Устройство для обнаружения дефектов поверхности

 

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов на изделиях с оптически грубой поверхностью. Изобретение позволяет повысить надежность контроля. Устройство для обнаружения дефектов поверхности содержит излучатель, формирующую диафрагму , фотоприемник и усилитель. С целью упрощения конструкции и повышения быстродействия контроля устройство снабжено оптическим выравнивателем (например, поляризатором ) и корректором, расположенным по ходу зеркально отраженных лучей, а фотоприемник расположен в пересечении диффузионных и переломленных зеркальных лучей. 1 ил.

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 6 01 N 21/47, 21/88

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4624498/25 (22) 26.12.88 (46) 30.06.91. Бюл. М 24 (71)Тульский политехнический институт (72) П.А.Сорокин, И,А.Клусов, В.С.Котляров, Х.Т.Трифонов, В,Л.Чистяков и С.B,Ôåäîðîâ (53) 535.24(088. 8) (56) Заявка Великобритании N 1350189, кл. 6 01 N21/32,,1974, Авторское свидетельство СССР

М 1495693, кл. 6 01 N 21/47, 1988. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБНАРУЖЕНИЯ

ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть исИзобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов на деталях с оптически грубой поверхностью.

Целью изобретения является повышение надежности обнаружения дефектов.

На чертеже представлена схема устройства.

Устройство для обнаружения дефектов поверхности состоит из излучателя 1, создающего световой поток, формирующий диафрагмы 2, оптического выравнивателя (поляризатора) 3, расположенного по ходу зеркально отраженных лучей зеркала 4 для отклонения зеркально отраженного светового потока, фотоприемника 5, расположенного в точке пересечения диффузно-отраженных и переломленных зеркальных лучей, усилителя 6 и корректора 7.

„„5U„„1659796 А1 пользовано для обнаружения механических дефектов на изделиях с оптически грубой поверхностью. Изобретение позволяет повысить надежность контроля. Устройство для обнаружения дефектов поверхности содержит излучатель, формирующую диафрагму, фотоприемник и усилитель. С целью упрощения конструкции и повышения быстродействия контроля устройство снабжено оптическим выравнивателем (например, поляризатором) и корректором, расположенным по ходу зеркально отраженных лучей, а фотоприемник расположен в пересечении диффузионных и переломленных зеркальных лучей. 1 ил, С помощью оптического выравнивателя (в качестве которого может быть использован поляризатор света), управляемого корректором, добиваются того, что .при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные мгновенные значения амплитуд переменных составляющих оптических сигналов, определяемые рельефом контролируемой поверхности, равны между собой. При отсутствии автоматического устройства корректором является оператор-контролер.

Устройство работает следующим образом.

Излучатель 1 и щелевая диафрагма 2 формируют на поверхности контролируемого изделия 8 световую марку. Зеркально отраженные световые потоки выравниваются поляризатором 3. С его помощью обеспечивается равенство абсолютных мгновенных

1659796

2 значений флуктуаций интенсивности зеркальной и диффузной составляющих светового потока, подающих на фотоприемник, Выравненные зеркально отраженные световые потоки зеркалом 4 подаются на вход фотоприемника 5, расположенный в ходе лучей диффуэно-отраженного светового потока. С помощью выравнивателя (поляризатора) 3 добиваются того, что при отсутствии дефектов на поверхности контролируемой детали абсолютные многвенные значения амплитуд переменных составляющих оптических сигналов, определяемые рельефом контролируемой поверхности, равны между собой. При отсутствии дефектов переменные составляющие оптических сигналов находятся в противофазе, так как их фазы определяются соответственно зеркальным и диффузным характером отражения света и после сложения фотоприемником взаимно компенсируются, При наличии на поверхности детали дефектов, не нарушак>щих микрорельеф поверхности (посторонние включения в структуру материала, неодинаковая цветность участков поверхности и т,п.), импульсы оптических сигналов or дефектов синфазны, так как не происходит изменения характера индикатриссы рассеивания света, и интенсивность света, отраженного как зеркально, так и диффуэно, изменяется синфазно. В зависимости от коэффициента отражения участка детали и после сложения фотоприемником 5 вырабатывается сигнал, 5 который подается на усилитель 6, где формируется импульс на разбраковку.

Формула изобретения

Устройство для обнаружения дефектов

10 поверхности, содержащее излучатель, оптически связанный через формирующую диафрагму с фотоприемником, а также соединенный с фотоприемником усилитель, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью

15 повышения надежности обнаружения дефектов, устройство дополнительно содержит оптический выравниватель и корректор, соединенный входом с фотоприемником, а выходом — с оптическим выравнивателем, 20 при этом фотоприемник оптически связан с оптическим выравнивателем, оптические оси излучателя и оптического выравнивателя пересекаются в плоскости установки контролируемой детали, а проходящая через

25 точку их пересечения и фотоприемник ось канала диффузно-рассеянного излучения не совпадает с биссектрисой угла между оптическими осями излучателя и оптического выравнивателя.

Устройство для обнаружения дефектов поверхности Устройство для обнаружения дефектов поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему оптическому контролю и может быть использовано при обнаружении пор и трещин в металлических и диэлектрических изделиях

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для обнаружения и распознавания дефектов поверхности деталей в электронике

Изобретение относится к исследованию и контролю материалов с помощью электрооптических средств и может быть использовано для технологического контроля и диагностики в процессе производства, эксплуатации и анализа отказов проволочных тензорезисторов из-за наличия дефектов в Изобретение относится к исследованию и контролю материалов с помощью электрооптических средств и может быть использовано для технологического контроля и диагностики в процессе производства, эксплуатации и анализа отказов проволочных тензорезисторов из-за наличия дефектов в их защитных пленках

Изобретение относится к контрольно-юстировочной технике и предназначено для использования при автоматическом обнаружении локальных поверхностных дефектов на изделиях

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для регистрации отверстий в заготовках фотошаблонов, используемых при изготовлении полупроводниковых приборов методом фотолитографии

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано при бесконтактном контроле дефектов и профилей поверхности изделий

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в составе автомата контроля дефектов поверхности изделий

Изобретение относится к области геофизики и позволяет оперативно фиксировать наличие облаков, вспышек молний, следов падающих метеоритов

Изобретение относится к оптическим методам измерения рассеивающих свойств плоских отражающих объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для получения информации о характеристиках 1 обьектов на земной поверхности при наблюдении их через слои атмосферы с неравномерной пространственной структурой типа разрывной облачности

Изобретение относится к атмосферной оптике и может быть использовано для измерения характеристик турбулентных аэрозольных меоднородностей

Изобретение относится к измерительной технике и приборостроению и может быть использовано в различных отраслях народного хозяйства для определения удельной поверхности контакта фаз газожидкостных эмульсий, а также суспензий и эмульсий жидкость-жидкость

Изобретение относится к оптическим устройствам для излучения размеров, формы и электромагнитных свойств частиц по угловому распределению рассеянного ими света

Изобретение относится к метеорологии, гидрологии, охране окружающей среды

Изобретение относится к технике определения параметров аэрозолей оптическими методами и может быть использовано для градуировки нефелометров, имеющих переменную в зависимости от угла рассеяния чувствительность

Изобретение относится к технической физике, в частности к измег ни характеристик рсфракшшн п
Наверх