Способ определения надежности керамических трубчатых конденсаторов

Авторы патента:

G01R31 - Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H 71/04,H01H 73/12, H02B 11/10,H02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L 21/66; испытание линий передачи энергии H04B 3/46)

 

ОПИСАНИЕ )7423l

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советски71

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 25.11.1964 (№ 884781/26-9) с присоединением заявки №

Кл. 21а1, 71

21д, 100

Государствеииый комитет по делаг изобретеиий и открытий СССР

Приоритет

Опубликовано 27.Ч111.1965. Бюллетень № 17

Дата опубликования описания 19.Х.19б5

МПК G 011

H 0lg

УДК 621.317.08:621.319.4 (088.8) Авторы изобретения

М. М. Некрасов и А. H. Франчук

Ф

7i

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ

КЕРАМИЧЕСКИХ ТРУБЧАТЫХ КОНДЕНСАТОРОВ

Подписная группа № 89

Известен способ определения наде7кности конденсаторов, основанный на подсчете числа вышедших из строя конденсаторов, при этом в процессе испытаний невозможно выявить недостаточно надежные конденсаторы, поступающие к потребителю. Кроме того, сам способ достаточно сложен и требует затраты значительного количества времени.

По предложенному способу упрощение процесса пзмерешш и определение надежности без разрушения конденсаторов достип уто тем, что измеряют величину тангепса диэлектрических потерь IIIIè повьпнепно11 температуре IIB низкОЙ частоте и по 17ез л1 TBTB;I измерепиЙ прО изводят оценку надежпостц конденсаторов.

Процесс испытаний пе вызывает разрушения диэлектрика, не приводит и возникновению остаточных изменений и старения диэлектрика, вследствие чего конденсаторы, прошедшие испытание, пригодны для дальнейшего использования.

5 Измерения проводятся прп температуре порядка 70 — 80 С на частоте в 50 г11

Предмет изобретения

Спосоо определения надежности ке!7амиче10 ск11х Т177 ОнаTbix 1 0нДеHcаTÎ)70в, 0Т.II! I010ttjttttct тем, 110, с целью упрощеш1я пронесся измерений и определения надежности без разрушения конденсаторов, измер11ют вел:tw,»ty тангенса диэлектрических потерь прн повы75 ttteitnoй темпc17атуj7e tia Iti1зкой частотe It no результатам измерений производят оценку надежности конденсаторов.

Способ определения надежности керамических трубчатых конденсаторов 

 

Похожие патенты:

Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки подаваемого на диод напряжения и блок измерения величины производной обратного тока, при испытаниях диодов с жесткими характеристиками и диодов, которые 13 режиме иробоя имеют отрицательное динамическое сопротивление, мощность, выделяемая на р—«-переходе, может превысить допустимое значение, что приводит к выходу диода из строя.в иредложеином устройстве для иредотвращения выхода диодов из строя в процессе измерения последовательно с каждым из сопротивлений блока регулировки напряжения включен стабилитрон, в результате чего нагрузочная кривая цепи, в которую включен диод, приобретает вид гиперболы и незавиеимо от вольтамперной характеристики мощность диода неизменна.схема устройства изображена на чертеже.последовательно с испытуемым диодом 1 включен блок 2 ступенчатой регулировки напряжения, источник которого соединен с зажимами 3. блок 2 содержит сопротивления 4, коммутируемые шаговым искателем 5. к каждому из сопротивлений подключено ио стабилитрону 6, в результате чего напряжение на диоде и ток, протекающий через него, будут определяться точкой пересечения характер]!- стики диода с гиперболой.в ироцесее измерения блок 7 измерения величины пропзводной обратного тока контролирует отношение прпращенпя тока через дпод к приращению напряжения на нем, т. е. величину пропзводной. еели величина пропзводной меньше предельного значенпя, с блока 7 на шаговый пскатель подается управляющпй импульс, и щаговый искатель производит очередное изменение величины соиротивлений. если величииа иропзкодной больше или равиа за-, данному предельному значению, автоматически включается пз^iepитeльный прибор s, ио которому отсчитывается величина пробивного напряжения, и управляемый шаговым искателем индикатор мощности 9 показывает мощность, выделяющуюся на дподе при пробивном напряженпи.предмет изобретен и яустройство для определения пробивного напряжения иолупроводнпковых л,иодов, содержащее подключенные к диоду блок стуиенчатой регулировки подаваемого на дпод напрял\е-25 нпя, снабженный набором коммутируемых сопротивлений, и блок измерений величины производной обратного тока, отличающееся тем, что, с целью предотвращения выхода диода из етроя в процессе измерений, последовательно30 с каждым из сопротивлений блока стуиенчатой регулировки напряженпя включен стабилитрон.101520 // 172374

Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-03-25T21:33:20
Наверх