Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов

 

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и может быть использовано при оценке магнитных дефектоскопических материалов. Целью изобретения является расширение технологических возможностей образца за счет регулировки напряженности магнитного поля на внешней поверхности эталонного образна Для достижения цели оценку качества порошка производят по двум шкалам, имеющим разные чувствительности. Для удаления порошка с поверхности шкалы в проводе 11 устанавливается определенное значение тока с помощью источника 12. Создаваемое магнитное поле компенсирует поле постоянного магнита, усиливая его или ослабляя 3 ил

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А2

„„SU„. 1629831 (51) 5 G 01 N 27/85

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

llO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (61) !087871 (21) 4662957/28 (22) 16.03.89 (46) 23.02.91. Бюл. № 7 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А. А. Давыдков, A. М. Шарова, В. А. Романов, С. И. Выборненко и В. И. Сохин (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1087871, кл. 6 01 N 27/85,,1984. (54) ЭТАЛОННЫЙ ОБРАЗЕЦ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение относится к средства и магнитной дефектоскопин и может быть использовано при оценке магнитных дефсктоскопических материалов. Целью изобретения является расширение технологических возможностей образца за счет регулировки напряженности магнитного поля на внешней поверхности эталонного образца..1ля достижения цели оценку качества пороп(ка Ilt)()изводят по двум шкалам, имс к)гцим разньц чувствительности. Для удаления пороп(ка с поверхности шкалы в проводе l l ycTHHc)B ливается определенное значение тока с ll()мощью источника 12. Создаваемое магнитное поле компенсирует поле (к)стоянного магнита, усиливая его или ослабляя. 3 ил.

1629831

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии и является усовершенствованием устройства по авт. св. № 1087871.

Целью изобретения является повышение технологических возможностей образца за счет регулировки напряженности поля на внешней поверхности образца имитатора дефекта — щели.

На фиг. 1 показан эталонный образец, общий вид;, на фиг. 2 — магнитопровод с проводом, подключенным к источнику тока; на фиг. 3 — сечение А — А на фиг. 2.

Эталонный образец содержит магнитопровод, составленный из двух симметричных частей 1 и 2, каждая из которых представляет собой цилиндр с основанием в виде плоскости 3, ограниченной витком спирали

4 и отрезком прямой 5, соединяющим начало и конец витка спирали 4. Части магнитопровода сопряжены своими основаниями, место сопряжения которых является имитатором 6 дефекта-щели. Образец содержит также постоянный магнит 7, выполненный в виде намагниченного вдоль оси цилиндра и установленный в магнитопроводе соосно с ним. На боковой поверхности 8 магнитопровода вдоль имитатора 6 дефектащели нанесены равномерная шкала 9 и неравномерная шкала 10.

Эталонный образец снабжен изолированным проводом 11, предназначенным для подключения к источнику 12 тока, а в сопряженных основаниях обеих частей магнитопровода выполнены пазы 13, образующие отверстие, концентричное боковой поверхности магнита, в котором размещен .провод 11.

Эталонный образец при определении качества магнитных дефектоскопических материалов работает следующим образом.

Силовые линии магнитного поля постоянного магнита 7 замыкаются по магнитопроводу через имитатор 6 дефекта в радиальных плоскостях. Вдоль щели создается магнитное поле рассеяния, интенсивность которого зависит от радиуса кривизны этой поверхности и намагниченности постоянного магнита. Испытуемый магнитный порошок, нанесенный на поверхность магнитопровода, под воздействием магнитного поля рассеяния оседает вдоль щели. Качество порошка определяется путем сравнения длины выявленного с его помощью участка щели с длиной участка щели; выявленного с помощью порошка, принятого за эталон.

Оценка качества порошка производится одновременно по двум шкалам 9 и 10, имеющим разные чувствительности при оди о иаковом количестве делег!ий. Для удаления порошка с поверхности шкалы в проводе 11 устанавливается определенное значение тока с помощью источника 23. Создаваемое током магнитное поле, компенсирует поле постоянного магнита 7. Таким образом, на г5 боковой поверхности результирующее поле равно нулю и магнитный порошок легко удаляется.

При необходимости ток в проводе !1 может пропускаться во время оценки качества порошка с целью усиления или ослабления магнитного поля постоянного магнита 7.

Пример. Проводят оценку качества пасты КМК для магнитопорошкового контроля.

По окончании работ остатки пасты не удается удалить даже струей воды. После

2с этого в проводнике устанавливают постоянный ток 5 А и остатки пасты легко удаляются с помощью окунания образца в ванну с водой.

Применение проводника с током в виде витка, охватывающего постоянный магнит, 30 позволяет расширить технологические возможности эталонного образца при оценке качества дефектоскопических материалов.

Формула изобретения

35 Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов по авт, св. № 1087871, отгичагощийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей, он снабжен изоли40 рованным проводом, предназначенным для подключения к источнику тока, а в сопряженных основаниях обеих частей магнитопровода выполнены пазы, образующие отверстие, концентричное боковой поверхности магнита, в котором размещен провод.

1629S31

Фиг. 5

Составитель А. Ьодров

Редактор М. Бланар ТехредА. Кравчук Корректор М Ьь имии,иис (Заказ 435 Тираж 396 11одиисиос

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ (.(.(:Р

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат «Патент», г. Ужгород, ул. Гагарина. I lil

Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов Эталонный образец для определения качества магнитных дефектоскопических материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам магнитной дефектоскопии сварных швов и может быть использовано при контроле качества сварных швов

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, в частности при выявлении сквозных дефектов в процессе проверки герметичности резервуаров

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества ферромагнитных изделий из магнитотвердых материалов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества сварных швов

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии

Изобретение относится к магнитной дефектоскопии

Изобретение относится к магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при расшифровке магнитограмм в процессе контроля качества изделий

Изобретение относится к области магнитографической дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов, например гибов труб, шеек коленчатых валов, фасонных изделий, несущих конструкций и т.д

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть использовано для дефектоскопии ферромагнитных лент и пластин

Изобретение относится к области неразрушающего магнитографического контроля труб и изделий трубчатой формы, в частности литых чугунных заготовок гильз цилиндров автомобилей

Изобретение относится к дефектоскопии магнитографическим методом и может быть использовано при контроле качества изделий из ферромагнитных материалов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных соединений
Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля стыковых сварных швов

Изобретение относится к магнитографическому методу неразрушающего контроля

Изобретение относится к магнитографическому контролю изделий с поверхностью малой кривизны и сварных швов со снятым усилением из магнитомягких сталей (с коэрцитивной силой меньше 10 А/см)
Наверх