Способ определения электромагнитных параметров вещества

 

Изобретение относится к области магнитных измерений и может быть использовано для определения магнитной восприимчивости и проводимости веществ. Целью изобретения является повышение чувствительности способа. На сферический образец, помещенный в приемную катушку СКВИД-магнитомера, воздействуют импульсным полем. В процессе спада импульса регестрируют полное изменение результирующего магнитного потока и его изменение за время между двумя фиксированными моментами, первый из которых выбран в течение импульса результирующего потока, а второй - на кривой его спада. По полученным значениям с использованием приведенных выражений определяют магнитную проницаемость или восприимчивость вещества и его проводимость. 2 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для определения магнитной восприимчивости и проводимости веществ. Целью изобретения является повышение чувствительности способа. На фиг. 1 представлена блок-схема устройства для осуществления способа; на фиг.2 эпюры внешнего поля и результирующего магнитного потока. Устройство, реализующее способ, содержит криостат 1, в котором установлен антидьюар 2 с образцом 3. На внешней оболочке антидьюара 2 находится сверхпроводящая приемная катушка 4, коаксиально по отношению к ней установлена намагничивающая катушка 5, коаксиально с антидьюаром 2 и катушками 4 и 5 установлены сверхпроводящая трубка 6 и намагничивающий соленоид 7. Криостат залит жидким гелием 8. Приемная катушка 4 индуктивно связана со сверхпроводящим квантовым интерференционным датчиком (СКВИДом 9), выход которого подключен к электронному блоку 10, а намагничивающая катушка 5 соединена через переменное сопротивление 11 и выключатель 12 с источником тока 13. Сила тока, подаваемого на намагничивающую катушку 5, регистрируется при помощи амперметра 14. Способ осуществляют следующим образом. В однородное магнитное поле соленоида 7 помещают приемную катушку 4. В область катушки 4 помещают изотропный образец 3 в форме шара. Известно, что результирующее магнитное поле будет описываться следующими формулами: = ; (1) = +, (2) где поле, создаваемое магнитным диполем с моментом : = (3) где a; (4) напряженность магнитного поля внутри образца 3; напряженность магнитного поля вне образца 3; магнитная проницаемость образца 3;
а радиус образца;
напряженность магнитного поля при отсутствии образца 3;
радиус-вектор, проведенный из центра образца 3 в рассматриваемую точку поля;
R расстояние от центра образца до рассматриваемой точки;
(, ) скалярное произведение момента диполя на радиус-вектор . Подставляя (4) в (3) получим следующее соотношение для
= a
Затем подставляя вышеописанное соотношение в (2), получим для напряженности магнитного поля вне образца 3 следующее выражение:
= + a
(5) где (Но, ) скалярное произведение вектора на радиус-вектор . Пусть в момент времени to внешнее магнитное поле выключается. При этом магнитное поле в изотропном образце 3 и вокруг него не исчезает мгновенно. Ход затухания магнитного поля в образце 3 будет описываться следующей формулой:
+ + =
(6) где проводимость образца;
С скорость света;

квадраты частных производных соответственно по х, y, z;
частная производная по времени t. Распределение магнитного поля вне образца 3 в каждый момент времени описывается следующими уравнениями:
div= 0;
rot= 0; (7) где , индукция и напряженность магнитного поля вне образца 3. Напряженность и индукция магнитного поля связаны следующими соотношениями:
. (8)
Решая уравнения (6) и (7) для шарообразного образца 3 находим, что магнитное поле B(i) внутри изотропного образца 3 будет изменяться со временем следующим образом:
KR](,)+[-I3/2(KmR)+
(9)
= m3/2(Kma)a exp(-jm(t-to)), (10)
где (Kma)- I3/2(Kma)I1/2(Kma)+[I1/2(Kma)]2+
m= (M-1)Cm; jm= K2m;
I1/2(x) sin x; (11)
I3/2(x) cosx
I5/2(x) 1sinx cosx
вектор индукции магнитного поля при отсутствии образца;
(,) скалярное произведение вектора на радиус-вектор . Постоянные Km являются корнями следующего уравнения:
I3/2(Kma)[1 ] KmaI1/2(Kma) 0, (12) которое является следствием граничного условия, которое имеет следующий вид:
= ;
= где индекс n(t) указывает, что берется нормальная (тангенциальная) составляющая соответствующего вектора, а индекс i(e) означает, что соответствующий вектор берется внутри (вне) образца 3. Далее вычислим поток, пронизывающий приемную катушку 4. Для этого воспользуемся формулой
(d,), где интегрирование ведется по площади S приемной катушки 4. Далее, поскольку образец 3 находится в пределах катушки 4, то представим вышеуказанную формулу в следующем виде:
(d, )+(d, ),
(13) где первый интеграл берется по площади, пересекающей образец 3, второй интеграл берется по площади, свободной от образца 3. Теперь, подставляя в (13) соотношения (9) и (10) и интегрируя по площади приемной катушки 4, получим для потока (t) следующее выражение:
(t) a3/2 mI3/2(Kma)e
(14) где под интегралом в числителе стоит смешанное произведение векторов , и d, а интегрирование ведется по контуру l катушки 4. Из (14) видно, что поток, пронизывающий катушку 4, со временем затухает. Время затухания определяется как

(15) где j1 наименьшее значение из набора jm. Далее найдем поток , который пронизывает приемную катушку до выключения внешнего поля (см. фиг. 2б). Для этого подставим соотношения (1) и (5) в (13). После интегрирования получим
(,) + a
(16) где (, ) скалярное произведение вектора индукции приложенного магнитного поля и вектора , равного площади приемной катушки 4 и направленного ортогонально ее плоскости. Как известно, СКВИД магнитометр измеряет только изменение потока. Поскольку внешнее магнитное поле выключается, то полное изменение потока ам, т.е. амплитуда сигнала, будет определяться соотношением (16)
ам= (,)+ a
(17) т.к. поток, пронизывающий катушку 4 при полном затухания поля, созданного образцом, равен нулю. Перенесем первое слагаемое, стоящее в правой части (17), в левую часть
ам-(,) a
Далее разделим левую и правую части вышенаписанного уравнения на

В результате получим
(+2) -1
Отсюда после преобразований запишем:
+
(18)
Таким образом, измеряя амплитуду сигнала, по формуле (18) можно определить магнитную проницаемость образца 3. Из (17) видно, что амплитуда сигнала зависит от магнитной проницаемости образца 3, которая связана с восприимчивостью o следующей формулой
1 + 4 o. Отсюда следует, что, измеряя амплитуду сигнала и используя вышенаписанную формулу и формулу (18), можно определить магнитную восприимчивость образца 3. Запишем, используя (14), изменение потока за время t t2 t1
mI3/2(Kma)
(19)
при t1 > to. В случае, если t1 to, то изменение потока определяется как разность соотношений (16) и (14)
,
Для обеспечения сходимости ряда на уровне 1% как показали численные расчеты, необходимо учитывать не менее пяти членов ряда. Заменяя в (19) и (20) Kma на Ym и подставляя соотношения, записанные в (11), запишем (19) и (20) в следующем виде:

(21) где Q (22)
)- I3/2(m)I1/2(m)+ а Ym определяется из уравнения:
cos1--msinm= 0
(23)
Из (21) видно, что изменение потока через приемную катушку 4 со временем зависит от проводимости образца 3. Отсюда следует, что, измеряя изменение потока со временем и решая уравнение (21), можно найти проводимость изотропного образца 3. Способ может быть реализован с помощью устройства, изображенного на фиг. 1. Криостат 1 заполняют жидким гелием 8. Перед измерениями определяют амплитуду создаваемого катушкой 5 магнитного потока. Для этого с помощью переключателя 12 замыкают цепь, а с помощью переменного сопротивления 11 увеличивают ток от нуля до некоторого значения Iо. При этом внутри катушки 5 создается магнитное поле, которое увеличивается по мере увеличения силы тока, следовательно, и поток, пронизывающий катушку 4, будет увеличиваться по мере увеличения силы тока и достигнет некоторого значения o. Данное увеличение потока будет регистрироваться СКВИДом 9 (фиг.2а). По амплитуде создаваемого сигнала и известной площади катушки 4 определяется амплитуда создаваемого поля. Измерение производится следующим образом. Образец 3 устанавливается внутри катушки 4. Затем цепь замыкается с помощью переключателя 12 и переменным сопротивлением ток увеличивают от нуля до значения Io. При этом поле внутри намагничивающей катушки 3, а следовательно, и поток, пронизывающий приемную катушку 4, будут увеличиваться (фиг. 2а). Увеличение потока будет регистрироваться СКВИДом 9. Сигнал, соответствующий току Io, будет соответствовать амплитуде результирующего потока ам, пронизывающего приемную катушку 4. Затем источник тока 13 с помощью переключателя 12 отключается. При этом ток, а следовательно, и создаваемое им магнитное поле внутри намагничивающей катушки 5 исчезают. В процессе уменьшения поля в образце 3 наводятся вихревые токи, протекающие в скин-слое образца 3, которые создают свое магнитное поле. В результате при исчезновении внешнего магнитного поля возникает затухающее магнитное поле, созданное образцом 3, которое создает в области приемной катушки 4 изменяющийся во времени магнитный поток (фиг.2б), изменение которого с момента выключения поля to до момента времени t2 регистрируется с помощью СКВИДа 9 и электронного блока 10. Временное изменение магнитного поля зависит от проводимости образца 3, а амплитуда магнитного потока зависит от магнитной восприимчивости образца. Сверхпроводящая трубка 6 и соленоид 7 служат для создания постоянного намагничивающего поля. Способ по сравнению с известными является намного более чувствительным. Так, например, ток величиной 1 мкА, наведенный в образце диаметром 10 мм, создает магнитный момент 10-10 А м2 при измерении проводимости методом вихревых токов. Рабочая чувствительность магнитометров на основе СКВИДов в настоящее время составляет 10-13 А м2. Кроме того, при измерении не происходит механического перемещения образца, что уменьшает вибрации внутри криостата, устраняются помехи и повышается точность измерения.


Формула изобретения

Способ определения электромагнитных параметров вещества (сферических образцов), включающий воздействие на образец импульсным магнитным полем и регистрацию результирующего магнитного потока с помощью измерительного контура, отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности, на образец воздействуют однократным импульсом магнитного поля, фиксируют момент окончания импульса магнитного поля и два момента времени при регистрации импульса результирующего магнитного потока, причем второй момент времени фиксируют в процессе спада результирующего магнитного потока, определяют полное изменение результирующего магнитного потока в процессе его спада и изменение результирующего магнитного потока между зафиксированными моментами времени, а магнитную проницаемость и электропроводность вещества определяют из соотношений















где магнитная проницаемость вещества;
s электропроводность вещества;
a радиус образца;
амплитуда импульса магнитного поля, воздействующего на образец;
вектор, равный площади измерительного контура и направленный ортогонально его плоскости;
Фам полное изменение результирующего магнитного потока в процессе его спада;
радиус-вектор, проведенный из центра образца к элементу интегрирования dl, лежащему на измерительном контуре l;
Ф(t2,t1)- изменение результирующего магнитного потока между зафиксированными моментами времени t1 и t2;
I цилиндрические функции Бесселя;
t0 момент времени окончания импульса магнитного поля.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, к магнитному разделению материалов, и может быть использовано в химической, теплоэнергетической, металлургической и других отраслях промышленности для измерения содержания частиц, обладающих магнитными свойствами, в аммиаке, паре, конденсате, циркулирующей воде и т

Изобретение относится к контролю качества магнитных материалов Цель изобретения - повышение производительности контроля, достигается тем

Изобретение относится к способам определения температуры спекания ферритовых изделий в туннельных печах вагонеточного типа и может быть использовано в серийном производстве ферритовых изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении магнитной восприимчивости и удельной электропроводности горных пород и руд образцов, в обнаружениях, на стенках горных выработок , в скважинах и т

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля качества слюдяного сырья, в частности мусковитого и флогопитового, путем определения таких технологически важных критериев качества, как основной выход подборов и тангенс угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для количественного определения группового состава нефтяных остатков при переработке и добыче нефти

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения рода и критической температуры сверхпроводящих образцов малых размеров, включений сверхпроводящей фазы

Изобретение относится к магнитным методам контроля качества твердых сплавов системы карбиды вольфрама - кобальт и может быть использовано для определения концентрации вольфрама в исследуемых образцах

Изобретение относится к неразрушающему контролю изделий магнитным методом и может быть использовано при обнаружении дефектов в ферромагнитных изделиях (прокате, сварных соединениях, фасонных изделиях)

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к измерению одной из сопутствующих переменных в частности путем исследования магнитного параметра поля рассеяния и может быть использовано в диагностике технического состояния трубопроводов

Изобретение относится к технике исследования материалов, в частности к технике обнаружения металлических включений в диэлектрических материалах, и может найти применение в химикофармацевтическом производстве, пищевой, микробиологической и химической промышленностях

Изобретение относится к измерительной технике для неразрушающего контроля качества материалов и предназначено для локального измерения ферромагнитной фазы аустенитных сталей при литье, в заготовках и готовых изделиях, сварных швах, наплавках и др

Изобретение относится к физике, а именно к системам контроля

Изобретение относится к области физических методов измерения магнитных характеристик веществ, а точнее к тем из них, которые используются при повышенных и высоких температурах

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники в машиностроении и черной металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий
Наверх