Патент ссср 171477

 

l7I 477

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 21g, 18р2

Заявлено 09.VII.1962 (№ 902899/26-25) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опчбликовапо 26.Ч.1965. Бюллетень № 11

Государственный

Комитет hc} делэм изобретений

МПК Н 05g

УДК 539.164: 539.23 энергии СССР

СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ ИЗОТОПОВ, ИСПЬ!ТАВШИХ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНЫЙ АЛЬФА-РАСПАД

Подписная группа № 97

Изобретение относится к области исследования ядерных реакций при помощи ядерных фотоэмульсий.

Известные способы идентификации радиоактивных изотопов (в том числе и дающих последовательную цепочку альфа-распадов), в которых ядра вводятся в эмульсии либо путем облучения эмульсий, насыщенных продуктами, подвергаемыми облучению, либо путем «вбивания» в эмульсию ядер, образующихся в реакции, имеют ограниченное применение из-за большого фона в эмульсии, вызванного бомбардирующими частицами и другим ионизирующим излучением, сопровождающим ядерную реакции.

Предло>кенный способ позволяет практически полностью избавиться от фона, появляющегося в эмульсии при ее облучении.

Способ заключается в том, что при облучении, во время которого ядра отдачи захватываются фотоэмульсией, используют для сбора ядер отдачи нечувствительный к излучению желатиновый слой, а после облучения этот слой очувствляют путем диффузионного синтеза ядерной эмульсии в желатиновом геле; очувствление производят в пространстве, в котором отсутствует ионизирующее излучение.

Разработана следующая схема процесса.

На хорошо промытые и подслоенные стекла наливают слой 3>/ -ного раствора желатины с таким расчетом, чтобы толщина желатиново5 ro слоя после сушки составляла 20 мн. Пластинки медленно высушивают прн температуре 18 — 20 С и влажности 60%.

Облучение «желатиновой» пластинки производят в специальной кассете в вакууме

10 (10 мм рт. ст.), при этом >келатиновый слой не должен соприкасаться с источником. Продолжительность облучения составляет 20—

30 час при интенсивности источника 10 распадов/мин.

15 Сразу после облучения начинается процесс синтеза эмульсии. После пятиминутного набухания в дистиллированной воде пластинку помещают в ванну с 2N раствором AgNOь где выдерживают ее в течение 5 ман при тем20 пературе 5 0,5 С, затем переносят на 0,5 >кин в ванну с 0,5N раствором AgNO3, чтобы немного снизить концентрацию азотнокислого серебра в тонком поверхностном слое. После ополаскивания в дистиллированной воде пла25 стинку переносятв2Х раствор КВг,гдеи происходит процесс образования чувствительной твердой фазы — микрокристаллов AgBr. Процесс очувствления заканчивают через 7 мин, после чего следует 20-минутная промывка в

30 воде, а затем купание в течение 15 мин в ще171477

Составитель Ф. П. Бурлов

Редактор И. Г. Карпас Техред Л. К. Ткаченко

Корректор О. Б. Тюрина

Заказ 1261/14 Тираж 1575 Формат бум. 60Р,90 /8 Объем 0,13 изд. л. Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 лочной ванне с рН=12, чтобы поднять чувствительность. Высушенный эмульсионный слой имеет среднюю толщину 30 мк. При этом концентрация галоидного серебра в слое составляет 70а/а.

Проявление чувствительных слоев производят через разные промежутки времени после синтеза. В зависимости от длительности этих промежутков наблюдают различное соотношение между однолучевыми, двухлучевыми и трехлучевыми «звездами», на основании чего получают энергетический спектр альфа-частиц как самого изотопа, так и всех ядер, получающихся в результате всей цепочки альфараспадов, и надежно идентифицируют полученный альфа-активный изотоп.

При наличии радиоактивного источника с большой активностью, содержащего смесь изотопов, дающих цепочки альфа-распадов, можно идентифицировать каждый из компонентов смеси по цепочкам альфа-распадов их дочерних ядер (ядер отдачи, проникающих в желатиновый слой). При этом будет отсутствовать фон от альфа-частиц материнских ядер.

Если получен альфа-активный короткоживущий изотоп, находящийся в смеси с более долгоживущими изотопами, то его идент ификация может быть проведена при исследовании энергетического спектра альфа-частиц второго, третьего и последующих поколений.

При этом желатиновые слои будут служить одновременно и сборниками ядер отдачи более раннего поколения и источниками ядер отдачи более позднего поколения. При этом на определенном этапе улавливания ядер от10 дачи произойдет обогащение ядрами, принадлежащими цепочке более короткоживущего изотопа.

15 Предмет изобретения

Способ идентификации изотопов, испытавших последовательный альфа-распад, с использованием ядерных фотоэмульсий, отли20 чающий,ся тем, что, с целью устранения фона в эмульсии от ионизирующего излучения, при облучении используют в качестве сборника ядер отдачи нечувствительный к излучению желатиповый слой, а очувствление и проявле25 пие этого слоя производят после облучения в пространстве, в котором отсутствует иопизирующее излучение.

Патент ссср 171477 Патент ссср 171477 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407
Наверх