Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю. При измерении соответствующих сигналов J ,U,J, установке преобразователя на поверхность контролируемого изделия, возбуждении преобразователя токами трех частот f, .fj, измерении соответствующих сигналов ,116преобразователя формируют сигнал Ф/, характеризующий величину зазора Н0и сигнал M-i, характеризующий величину удельной электрической проводимости основы эталонного изделия. Формируют сигнап Ф2, характеризующий величину зазора между преобразователем и основой контролируемого изделия , сравнивают величины Фг и Ф,, итеррационно изменяют величину зазора между преобразователем и контролируемым изделием до получения равенства Фх Ф,, определяют соответствующее равенству перемещение Hfc преобразователя и толщину Н9 диэлектрического покрытия на контролируемом изделии, формируют сигнал М7, характеризующий величину удельной электрической проводимости контролируемого изделия, не изменяя положения преобразователя, его возбуждают токами с частотами f,, fj-и f4, измеряют соответствующие значения сигналов преобразователя LL LL, Ug и формируют сигнал Z, характеризующий величину относительной магнитной проницаемости finK материала основы контролируемого изделия по величине Z и по предварительно полученной зависимости Z f jurK определяют величину магнитной проницаемости основы контролируемого изделия и величину удельной электрической проводимости 0v материала основы контролируемого изделия. 5 ил. со с ON 00 ю XI (Л СА)

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

llO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4673900/28 (22) 04.04.89 (46) 07,11.91.Бюл.¹ 41 (71) Самарский политехнический институт им.В. В, Куйбышева (72)А.P.Øèøêèè, К.Л,Куликовский и О.М.Самарин (53) 620.179.142.5.6(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1446548, кл. G 01 N 27/90, 05.05.87. (54) СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЗЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю. При измерении соответствующих сигналов U,U,,Us, установке преобразователя на поверхность контролируемого иэделия, возбуждении преобразователя токами трех частот f, Я„1З, измерении соответствующих сигналов 0„,0,,0 преобразователя формируют сигнал Ф<, характеризующий величину зазора Ни сигнал М, характеризующий величину удельной электрической проводимости основы эталонного изделия. Формируют сигнал Ф, характеризующий величину зазора между преобразоИзобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для измерения удельной электрической проводимости о; относительной магнитной проницаемости,и электропроводящих изделий и материалов, а также для измерения толщины Нэ диэлектрических покрытий на них

Цель изобретения — расширение области использования за счет контроля также

„„ „„1689753 А1

csi)s G 01 В 7/10, G 01 N 27/90 вателем и основой контролируемого изделия, сравнивают величины Ф, и Ф,, итеррационно изменяют величину зазора между преобразователем и контролируемым изделием до получения равенства Ф, = Ф,, определяют соответствующее равенству перемещенйе Н„преобразователя и толщину Н диэлектрического покрытия на контролируемом изделии, формируют сигнал М„характеризующий величину удельной электрической проводимости контролируемого изделия, не изменяя положения преобразователя, его возбуждают токами с частотами f„, f и f,, измеряют соответствующие значения сигналов преобразователя

О, О, U< и формируют сигнал 2, характеризующий величину относительной магнитной проницаемости,и„„материала основы контролируемого иэделия по величине Z u по предварительно полученной зависимости Z = f р„, определяют величину магнитной проницаемости основы контролируемого изделия и величину удельной электрической проводимости и, материала основы контролируемого иэделия. 5 ил. изделий с ферромагнитной основой и повышении информативности.

На фиг.1 изображена структурная схема устройства, реализующего способ; на фиг.25 показаны зависимости, поясняющие способ, U = f (8) при а„„, U = f (о,) при р«,, д =

= f (1/Д и 0 = f (P I) соответственно.

Устройство, реализующее способ, состоит из параметрического вихретокового преобразователя 1 (ВТП1), содержащего l689753 расположенный в корпусе 2 диэлектрический каркас 3, на котором размещена ка,тушка 4 индуктивности, а также шести енераторов 5-10 синусоидального напряжения, выходы которых подключены к вхо,дам первого блока 11 сложения.

Устройство содержит также последовательно соединенные преобразователь 12 напряжение-ток, подключенный входом к выходу блока 11 сложения, первый усилитель 13, фильтр 14 нижних частот и второй усилитель 15, первый, второй и третий измерительные каналы 16-18, входы которых подключены к выходу усилителя 15, а выходы — к входам второго блока 19 сложения.

Выход блока 19 сложения подключен к первому цифровому вольтметру 20.

Устройство содержит также четвертый, пятый и шестой измерительные KBH8flbl 2 123, входы которых подключены K выходу первого усилителя 13, а выходы — к входам третьего и четвертого блоков 24 и 25 сложения, второй цифровой вольтметр 26, подключенный к выходу блока 24 сложения, регулируемый источник 27 опорного напряжения и гальванометр 28, первый и второй входы которого подключены соответственно к выходу блока 25 сложения и к выходу регулируемого источника 27 опорного напряжения, Ус ройство содержит также микрометрический винт 29 и механический индикатор

30 перемещений. С помощьк: микрометрического винта 29 каркас 3 может перемещаться внутри корпуса 2, а величину этого перемещения измеряют индикатором 30, корпус которого закреплен на крышке 31 вихретокового преобразователя, а подвижный шток касается поверхности каркаса 3.

Крышка 31 неподвижно закреплена относи. ельно корпуса 2. Каждый из шести измери, ельных каналов 16-18, 21-23 содержит последовательно соединенные полосовой фильтр и амплитудный детектор(на фиг.1 не показаны), выход которого является выходом измерительного канала, в вход полосового фильтра является входом измерительного канала.

Первый вывод катушки 4 подключен к точке соединения блоков 12 и 13 (к первому выходу блока 12), а второй вывод — к второму выходу блока 12 (земля), относительно которого измеряется напряжение сигналов ВТП . На чертеже также показаны контролируемое изделие 32 и диэлектрическое покрытие 33 на нем.

В описании использованы следующие обозначения: и — величина удельной электрической проводимости, См;

55,и „вЂ” величина относительной магнитной проницаемости;

R — радиус вихретокового преобразователя (ВТП), М;

M = 4 л 10 7 Гн/M — магнитная постоянная;

U — амплитуда сигнала ВТП; к.макс, рп.Кмакс, 01смин рп.Кмин СООтвЕТственно максимальная.и минимальная величины cr и р„для материала контролируемого иэделия;

0, „и„,с — соответственно величина 0 è

/ для образцового изделия;

e2xf — круговая частота тока возбуждения; а,, è „„— соответственная величина 0 и р для материала контролируемого изделия.

Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий осуществляют следующим образом.

Вихретоковый преобразователь устанавливают с зазором Но на образцовое изделие (ОИ). Величину Н, выбирают равной величине максимального рабочего зазора между торцом ВТП и проводящей поверхностью контролируемого изделия (КИ), а величины сп. ттт, О, выбирают из условий Ок.мин <

< Остр< Окк.макс, /4нмин < /4н.сра < /4п.к.макс. Для создания зазора Н, между ВТП и ОИ (ОИ не имеет диэлектрического покрытия) устанавливают диэлектрическую пластину толщиной Н,.

Известно, что влияние о на U при установке ВТП на неферромагнитный мате иал выражается через параметр P, = R сгв,ио.

При установке ВТП на ферромагнитный материал влияние а и,и„на U выражается через параметр рз = R ЙВрл урл, если выполняется условие фд > 7.5 — 10. Для выполнения условия фа > 10 в первом такте измерения U ВТП возбуждают синусоидальным током частотой f, и измеряют амплитуду сигнала — 0, а величину f, выбирают из соотношения (P > 10);, :л.-,.« (1) R /4o Ок.мин

На фиг.2 изображена зависимость U* = ф,) при различных значениях а,построенная с учетом известных зависимостей, где 0*=0/0<,— относительная амплитуда ВТП, U = й) L Y, — амплитуда ВТП в воздухе (В = О), I — амплитуда тока возбуждения, Lo — индуктивность катушки ВТП, а =, Н вЂ” зазор между ВТП и иэделием, 2Н

Из анализа зависимостей фиг.2 видно, что для определения величины а (H) с отстрой1689753 кой от влияния изменений/3, /(а} необходимо выбирать большие значения P . Однако полная отстройка от,В(при измерении Q возможна только прир =+ -, что неосуществимо. Поэтому предлагается с помощью специальных операций формировать сигнал Ф = Jim U. Зависимость U * = f{Pe) (см.фиг.2} при ф > 10 можно представить в виде О* = F (1/р,) (см,фиг.3). В этом случае

Ф= F(0), т,к. приР=+ 1 P=0.

Учитывая незначительную нелинейность 0* = F(1/ô, можно записать:

U, = а,+ а,(1/Р,)+ а,(1/Р,) (2)

Величина коэффициента ао в выражении (2) однозначно определяет а (Н) вне зависимости от величины o(P ).

Необходимо отметить, что выражение (2) остается верным, если в качестве ВТП взять не параметрический накладной ВТП, а трансформаторный накладной ВТП, так как зависимости О* = f jP e, a) для накладного и трансформаторного ВТП качественно совпадают.И для ферромагнитного и для неферромагнитного материалов влияние Н на

U выражается через одну и ту же величину — е "", поэтому зависимости О* = f (P„à), О*= f (P„a} для ферромагнитных и неферромагнитных материалов качественно совпадают при больших значениях Р2 и Р,, а выражение(2) справедливо и для ферромагнитного материала, т.е.

О =а. +а,(1/P,)+ а,(1/Я .. (3)

При этом только изменяются величины коэффициентов а„а, и а,.

Для определения величины а„по которой определяют а(Н), во втором и третьем тактах измерения U, ВТП возбуждаюттоками частотой fz= f,. (, f, = f, р и амплитудой

12и 1, соответственно, где Р > 1, f.> 1, Р Ф F.

Для того, чтобы выражение (3) было справедливо во всех трех тактах и для 0*, и для

U, величина О,должна быть постоянной so всех трех тактах, для чего величины 1 и

1 выбирают следующими: 1; — 1,/(, I,= 1,/Р.

Учет изменения 0 при изменении f, путем деления на коэффициент, пропорциональный частоте тока, После проведения трех тактов измерения U с учетом выражения для j3z имеем:

О =а,+ а„/(P„)+ а,/ф„„)

U<= а,+ а,/(p2, 4+ 0г/Иг 4 ° (4)

Ua = а. + a /И Р) + a,/(pл,. 1/p) где О,U и Π— амплитуда ВТП в первом, втором и третьем тактах соответственно

Pc - Gcm (° 2 ccðî< 8ä.

Выражая величины а„и az из выражений для U и 0 соответственно и подставляя

Так как знаменатель выражения (7) не

20 зависит от величин U,, Uz и U, то величина сигнала Ф, найденная в виде (числитель выражения (7).

Ф =0 (- /Р)+0,(%-6+

+0(р — р, (8}

25 однозначно зависит только от величины зазора Н.

Для определения величины а,/Д,„р выражение (Оз — U,) — (02. — 0 ) (— — 1) (— — 1)

1 1 подставим выражения (4) для О,, Uz u U после сокращений получим: (о,-u,((-- () (и,-u,)35 р

Выражая из (9) величину@ —, получим а1

".. (),, >((-") (ь -1 (-М(45 2 Се22

Я Гр

Сигнал М1 (числитель выражения (10), определяемый в виде:

:((((- ((г - (-.) = полученные выражения для а и а в выражения для 0, получим и, g=з.ecc- e-уф -и, e+ р. е— а а1 р Г. (5)

j8cm фснп

Выражая величины а, и а из выражений для U, и 0 соответственно и подставляя полученные выражения для а„и а,в выражение дляя U получим:

U, p= а „(ф — p Up) + U,- L x

az a1Ур 3

° /р О,р — (6) фса Pcm

Вычитая из выражения (5) выражение (6) и выразив величину а, получаем:

15 и„(Т- « р"} ° ы,(Е«ГР - )+из(р- Ж

«(е -е-% «tc- >+ .р+е Г(1689753

+, )Ll -0,)

) * I ãI («) величину а., //3„ характеризует

Ф ф

Кг ),)г )Ylgh )I2))) Найдя и запомнив величины сигналов

Ф,и М,, ВТП устанавливают на КИ. Все последуюшие такты из)иерения проводятся при установке ВТП на КИ, В четвертом, пятом и шестом тактах измерения ВТП возбуждают током с частотой

f„1 и 1 и амг)литудои 1), i, и! соответственно. Прй этом измеряют соответствующие сигналы ВТП: Ц,, Uq О,, которые равны:

О4= а + а, /(8,,)+ э., j/(p,,„), U: =- a0+ а» /{p, к )- ) - - a. f /)). 4 Л (12)

Uff = э0 - f:) f/ß2 к4p I »».»гЯ32.к Р) где P „= П Бс 11 2 >г/ р, п,к а„,а,,а, — величины коэффициентов а„ а, и ад при новом зазоре. Если КИ имеет д)лэлектрическое покрыт)ле толщиной Нэ (например, слой краски)„то первоначальный зазор между ВТП и КИ вЂ” Н будет равен Н =

= На.

Используя Ц»О5»О;» Фарм 1руюг сигнал

Ф (см,вырэ>к8ние 8)

Ф2 — — 0 (»/»- — Р ) )- О„, (t ô — ) +

+ U6(p р ЧЦ, куторь)» зависит только от в ли ины Н

Сравнивают слгналы Р;, и Ф, . Если Ф

=- Ф, изменяют зазор между ВТП и КИ, снова измеряют U„U.-, и Ц и находят новое значение Ф,Итерационное изменение зазора Н продолжают до тех пор, пока не выполнится равенство Ф = Ф„. В этом случае зазор Н

- Нэ+ Н„где Не — толщина диэлектрического покрытия, Н,, - суммарная величина итерацлонного перемещения ВТП, равен Н, т.е, Нд + Н„= Н,. Поэтому величину На после выполнения равенства Ф; = Ф„можно найт)л по формуле

Нэ =Нр- Н), (14)

Определив Нэ, находят аналогично (11) и запоминают величину сигнала M2:

Для определения величины Мак после выполнения равенства Ф,) = Ф и определения величины М2 проводят седьмой, восьмой и девятый такты измерения, в которых

ВТП возбуждают токами частотой f, f = f

f, = f,, „, и амплитудами 1,, i,-и 1 соответственно. При этом измеряют амплитуды соответствующих сигналов ВТП: U,, О.„и U, где

5 )4 )4

),> =I б

На фиг.4 изображена зависимость О* =

:= f ф„) для различных значений М построенная с учетом известных зависимостей, Из

1G анализа зависимостей фиг.4 видно, что при

P)< 1 величина О+ в основном определяется величиной М„. Однако полная отстройка от влияния P,(0) возможна только при 3) = О, что неосуществимо, Поэтому предлагается с

15 помощью специальных операций формировать сигнал Z = Iim U*. Åñëè зависимость

U* = f (P„) аппроксймировать выражением

Ь»p b2»)-)

Z=b. (16}.

Однако зависимость U* = f ф, ) (см.фиг.4) имеет при P = 3 точку перегиба, Поэтому выра>кение (16), не имеющее точек перегиба, при использовании его для аппроксимации О " =- f (P) дает ошибку. При Д <

25 3 U * = f ф„) выпукла вверх, а при,В > 3— вниз. Если зависимость U = f ф,) представляется в виде U* = ЕД ) (см.фиг.5), зависимость U* =- F(P ) при всех значениях Р выпукла вниз и не имеет точек перегиба.

С учетом незначительной нелинейности а

U* == f (8,) можно записать:

U*= Ь,+ Ь„ф)+ Ь q3, ), (17) где Ь„Ь,; Ь вЂ” коэффициенты.

Чтобы в седьмом такте величина Р,< 1, 3 > величина f4äoë>Kíà быть выбрана с учетом выражения для Р из условия

f < (18)

Ро Ок.макс

После седьмого, восьмого и девятого тактов измерения с учетом выражения (17)

О = b,+ Ь,P«) + Ь ф,. ), U, Ь,» b ffm »- Ь,(д .. fm), (»9)

45 гдеф) к=R ЧраОк f4 2х.

Величину Ь„используя выражения (19). найдем как и величину а,(см.выражения (4)— (7). При этом получаем;

Выражение (20) может быть также пол55 учено иэ выражения P) путем подставки /с

= 1/к, p- =1/m.

Умножив числитель и знаменатель выражения (2О) на величину m ï, получаем окончательное выражение для сигнала Z -= и

1689753

Uq(m х- к ",л1+Ug(m-m )+ Llg(К - K)

N к — к m -,v "g- к+ г ;

Величина сигнала Z не зависит от величичы г"„ и определяется только величиной и„,, Чтобы, зная величину Z, определить величинуи. „, необходимо определить зависимость Z = p (и„) и найти обратную ей зависимость,и, = p (Z). Зависимость Z =

= p, (и„) можно найти теоретически, воспользовавшись тем, что Z =- Ь,= О* приД =

0 и H = M,, Для этого, воспользовавшись известными выражениями (.I ), надо определить амплитуду U" ВТП для различных значений,и„приф 0 и Н = Н,, Зависимость Z = p, (и,) можно также определить экспериментально, устанавливая ВТП на образцы с различными значениями р, и зазором Н = Н„определяя Z no выражению (21). Найдя при измерении величину Z и используя полученную зависимость p,„= p (Z) (она может быть задана, например, в виде таблицы или графика), оператор определяет величину,и „„,.

Величинуо„можно найти, используя величины сигналов M u M Учитывая, что после выполнения равенства Ф = Ф, Н =

= Н,, т.е.зазоры междуВТП иОИ и ВТПи КИ равны, при этом величины а, и а, в выражениях(11) и (15) также равны, поэтому величина М /М = P,. /Р

V(0 „р . l(cpm,и,к 1, а величину 0 Д можно найти по формуле: а,= (+) "" — (г2)

Амплитуду тока возбуждения ВТП следует выбирать таким образом, чтобы электромагнитное поле ВТП не насыщало материал изделия. В этом случае и, = сопм не зависит от величины магнитного поля; а при возбуждении ВТП синусоидальным током частотой f в выходном сигнале ВТП не появляются сигналы с частотой 3", 5f, 7f (гармоники). Это позволяет при необходимости совместить такты и уменьшить время измерения, возбуждать ВТП одновременно токами нескольких частот и выделить соответствующие сигналы с помощью фильтров, Устройство, реализующее способ, работает следующим образом.

Генераторы 5-10 синусоидальных напряжений с кварцевой стабилизацией частоты сигнала вырабатывают сигналы с частотами f> — Ц соответственно, Сигналы с генераторов 5 — 10 складываются в блоке 11 сложения, с выхода которого сигнал, содержащий шесть гармоник, поступает на вход преобразователя 12 напряжение — ток, благодаря чему БТП 1 возбуждается токами шести ч,crm. причем величина тока через катушку 4 ",e зависит от ее импеданса для этого и необходим преобразователь 12 на5 пряжение — ток) Сигнал с ВТП 1, содержащий шесть гармоник, через усилитель 13 поступает на входы измерительных каналов

21-23. Сигнал с у"силителя 13 также поступает на вход фильтра 14 нижних частот, кото10 рый пропускает только низкочастотные гармоники с частотами fq — 1е, т.е, частота среза фильтра t4 — f<> должна удовлетворятьь условию ".6 < fcp < f1. Сигнал с фильтра

14 дополнительнс проходит через усили15 тель 15 и поступает на входы измерительных каналов 16-18. Необходимость дополнительного усилителя 15 объясняется тем, что амплитуды низко (BcToTHblx сигналов значительно меньше амплитуд высоко20 частотных сигналов (при одинаковых токах и при P = О,,и, = 1, амплитуда сигнала с частотой f больше амплитуды сигнала с частотой f4 в f1/f4 = 100 раэ).

Паласовые фильтры, входящие s состав

25 измерительных каналов 21-23, 16-18, пропускают сигналы с частотами f<-fg соответственно. Амплитудные детекторы измерительных каналов выделяют амплитуды отфильтрованных сигналов. На выходе изме30 рительных каналов (амплитудных детекторов) 21-23, 16-18 появляются сигналы величиной Оа, — Оа соответственно.

При настройке устройства ВТП 1 устанавливают в воздухе (8= О), регулируя амп35 литуды генераторов 5-7, добиваются, чтобы выполнялось равенство Оа = U z= Оаз, т.е. l =

Э ° ° я

= I,/f„ i„= (,/р. Временно отключив вольтметр

20 от блока 19 и подключая eto поочередно к выходам измерительных каналов 16-18, 40 добиваются, регулируя амплитуды генераторов 8-10, чтобы выполнялось равенство

Ua.;= Оз — "- Ua6 =- 1.0000...В, Это необходимо для того, чтобы величина сигнала Z, снимаемого с блока 19 сложения, могла быть ис45 пользована для определения,и,,„по теоретически полученной зависимостии„ =

= p Д, которая рассчитывается для величины U* относительно амплитуды ВТП. Если зависимость,и = pg (Z) определяется экспе50 риментально, достаточно, проверяя вольтметром 20, добиться выполнения равенства

Ugr, =Од = Ом, Оператор работает с устройством следующим образом. Вращая микрометриче55 ский винт 29, он заставляют каркас 3 перемещаться до момента совпадения установочных торцов корпуса 2 и каркаса 3 (до упора). Затем, вращая шкалу индикатора 30, устанавливает на индикаторе 30 значение

1689753

»2

li = — Н,. После этого оператор устанавливает диэлектрическую пластину толщиной Но на образцовое (эталон ное) изделие без диэлектрического покрытия (фиг,1 не показано), а на нее — ВТП 1, при этом расстояние Н 5 между катушкой 4 и проводящей поверхностью иэделия равно величине Но, причем на выходе измерительных каналов 21, 23 и 22 появляются соответственно сигналы 14

== О», Uaz= U, Uas= Оз (см выражение (4). 10

Выражение (11) для сигнала IVI! можно переписать в виде:

В блоках 25 и 24 сложения формируются соответственно сигналы Ф»и М» путем сложения сигналов U, О, и О. с весовыми 25 коэффициентами, определяемыми выражениями (8) и (23) (некоторые из этих весовых коэффициентов могут имать отрицательную величину). Оператор, изменяя величину сигнала — U источника 27 опорного напряже- 30 ния, добивается, чтобы гальванометр 28 давал нулевое показание. При этом Uo = Ф».

В дальнейшем величину U<.= Ф» не изменяют. Показания вольтметра 2" — величину сигнала М,, оператор запоминает (записы- 35 вает), а показания вольтметра 20 при установке ВТП на образцовое иэделие игнорирует, После этого оператор устанавливает 40

ВТП 1 на контролируемое изделие 32, имеющее в общем случае диэлектрическое по»рытие 33 толщиной На. На выходе блоков

25 и 24 сложения формируются сигналы Ф, и М2 соответственно. Изменяя с помощью 45 микрометрического винта 29 положение каркаса 3, т.е, изменяя величину зазора Н

v: Н (см.фиг.1), оператор добивается, чтобы гальванометр 28 давал нулевое показание, При этом Ф = Ф,, а Н + M„ -:-= .Н, где Н»- 50 суммарная величина перемещения каркаса

3 относительно корпуса 2(Н,,— Н на фиг.1 при Ф == - Ф). При перемещении каркаса 3 о:а величину Hz=-Нк показания индикатора h увеличиваются на величину Н„„т.е. h - — Н,+ 55 Н,- — Нэ (см.выражение (14). Таким образом, индикатор 30 показывает толщину диэлектрического покрытия 33 -- Нэ.

На выходе измерительных каналов 1618 формируются сигналы Оа =-: U,, U = U> и

Оро = О, соответственно, В блоке 19 сложения формируется сигнал Z путем сложения сигналов О» Ц в соответствии с весовь!ми коэффициентами, определяемыми выражением (21). По величине Z, которую показывает вольтметр 20, оператор, зная зависимость p = p (Z), определяет величину р», Зная известные для эталонного изделия величины — pn.cm и Ocm, определив и„, зная

М и используя величину сигнала М которую показывает вольтметр 26, оператор вычисляет величину п, по формуле (22).

При необходимости между блоком 19 и .вольтметром 20 следует включить линеаризатор (на фиг.1 не показан), когорый учитывает зависимость р= р, (Z). Б этом случает вольтметр 20 показывает непосредственно величину,и,, Чтобы не запоминать величину

М,, между блоком 24 и вольтметром 26 необходимо включить масштабный преобразователь (на фиг.1 не показан}, изменяя коэффициент передачи которо-о, добиваются, чтобы величина М» была равна 1,ООО...В.

В этом случает в формулу (22) вместо М„надо подставить единицу, При необходимости устройство можно снабдить вычислительным блоком (на фиг.1 не показан), В этом случае информацию Мр, 7 с цифровым вольтметром

26 и 20 в виде цифрового кода надо вводить через коммутатор (мультиплексор), Величины Р, Г К, m рекомендуется выбирать следующими: К =- 2,7 — 6,5; m = 4—

10; t =1,5 — 3; Р =2 — 4. Желательно, чтобы частоты f» — f< не относились друг к другу как целые нечетные числа, например f2/f» 1 5, f6/f97 3 и T.ä. Это необходимо для того, чтобы даже в случае проявления нелинейных свойств материала (несмотря на малые величины 1,, 1,...1, гармоники сигнала не проникали в другие измерительные каналы, Способ позволяет получить сигналы (Ф и Z), которые зависят только от одного измеряемого параметра, и исключить влияние других измеряемых параметров, что позволяет, определив Н и,и„, измерять а„, Итерационное изменение зазора позволяет исключить его влияние при измерении,и„и

0 „. Необходимо также отметить, что величины Р, Г К, m, входящие в выражения для определения измеряемых параметров с учетом кварцевой стабилизации частот f f, можно определять и поддерживать с высокой точностью. Независимость величин р. Г, К в и способов формирования сигналов М, Ф и Z от конструктивных параметров ВТП позволяет снизить требования к точности изготовления ВТП и использовать различ13

1689753 ные конструкции ВТП в зависимости от условий контроля.

Формула изобретения

Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий, заклю- 5 чающийся в установке вихретокового преобразователя на образцовое изделие с зазором Но, возбуждении преобразователя током трех частот 1„, 12= 1„«и 1,, измерении соответствующих сигналов U„„, О,, Uz преоб- 10 разователя, установке преобразователя на поверхность контролируемого изделия, возбуждении преобразователя токами трех частот f,, 1,f>, измерении соответствующих сигналов U, О,, U, преобразователя и ис- 15 пользовании сигналов для определения толщины диэлектрического покрытия и удельной электрической проводимости основы контролируемого иэделия, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью расширения 20 области использования за счет контроля также изделий с ферромагнитной основой и повышения информативности, величину зазора Н„выбирают равной максимальной толщине диэлектрического покрытия, вели- 25 чины частот f, и f, выбирают иэ условий

50 рп.к.макс

1 " po Ок.мин

f3 где P > 1, 5> 1„P + ;

R — радиус преобразователя, м;

«.4,= 4.10 Гн/м — магнитная постоянная;

Окмин, pnkmax соответственно минимальное значение удельной электрической проводимости и максимальное значение относительной магнитной проницаемости материала основы контролируемого изделия, используя сигналы U„, Ог и U,, формируют сигнал Ф„характеризующий величину зазора Н„ в виде

Ф = U,(Pf Vp)+ U4(«."/Р +

+ (p p 3 и сигнал М,, характеризующий величину удельной электрической проводимости ос- 45 новы эталонного изделия, в виде

М (« U) . 1М+1 р+1) (« — « ) (1 — 1б Е

50 формируют сигнал Ф характеризующий величину зазора между преобразователем и основой контролируемого изделия, в виде

Ф, = Ц (VP — р) + U, («ф — «) +

+ U.(p- V À сравнивают величины Ф, и Ф„, итерационно измеряют величину зазора между преобразователем и контролируемым изделиемдо получения равенства Фг= Ф„, определяют соответствующие равенству перемещение

Н к преобразователя, а толщину Нддиэлектрического покрытия на контролируемом изделии определяют из соотношения

Нэ Н Нк формируют сигнал M характеризующий величину удельной электрической проводимости контролируемого изделия, в виде

M,-=(U6- U„) (1/Ф+ 1) (1/vs — 1)+

+ (05 Ц) (1 / (р + 1) (1 1 / () не изменяя положения преобразователя, возбуждают его токами с частотами 1, (, и

1„выбранными из условий:

f,<

2 XR pO OKMBKC б= 1, «, 6 4 гдек>1,m>1,кФm; бк.max — максимальное значение удельной электрической проводимости материала основы контролируемого изделия, измеряют соответствующие сигналы преобразователя 0„,U,,U9 и формируют сигнал 2, характеризующий величину относительной магнитной проницаемости р „материала основы контролируемого изделия, в виде

Ug (mzK- Vz ) + «в(в-иг) д.,(« z g)

«„г К gz,„»z+ Kz К+ „ по величине Z и по предварительно полученной зависимости Z = f (и„„) определяют величину магнитной проницаемости основы контролируемого изделия, а величину удельной электрической проводимости о, материала основы контролируемого изделия определяют иэ соотношения (Ml )2 . pnx гдеp„, о; - соответственно величины относительной магнитной проницаемости и удельной электрической проводимости материала основы образцового изделия.

1689753

1689753

0,6

ЗО

18

/0

06

Фиг. 5

1,0

Составитель И.Кесоян

Техред М.Моргентал Корректор Т.Малец

Редактор Б.Федотов

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 3805 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий Способ вихретокового измерения параметров электропроводящих изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для ориентации узлов и элементов в экранных системах неразрушающего контроля

Изобретение относится к средствам неразрушающего прочностного контроля

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для электромагнитного неразрушающего контроля качества изделий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области неразрушающих методов контроля материалов, и может быть использовано для измерения толщин изоляционных покрытий, например эмалевых, лакокрасочных и других, наносимых , на проводящие изделия

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля физико-механических параметров кристаллической структуры ферромагнитных объектов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля качества как ферромагнитных, так и неферромагнитныч материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и может быть исv пользовано в промышленности для определения качества ферромагнитных материалов и изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для неразрушающего вихретокового контроля параметров ферромагнитных и электропроводных материалов, для измерения магнитной проницаемости, электропроводности, а также твердости и других параметров, в том числе и для контроля толщины изоляционных покрытий на движущихся проводниках

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для измерения толщины и качества диэлектрических покрытий на металлических изделиях и может найти применение в гибком автоматизированном производстве электрофорезного покрытия

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области неразрушающих методов контроля материалов, и может быть использовано для измерения толщин изоляционных покрытий, например эмалевых, лакокрасочных и других, наносимых , на проводящие изделия

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к измерению и контролю толщины покрытий электрическими методами

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля изделий, имеющих диэлектрические , немагнитные покрытия, нанесенные на проводящие цилиндрические основания небольшого диаметра

Изобретение относится к измерительной технике и обеспечивает повышенную разрешающую способность профильного контроля пустотелых и открытых объектов из диэлектриков, а также из параи диамагнетиков

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам неразрушающего контроля, и может быть использовано в производстве микроэлектронных и электровакуумных приборов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для оценки условий смазывания узлов трения, выполненных из токопроводящих материалов с диэлектрической смазкой, например в машиностроении

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может использоваться для неразрушающего контроля качества двухслойных электропроводящих изделий

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий
Наверх