, yn,Гагарина, 101 если Л1> Лг,тогда п1< пг или пг = п1 ° где t — количество полос, которые наблюдают в точке при изменении Л в пределах от

Л1 до Л2 д = Л1 п1 = Л 2п2 =Л г (п1 + t), Лг t Л11 отсюда и т — или пг л1 — л 1 — г

Для того, чтобы отпала необходимость вычисления дробной части порядка полосы

ni, поступают следующим образом. Выбираф ф ют за Л1(Л1< Л1) — длину волны, на которой наблюдают первую полосу (min освещенности), а за Лг (Лг> 12)min — длину волны, на которой наблюдают последнюю регистрируемую полосу, тогда соответственно п1 и n2 — целые числа, Определяют их:

Лг т Л11 п1 Ф пг =

Л1 — Лг Л1 — Лг затем рассчитывают искомую оптическую разность хода д в исследуемой точке д = г11 Л1 или о = п2 Л2

Предлагаемый способ упрощает и уточняет определение малых и средних (400 нм д 8Л) значений оптической разности хода д за счет исключения необходимости нахождения дробной части порядка полосы и связанных с этим замеров и вычислений, вносящих существенные погрешности, а также за счет уменьшения количества необходимых элементов поляроидной оптики (способ реализуют на обычном пло:ком полярископе}, что снижает требова ие точной юстировки этих элементов, Сокращаются также трудоемкость иэ5 мерений и время их проведения.

Формула изобретения

Способ определения оптической разности хода составляющих поляризованного луча, заключающийся в том, что на исследу10 емый образец направляют линейно поляризованное излучение и регистрируют картину полос интерференции перпендикулярно поляризованных компонент на двух разных длинах волн Л1 и Л2, о т л и ч а ю щ и й15 с я тем, что, с целью повышения точности, упрощения и повышения бстродействия, наблюдают и регистрируют изменение картины полос интерференции при непрерывном изменении длины волны излучения Л в пре20 делах Л1 — 2 при этом Л1 > Лг, и рассчитывают оптическую разность хода диз соотношений

Способ определения оптической разности хода составляющих поляризованного луча Способ определения оптической разности хода составляющих поляризованного луча 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам для измерения поляризации света , в частности для измерения поляризационных характеристик лаяерного излучения , и может быть использовано для измерения параметров импульсных или непрерывных лазеров Цель изобретения - определение поляризационных характеристик в видимой и ближней инфракрасной областях спектра и повышение чувствительности

Изобретение относится к оптическому поляризационному приборостроению

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии, и может быть использовано при контроле оптических параметров поверхности материалов и изделий

Изобретение относится к исследованиям химических и физических свойств веществ с помощью оптических поляризационных методов и может использоваться для определения оптических постоянных исследуемых материалов, параметров тонких пленок на различных подложках

Изобретение относится к области оптических исследований и может быть использовано в лабораторной практике при измерениях вращения плоскости поляризации и кругового дихроизма оптически активных объектов

Изобретение относится к геофизике, а более конкретно - к каротажным информационно-измерительным системам, например гамма-спектрометрическим, работающим с импульсными нейтронными излучателями

Изобретение относится к измерительной технике и может использовано для измерения параметров линейной поляризации светового пучка

Изобретение относится к физической оптике и может быть использовано в технике измерений поляризационных характеристик оптического излучения

Изобретение относится к об.части оптического ирибо)остр()ения, конк 1етиее к ойт и ко-а,те кт ройным ноляризаинони ьи у стройства.м, и .может Спл 1 исг о:1ьз()15аи() в ана- .титичеекой .химии, 1И1Н1ево1 1 микробиоло1 ичеекои нромыиь 1еиности, а также в медицине

Изобретение относится к области оптики, в частности к устройствам для диагностики плазмы, и мояет быть использовано дпя измерения переменного по времени угла поворота плоскости поляризации в плазме

Изобретение относится к горной автоматике и к полярископам и поляриметрам и может быть использовано для определения коэффициента линейной поляризации света при отражении от аморфных полупроводниковых покрытий для создания на этой основе светильников, которые могут быть использованы для наблюдения объектов в условиях пыли и тумана и для исследования и наблюдения деформируемости горных пород в массивах

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для исследования оптической активности жидких и твердых сред

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов

Изобретение относится к фотоэлектрическим поляриметрам и может быть использовано для измерения концентраций оптически активных веществ в медицине, химии, биологии, пищевой промышленности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и предназначено для измерения и исследования тонкопленочных структур и оптических констант поверхностей различных материалов путем анализа поляризации отраженного образцом светового пучка

Изобретение относится к методам измерения параметров электромагнитного излучения

Изобретение относится к оптическому приборостроению, конкретно к поляриметрическим устройствам для измерения оптической активности веществ, и может быть использовано для промышленного контроля и научных исследований в аналитической химии, биотехнологии и медицине

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом
Наверх