Установка для настройки оптических тензометров

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при настройке оптических тензометров, предназначенных для измерения тепловых деформаций образцов сложной формы. Целью изобретения является обеспечение возможности настройки тензометров в случае образцов сложной формы. Узлом регулирования кривизны подложки придают подложке , в которой закреплены торцы световодов, цилиндрическую форму, идентичную форме исследуемого образца. Подают излучение на торцы световодов. С помощью системы управления интенсивностью излучения и блока регулирования спектрального состава излучения моделируют температурные поля. Фотоприемником регистрируют излучение . Изменения интенсивности излучения связаны с изменениями геометрической формы и размеров образца, его температурного поля. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si)s 6 01 В 11/16

ГОСУ4АРСТВЕНН1ЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4709964/28 (22) 26.06,89 (46) 23.09.91. Бюл.hL35 (71) Институт проблем прочности АН УССР (72) В.B.Ðóáàí, Н,А.Фот, В.В.Ниженко и

B.ÅÌàð÷åHêo (53) 531.781.2 (088.8) (56) ДубМновский А,Н., Панков Э.Д. Стендовые испытания и регулировка оптико-электронных приборов. — Л.: 1986, с.30 — 31. (54) УСТАНОВКА ДЛЯ НАСТРОЙКИ ОПТИЧЕСКИХ ТЕНЗОМЕТРОВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при настройке оптических тензометров, предназначенных для измерения тепловых деИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при настройке оптических тенэометров, предназначенных для измерения тепловых деформаций образцов сложной формы, Целью изобретения является обеспечение возможности настройки тензометров а случае образцов сложной формы.

На фиг.1 показана общая схема установки для настройки оптических тензометров; на фиг.2, 3 — исходное и деформированное состояния имитатора образца.

Установка для настройки оптических тензометров содержит имитатор образца, состоящий из подложки 1 и системы дискретных излучателей, закрепленных на под. ложке 1, и размещенный на оси, систему управления интенсивностью излучения, узел регулирования кривизны подложки 1, блок регулирования спектрального состава

„„ЯЦ„„1б79182 А1 формаций образцов сложной формы. Целью изобретения является обеспечение возможности настройки тензометров в случае образцов сложной формы. Узлом регулирования кривизны подложки придают подложке, в которой закреплены торцы световодов, цилиндрическую форму, идентичную форме исследуемого образца. Подают излучение на торцы световодов. С помощью системы управления интенсивностью излучения и блока регулирования спектрального состава излучения моделируют температурные поля, Фотоприемником регистрируют излучение. Изменения интенсивности излучения связаны с изменениями геометрической формы и размеров образца, его температурного поля, 3 ил. излучения, подключенный к системе дискретных излучателей, устройство 2 для введения фона, установленное на одной оси с имитатором образца, система дискретных излучателей выполнена а виде источника 3 излучения и световодоа 4, одни концы которых закреплены на подложке 1, а другие соединены с источником 3 излучения, диаметр 0 световодов 4 и расстояние h между поверхностями соседних световодов 4 связаны соотношение 0 = (1,0„.2,0)h, Установка работает следующим образом.

Узлом регулирования кривизны подложки 1 придают подложке цилиндрическую форму, идентичную форме исследуемого образца. Фотоприемник 5 настраиваемого оптического тензометра устанавливают на одной оси с имитатором и устройством для введения фона. Подают излучение от источ1679182 ника 3 на торцы световодов 4. Включают устройство 2 для введения фона, Кривизну подложки 1 регулируют узлом регулирования, Температурные поля моделируют с помощью системы управления интенсивно- 5 стью излучения и блока регулирования спектрального состава излучения. Фотоприемник 5 регистрирует излучение. В процессе настройки измеряют изменения величины сигнала с фотоприемника 5 и ус- 10 танавливают соответствие между величинами перемещения краев подложки 1, зарегистрированного фотоприемника 5, и показаниями эталонных приборов.

Установка позволяет имитировать из- 15 менения геометрической формы образца, его размеров и температурного поля.

Формула изобретения

Установка для настройки оптических тензометров, содержащая имитатор образ- 20 ца, состоящий иэ подложки и системы дискретных излучателей, закрепленных на подложке, и размещенный на оси, и систему управления интенсивностью излучения, о тл и ч а ю щ а я с я тем, что, с целью обеспечения возможности настройки тензометров в случае образцов сложной формы, она снабжена узлом регулирования кривизны подложки блоком регулирования спектрального состава излучения, подключенного к системе дискретных излучателей, и устройством для введения фона установленнымна одной оси с имитатором образца, система дискретных излучателей выполнена в виде источника излучения и световодов, одни концы которых закреплены на подложке, а другие соединены источником излучения, диаметр 0 световодов и расстояние h между поверхностями соседних световодов связаны соотношением 0 = (1,0...2,0)h.

1679182

Составитель В.Костюченко

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор Т.Малец

Редактор О,Стенина

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 3200 Тираж 368 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113935, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5