Способ измерения отклонений от прямолинейности

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для больших длин поверхностей деталей. Цель изобретения - повышение производительности и точности измерений за счет регистрации ординат точек одновременно на нескольких интервалах и непрерывно в пределах длины каждого интервала. При измерении контролируемую деталь 10 и образцовые линейки 2 и 3 закрепляют на предметном столе 1, перемещают измеритель 4 с датчиками 5 - 9 на расстояние L<SB POS="POST">н</SB>, равное длине измерительной базы линеек 2 и 3. Ординаты измеряемых точек измеряют одновременно и непрерывно и преобразуют их в отклонение от прямолинейности совокупного профиля. Причем одновременно с регистрацией ординат профиля детали 10 производят измерение ординат точек образцовой поверхности линейки 2 с помощью датчика 11, которые учитывают при измерении путем коррекции текущих показаний датчиков 5 - 9. 1 з.п. ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я>л С 01 В 5/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

i 3

\ Ф

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4611368/25-28 (22) 01.12.88 (46) 15.11.90. Бюл. № 42 (72) Л.Л.Зайгман и Ю.П.Тимофеев (53) 531,717(088.8) (56) Авторской свидетельство СССР

¹ 338811886622, кл. G 01 В 5/28, 1969. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИИ

ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для больших длин поверхностей деталей.

Цель изобретения — повышение производительности и точности измерений за счет регистрации ординат точек одновременно на нескольких интервалах и непрерывно в пре„„ЯЯ, о 1606848 А1 делах длины каждого интервала. При измерении контролируемую деталь 10 и образцовые линейки 2 и 3 закрепляют на предметном столе 1, перемещают измеритель 4 с датчиками 5-9 на расстояние IH, равное длине измерительной базы линеек 2 и 3, Ординаты измеряемых точек измеря-; . ют одновременно и непрерывно и преобразуют их в отклонение от прямолинейности совокупного профиля. Причем одновременно с регистрацией ординат профиля детали

10 производят измерение ординат точек образцовой поверхности линейки 2 с помощью датчика 11, которые учитывают при измерении путем коррекции текущих показаний датчиков 5-9. 1 з.п,ф-лы, 3 ил.

1606848

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения отклонений от прямолинейности больших длин поверхностей деталей, Цель изобретения — повышение производительности и точности измерений.

На фиг. 1 показана схема измерения отклонений от плоскостности; на фиг. 2— схема измерения ординат точек профиля проверяемой поверхности; на фиг. 3 — схема измерения ординат точек проверяемой и образцовой поверхностей, Схема измерения отклонений от плоскостности содержит предметный стол 1, образцовые линейки 2 и 3, двухопорный измеритель 4 линейных перемещений и измерительные датчики 5 — 9, Способ осуществляют следующим образом.

На предметный стол 1 устанавливают образцовые линейки 2 и 3 и между ними закрепляют контролируемую деталь 10.

Датчик 5 устанавливают в начало контролируемого участка поверхности детали 10, Перемещают измеритель 4 на расстояние I„, равное длине измерительной базы линеек 2 и 3 и длине интервалов 1 между датчиками

5 — 9, т.е. I1 = 12 = ... = 4. В процессе перемещения измерителя 4 измерение ординат измеряемых точек производят одновременно и непрерывно, Преобразование ординат в отклонения совокупного профиля от прямолинейности показано на фиг.2, где датчики 5-9 ... m каждый на своем интервале сканирования 1(xo х х1); 2(xi х х 2);

3(х2 х - x3); ... (х1-1 х xl); ... П(хп-1 — -x хо) зарегистрировали соответственно следующие ординаты профилей интервалов относительно собственного начала координат:

y1(x); У2(х); УЗ(х); „, У (х), ... yn (х), что обусловлено настройкой датчиков 5 — 9, ... в начальном положении сканирования на нуль, т.е.

5 6 7 у!(0) =у2(Х1) =уз(х2) =0;

8 ...yl (x l ) 0

m ...у„(х „! ) =О, где верхний индекс означает порядковый номер прибора, нижний индекс — порядковый номер сканируемого интервала, причем m-n.

Ясно, что каждый иэ датчиков 5-9„..,m, сканируя конечную точку интервала, прежде являвшуюся начальной для последующего датчика, регистрирует в ней значение ординаты, показывающее насколько смещены друг относительно друга начала координат датчиков 5 — 9,..., m

3 уз(х) = y2(x2) + уэ (x) = д! + уг (x2) +

+уз (x)= д1+д2 +уз (х);

I yl(x) = д! + д2 + дз+ „, + д — 1 +

8 — 1

+ yl8 х) =,>, äl + yl (х);

l =1 п уп(х) = д! + д2 + ... + д!! — 1

n — 1

+ у! (х) =, д! + yn (х).

30 1=1

Отсюда можно записать выражения для совокупного профиля:

5 у !(х) = y !(х) (х l> s X s x ) у (х) = О + у (х) (Х S x S х g)

7 уз(х) =д! +д +у (х) (х Sx х ) 1 вЂ

8 у l(X) = о + у (х) (X — S X S x )

I=!

n — 1

Ill у (Х) = i д + у „(Х:. ) х (Х „,1 S X S X n )

1=!

При использовании дополнительного

50 датчика 11 одновременно с измерением ординат измеряемых точек детали 10 производят измерение ординат точек образцовой поверхности линейки 2 и учитывают ортогональные смещения измерителя 4 из55 за отклонений от параллельности, плоскостности линейки 3 относительно линейки 2.

Текущие показания датчиков 5-9 ... m корректируют с учетом текущих показаний датчика 11. у1 !х1! = д1; yZ (хг) =д2, 5 у37(хз) = дэ; „, дз

8 — 1 8 — 1

yl — 1 (xl — 1)=д — !, У! (XI) = 4; ". yn (xn) = дп .

Тогда ординаты профилей каждого интер10 вала, приведенные к единому началу координат, помещенному в точку О, будут соответственно по интервалам следующими:

1 у1(х) = у! (х);

2 уг(х) = y1(x1) + у2 (х) = д! + уг (х);

1б06848

Формула изобретения

1. Способ измерения отклонений от прямолинейности, заключающийся в том, что при помощи двухопорного измерителя линейных перемещений измеряют ординаты точек профиля проверяемой поверхности относительно вспомогательной плоскости, материализованной двумя установленными в одну плоскость образцовыми поверхностями, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности и точности измерений, контролируемую деталь располагают между образцовыми поверхностями так, чтобы измеряемая и образцовая поверхности были параллельны, а измерение ординат измеряемых точек hpoизводят одновременно и непрерывно вдоль

5 линии измерения в пределах интервалов, ограниченных длиной измерительных баэ образцовых поверхностей.

2, Способ по и. 1, отл и ча ю щи йс я тем, что одновременно с измерением орди10 нат измерительных точек профиля производят измерение ординат точек образцовой поверхности по линии измерения, кот0рые учитывают при определении отклонений от прямолинейности.

"I606848

Составитель В. Харитонов

Редактор M. Келемеш Техред М.Моргентал Корректор Э. Лончакова

Заказ 3544 Тираж 493 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ измерения отклонений от прямолинейности Способ измерения отклонений от прямолинейности Способ измерения отклонений от прямолинейности Способ измерения отклонений от прямолинейности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к контролю дефектов поверхности листовых материалов

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля отклонений формы поверхности кузовов автомобилей и других изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля поверхностей железнодорожных колес

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх