Устройство для контроля плоскостности кольцевых поверхностей

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности кольцевых поверхностей. Целью изобретения является повышение точности и достоверности контроля за счет увеличения числа контролируемых точек на поверхности. При измерении с помощью механизма 14 перемещают обойму 4 с щупами 5 - 8 в направлении контролируемой детали 18. В моменты электрического контакта каждого из наконечников 9 - 12, центры которых расположены в одной плоскости на линии в виде спирали Архимеда, с деталью 18 измеритель 15 формирует сигнал измерительной информации, который поступает в блок 16. Повторяют процедуру контроля в различных угловых положениях детали 18, которые фиксируются измерителем 3. После поворота детали 18 на 360° осуществляют обработку измерительной информации в блоке 16, а результаты выводят на блок 17 в виде отклонения от плоскостности. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)з G 01В 5/28

ГОСУДАРСТВЕН.ЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

V

О (д)

Ql (7с

fd

Фиг 1 (21) 4746368/28 (22) 06.10.89 (46) 15,08.91. Бюл. Гв 30 (71) Производственное объединение "Минский часовой завод" (72) И.Б.Борд, С.С.Соколовский, Б.В, Цитович и В.Л.Соломахо (53) 531.717(088.8) (56) Минск: Приборостроение, 1986, вып.8, с.3-5. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛОСКОСТНОСТИ КОЛЬЦЕВЫК ПОВЕРХНОСТЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности кольцевых поверхностей. Целью изобретения является повышение точности и достоверности контроля

ÄÄ5UÄÄ 1670356 А1 эа счет увеличения числа контролируемых точек на поверхности. При измерении с помощью механизма 14 перемещают обойму 4 с щупами 5-8 в направлении контролируемой детали 18. В моменты электрического контакта каждого из наконечников 9-12, центры которых расположены в одной плоскости на линии в виде спирали Архимеда, с деталью 18 измеритель 15 формирует сигнал измерительной информации, который поступает в блок 16. Повторяют процедуру контроля в различных угловых положениях детали 18, которые фиксируются измеоителем 3. После поворота детали 18 на 360 осуществляют обработку измерительной информации в блоке 16, а результаты выводят на блок 17 в виде отклонения от плоскостности. 2 ил.

1670356

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности кольцевых поверхностей.

Целью изобретения является повышение точности и достоверности контроля, На фиг.1 показана схема устройства для контроля плоскостности кольцевых поверхностей; на фиг,2 — разрез в сечении А-А на фиг.1.

Устройство содержит корпус 1, поворотный измерительный стол 2, измеритель

3 угла поворота стола 2, электроконтактный измерительный блок, выполненный в виде обоймы 4, подпружиненных в осевом направлении и изолированных друг от друга щупов 5-8 со сферическими наконечниками

9-12, центры которых расположены в одной плоскости А-А на линии в виде спирали 13

Архимеда, механизма 14 осевого отсчетного перемещения обоймы 4 и измерителя 15 линейных перемещений обоймы 4. Устройство содержит также блок 16 обработки измерительной информации и блок 17 отображения информации.

Устройство работает следующим образом, Закрепляют контролируемую деталь 18 на столе 2 и с помощью механизма 14 перемещают обойму 4 в направлении контролируемой детали 18. В моменты электрического контакта каждого иэ наконечников 9-12 с деталью 18 измеритель 15 формирует сигнал измерительной информации, который поступает в блок 16. Перемещение обоймы 4 прекращается после замыкания с деталью всех наконечников 9—

12, количество которых выбирается в соответствии с требованиями информативности контроля.

Затем возвращают обойму 4 в исходное

5 положение, поворачивают стол 2 на задан ный угол, который фиксируется измерителем 3, и повторяют процедуру контроля в новом угловом положении детали 18. Повторяют процедуру контроля до тех пор, пока

10 деталь 18 не поворачивается на полный оборот, и после этого осуществляют обработку измерительной информации в блоке 16 по заданному алгоритму, а результаты выводят на блок 17 в виде отклонения от плоскостно15 сти контролируемой поверхности.

Формула изобретения

Устройство для контроля плоскостности кольцевых поверхностей, содержащее корпус и установленные в нем поворотный иэ20 мерительный стол, измеритель угла поворота стола, электроконтактный измерительный блок, выполненный в виде соосной со столом обоймы, подпружиненных в осевом направлении и изолированных друг от

25 друга щупов со сферическими наконечниками, закрепленных в обойме параллельно ее оси, механизма осевого перемещения обоймы и измерителя линейных перемещений обоймы, блок обработки измерительной ин30 формации, подключенный к измерителю линейных перемещений и щупам, и блок отображения информации, о т л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности и достоверности контроля, центры сфериче35 ских наконечников щупов расположены в одной плоскости на линии в виде спирали

Архимеда.

1670356

А-A

Рие.2

Составитель В, Харитонов

Техред М.Моргентал Корректор С. Шевкун

Редактор С. Лисина

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 2735 Тираж 368 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Устройство для контроля плоскостности кольцевых поверхностей Устройство для контроля плоскостности кольцевых поверхностей Устройство для контроля плоскостности кольцевых поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области машиностроения, в частности к щуповым устройствам для контроля микрогеометрии поверхностей деталей преимущественно из вязкопластичных материалов, используемых в прецизионных машинах, приборах точной механики и автоматики, других изделиях машино-и приборостроения

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, а именно к измерениям шероховатости, и может быть использовано при поверке и градуировке приборов, в частности рефлектометров, Целью изобретения является повышение точности определения параметров в образце шероховатости, которая достигается тем, что в образце шероховатости, состоящем из стеклянной пластины и покрытия в виде одного или нескольких металлических слоев, выполняют наружный металлический слой в виде системы дискретных частиц одинаковой формы

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может найти применение в оптических и оптоэлектронных приборах

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки шероховатости поверхности

Изобретение относится к машиностроению, а именно к методам и средствам контроля износа и шероховатости поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для больших длин поверхностей деталей

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх