Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах
Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах, заключающийся в пропускании сфокусированного оптического излучения через нелинейный кристалл и сканировании объема кристалла с последующей регистрацией прошедшего излучения на частоте оптических гармоник, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности к дефектам, малым по сравнению с когерентной длиной взаимодействия, оптическое излучение пропускают под углом к оптической оси кристалла нелинейной среды, не равным 
c, где c - угол между оптической осью кристалла нелинейной среды и направлением, для которого 
K(c) = 0, где K - волновая расстройка синхронизации, а о наличии дефектов судят по интенсивности излучения на частоте оптических гармоник.
Похожие патенты:
Способ дефектоскопии поверхности изделий // 1617342
Изобретение относится к контрольно-юстировочной технике и предназначено для использования при автоматическом обнаружении локальных поверхностных дефектов на изделиях
Способ регистрации сквозных отверстий в непрозрачных покрытиях, нанесенных на прозначную подложку // 1606919
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для регистрации отверстий в заготовках фотошаблонов, используемых при изготовлении полупроводниковых приборов методом фотолитографии
Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано при бесконтактном контроле дефектов и профилей поверхности изделий
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в составе автомата контроля дефектов поверхности изделий
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и распознавания дефектов на поверхности контролируемых изделий по видам
Изобретение относится к дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений, наплавок и основного металла изделий
Изобретение относится к измерительной технике
Электронный анализатор дефектоскопа // 1518739
Изобретение относится к контрольно-сортировочной технике и может быть использовано для настройки порога срабатывания фотоэлектрических поверхностных дефектоскопов
Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций
Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д
Способ обнаружения дефектов поверхности // 2142622
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали
Контрольно-сортировочный автомат // 2142860
Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий
Способ получения изображения развертки поверхности деформированных цилиндрических объектов // 2155378
Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях
Способ исследования проводящей поверхности // 2164020
Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях
Способ обнаружения дефектов поверхности // 2165612
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения
Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
