Способ измерения деформаций

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к измерению деформаций твердых тел с применением реплик. Целью изобретения является расширение технологических возможностей путем исследования труднодоступных зон натурных конструкций. Указанная цель достигается за счет того, что на репликах копируют микрорельеф исследуемой поверхности до и после деформации, регистрируют его на одну фотопластинку, а расшифровку полученной информации ведут методами спекл-интерферометрии. Для получения реплик используют оптически прозрачный однородный материал и подложки в виде оптически прозрачных пластин равной толщины. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

5 Q 01 В 11/16

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4229344/28 (22) 13.04.87 (46) 15.07.91. Бюл. М 26 (71) Харьковский авиационный институт им.

Н. Е. Жуковского (72) В. И. Цыганов, С. B. Шкараев, А. И, Макеев, В, Г. Лейбов и С. А, Ярмольчук (53) 531.781.2(088.8) (56) Теокарис П. Муаровые полосы при исследовании деформаций. — М.: Мир, 1972, с. 324. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к измеИзобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к измерению деформаций твердых тел с применением реплик.

Целью изобретения является расширение технологических возможностей путем исследования труднодоступных зон натурных конструкций.

На фиг. 1 изображены приспособления, используемые для получения реплик исследуемой поверхности; на фиг. 2 — оптическая схема, используемая для регистрации рельефов реплик.

На фиг. 1 и 2 показаны объект 1, шаровые опоры 2, матрица 3 с отверстием 4, реплика 5, опоры 6 для подложки 7 в виде оптически прозрачной пластины, рамка 8 со сквозным отверстием 9, шаровые опоры 10. идентичные установленным на обьекте 1, лазер 11, объектив 12, коллимирующая линза 13, объектив 14, фотопластинка 15.

Способ осуществляется следующим образом..БЫ 1663414 А1 рению деформаций твердых тел с применением реплик. Целью изобретения является расш ирен ие технологических воэможностей путем исследования труднодоступных эон натурных конструкций, Указанная цель достигается за счет того, что на репликах копируют микрорельеф иследуемой поверхности до и после деформации, регистрируют его на одну фотопластинку, а расшифровку полученной информации ведут методами спекл-интерферометрии. Для получения реплик используют оптически прозрачный однородный материал и подложки в виде оптически прозрачных пластин равной толщины. 2 ил, На объекте 1 устанавливают три шаровые опоры 2. На эти опоры 2 устанавливают матрицу 3 с отверстием 4 и с помощью тарированных усилий прижима придают ей заданное положение относительно опор 2. В отверстие 4 матрицы 3 помещают размягченный оптически прозрачный материал, затем с внешней стороны выравнивают его подложкой 7 в виде оптически прозрачной пластины с эапрессовкой. В отверстии 4 матрицы 3 до достижения положения, когда подложка 7 войдет в контакт с опорами 6, прижав материал таким образом к исследуемой поверхности, выдерживают его до отверждения, затем отделяют полученную первую реплику 5 вместе с матрицей 3 и подложкой 7 от исследуемой поверхности и помещают в рамку 8 со сквозным отверстием 9, размещенную в оптическом измерительном устройстве, в качестве которого использован спекл-интерферометр.

С помощью тарированных усилий прижима матрице 3 придают заданное положе1663414 нив на шаровых опорах 10, идентичных установленным на объекте 1, Затем на первую реплику 5 r о стороны подложки 7 подают через расширяющий объектив 12 и коллимирующую линзу 13 когерентное излучение от лазера 11. Рассеянное первой репликой 5 волновое поле направляют в объектив 14 и регистрируют на фотопластинке 15, После этого первую реплику 5 вместе с подложкой удаляют из матрицы 3 с отверстием 4.

Объект 1 деформируют и повторяют вышеизложенную последовательность операций для второй реплики 5, При этом регистрацию волнового поля, рассеянного второй репликой 5, производят на ту же.фотопластинку 15. Расшифровку записанной на фотопластинке 15 информации ведут известными в спскл-интерферометрии методами.

Формула изобретения . Способ измерения деформаций, заключающийся в том, что иэ пластичного материала получают первую реплику иследуемой поверхности, деформируют объект; получают вторую реплику исследуемой поверхности, поочередно регистрируют рельеф обеих реплик в оптическом измерительном устройстве и по отличиям в рельефе опреде5 ляютдеформации,отличающийся тем, что, с целью расширения технологических воэможностей путем. исследования труднодоступных зон натурных конструкций, на объекте предварительно устанавлива10 ют три шаровые опоры, для получения каждой реплики на эти опоры устанавливают матрицу с отверстием, помещают в него размягченный оптически прозрачный однородный материал, подложкой в виде on15 тически прозрачных пластин прижимают

его к исследуемой поверхности, выдерживают до отверждения материала. отделяют его вместе с матрицей и подложкой от исследуемой поверхности. при регистра20 ции рельефов обеих реплик их устанавливают в оптическом измерительном устройстве на три шаровые опоры, идентичные установленным на объекте, для получения реплик используют подложки равной

25 толщины.

Составитель В. Костюченко

Редактор С. Никитина Техред M,Ìoð åHTàë Корректор M Демчик

Заказ 2257 Тираж 390 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат Патент", г. Ужгород. ул.Гагарина, 101