Кювета для рентгеноструктурного анализа

Авторы патента:

G01N23/20 - с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использовано для рентгеноструктурных и рентгенофазовых исследований микроколичеств веществ. Целью изобретения является повышение чувствительности измерений микроколичестэ веществ путем снижения уровня фона. Это достигается тем, что кювета выполнена из полированной пластины бездислокационного кремния, рабочая поверхность которой не совпадает с любой из возможных кристаллографических плоскостей монокристалла. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

s G 01 N 23/20

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛ ЬСТВУ (21) 4495590/25 (22} 17.10,88 (46) 30.06.91, Бюл,¹ 24 (72) А,С,Нога, Л.О.Василечко, Б.Н.Копко, Н,А.Кокоулин, В.И,Балук и С.И.Осечкин (53) 548.734 (088.8) (56) Руководство по рентгеновскому исследованию минералов / Под ред. В.А.ФранкКаменецкого, М.: Недра, 1975, с. 131.

Гониометр ГУР-8, Техническое описание и инструкция по эксплуатации, Л.: ЛОМО, 1982, с,11. (54) КЮВЕТА ДЛЯ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА

Изобретение относится к рентгеност-, руктурному анализу и может быть использовано для рентгеноструктурного и рентгенофазового анализа микроколичеств веществ.

Целью изобретения является повышение чувствительности измерений микроколичеств веществ.

На фиг.1 представлена предлагаемая кювета, содержащая диск с углублением; на фиг.2 вЂ” диффузионный фон от стандартной кюветы из плавленого кварца (1) и от предлагаемой кюветы (2).

Кювета для рентгенографического анализа выполнена из монокристаллического материала, Повышение чувствительности при про.ведении рентгеноструктурных измерений микроколичеств веществ объясняется значительно более низким уровнем диффуэ. Ж„„1659808 А1 (57) Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа и может быть использовано для рентгеноструктурных и рентгенофазовых исследований микроколичеств веществ. Целью изобретения является повышение чувствительности измерений микроколичеств веществ путем снижения уровня фона, Это достигается тем, что кювета выполнена из полированной пластины бездислокационного кремния, рабочая поверхность которой не совпадает с любой иэ возможных кристаллографических плоскостей монокристалла. 2 ил. ного рассеяния от материала кюветы, выполненной из монокристаллического вещества, с поверхности которого удален нарушенный слой, по сравнению с традиционно используемыми для изготовления кювет материалами.

Пример. В качестве материала для изготовления кюветы был выбран монокристалл кремния. При выборе материала при-. няты во внимание его дешевизна, отработанная технология производства и механической обработки, механические и физические свойства.

Вырезают пластину заданных размеров из слитка монокристалла в произвольном направлении. Затем обрабатывают поверхность шлифовкой и полировкой, Остаточный нарушенный слой удаляют травлением поверхности в травителе, состоящем из концентрированных азотной (НАВОЗ), плавиковой (HF) и уксусной

1659808 вительность рентгенографических исследований микроколичеств веществ.

ФОО

10 20 50 90 „,-а 60 Ю 80 да 28, Составитель В.Воронов

Техред M.Моргентал Корректор О.Ципле

Редактор М,Циткина

Заказ 1837 Тираж 414 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва„Ж-35. Раушская наб., 4/5 о

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101 (СНзСООН) кислот, взятых в объемном соотношении 6:1;3, на протяжении 2 вЂ” 3 мин, Рентгенографические исследования проводят на стандартном оборудовании по стандартным методикам рентгенографических исследований.

Предлагаемая конструкция кюветы в сравнении с прототипом обладает следующим преимуществом: уровень диффузного фона на дифрактограмме, вносимый материалом кюветы (кривая 2), в 2 вЂ” 6 раза ниже в сравнении с фоном, получаемым от стандартной кюветы иэ плавленого кварца (кривая 1). Указанное преимущество предлагаемой кюветы позволяет повысить чувстФормула изобретения

5 Кювета для рентгеноструктурного анализа, имеющая плоскую полированную поверхность с углублением для помещения пробы, отличающаяся тем, что, с целью повышения чувствительности измерений

10 микроколичеств вещества путем снижения уровня фона. кювета выполнена из монокристаллического материала, а ее поверхность не совпадает ни с одной иэ возможных кристаллографических плоско15 стей монокристалла,

Изобретение относится к области средств контроля материалов с помощью рентгеновских лучей и может быть использовано при контроле качества катализаторов , содержащих дисперсные металлы и окислы металлов

Устройство для получения рентгеновских топограмм монокристаллов // 1658050

Изобретение относится к научному приборостроению, в частности к камерам для получения рентгеновско го топографического изображения деОектов структуры монокристаллов.Паль изобретения - повышение контраста топограЛического изображения

Способ определения радиуса кривизны // 1656421

Изобретение относится к рентгеновской оптике

Рентгенотопографический способ выявления дефектов структуры кристаллов // 1651173

Изобретение относится к области исследования реальной структуры монокристаллов методом рентгеновской топографии

Способ получения электронограмм типа косых текстур тонких пластинчатых кристаллов // 1649397

Способ изготовления фокусирующих диспергирующих элементов из монокристаллов гидрофталатов // 1636860

Изобретение относится к способам изготовления фокусирующих кристаллов-анализаторов из монокристаллов гидрофталатов щелочных металлов

Способ контроля коррозионной стойкости сварных швов нержавеющих сталей // 1636746

Изобретение относится к контролю качества наплавленного металла и сварных швов

Дифрактометр-разбраковщик монокристаллов // 1636745

Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению, и может быть использовано в качестве средст%а контроля ориентировки монокристаллов

Способ рентгеноструктурного анализа сплавов // 1635091

Изобретение относится к исследованию или анализу материалов, в частности к способам ренгтеновского определения химического состава

Гониометрическая приставка // 1631379

Изобретение относится к области научного приборостроения, в частности к средствам рентгенографического исследования материалов в процессе силового воздействия и радиации

Держатель образцов для рентгенофазового анализа // 2100798

Устройство для измерения плотности // 2102717

Рентгеновский рефлектометр // 2104481

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Способ неразрушающего контроля геометрии теневой гидридлитиевой радиационной защиты // 2113737

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Способ юстировки дифрактометра // 2114420

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Способ анализа липопротеинов в плазме или сыворотке крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния // 2115121

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Устройство для определения состава и структуры неоднородного объекта (варианты) // 2119660

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Детектор рентгеновского излучения // 2120620

Способ текстурного анализа металлов и сплавов // 2122200

Блок детектирования многоканального дефектоскопа // 2122201

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов