Способ измерения отклонения величины показателя

Авторы патента:


 

ОЛ ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

l77 979

Союз Соеетских

Социалистических

Республик т

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Кл. 2le, 36,о

Заявлено 28,111.1964 (№ 892338/26-10) с присоединением заявки М

МПК G Olr

УД К 621.317.353.1 (088.8) Приори гет

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 08.1.1966. Бюллетень М 2

Дата опубликования описания 22.II.1966

Автор изобретения

Л. И. Волгин

Заявитель

C,ÏOÑ0Á ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ПОКАЗАТЕЛЯ

СТЕПЕНИ ВОЛЬТАМПЕРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ДЕТЕКТОРА

ОТ КВАДРАТИЧНОГО ЗАКОНА 1,2 — +

2

4 4К2 ф

Известны способы измерения отклонения величины показателя степени вольтамперной характеристики детектора от квадратичного закона путем двух последовательных замеров выходных токов детектора индикаторным прибором.

Особенностью предложенного способа является то, что на вход квадратичного детектора поочередно подают синусоидальное и импульсное напряжения с равными эффективными значениями и, измеряя среднее значение тока через индикаторный прибор при импульсном (I, ) и синусоидальном (1„„) напряжениях, определяют искомую величину по зависимости

An

1 1

1сро In К,, а а + 0,5396 где ʄ— коэффициент формы импульсного

1 напряжения, равный, а а—

2 ба (1 — я) коэффициент заполнения, равный

На чертеже изображена блок-схема проверки квадратичных детекторов по предлагаемому способу.

Проверяемый детектор 1, нагруженный на индикаторный прибор 2, подключается к генератору синусоидальных колебаний 8; производится отсчет тока I,, . Затем проверяемый детектор подключается к генератору прямоугольных импульсов 4 и производится отсчет тока 1„. При этом эффективное значение импульсного напряжения должно быть равно эффективному значению напряжения генератора синусоидальных колебаний. Значение коэффициента Кт, выбирается достаточно большой величины, чтобы ток I, заметно отличался от 1„„.

По формуле высчитывается отклонение ве15 личины показателя степени вольтамперной характеристики детектора от квадратичного закона.

Предмет изобретения

Способ измерения отклонения величины показателя степени вольтамперной характеристики детектора от квадратичного закона путем двух последовательных замеров, отличаюи1ийся тем, что, с целью измерения малых величин отклонения показателя степени, на вход квадратичного детектора поочередно подают синусоидальное и импульсное напряжения с равными эффективными значениями и, ЗО измеряя среднее значение тока через индика177979 напряжения, равный,а а — коСоставитель Ю. В. Шевколович

Редактор Н. С. Коган Техред А. А. Камышникова Корректоры: О. Б. Тюрина и Ю. М. Федулова

Заказ 207/10 Тираж 1460 Формат бум. 60+90 /ц Объем 0,1 изд. л. Подписное

UHHHIIH Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, д. 2 торный прибор при импульсном (I, ) и синусоидальном (/cpo ) напряжениях, определяют искомую величйну по зависимости в

ЛП = " — 1 1 .

/ 1пУ „ ю + 0,5396

Ф

Ъ. где Кф —.коэффициент формы импульсного

2 /а(1 — а) эффициент заполнения, равный

1 о1;2 — <2

4 ив ф

Способ измерения отклонения величины показателя Способ измерения отклонения величины показателя 

 

Похожие патенты:

Устройство для определения пробивного напряжения полупроводниковых диодовв известных устройствах для определения пробивного напряжения мощных полупроводниковых диодов, содержащих блок ступенчатой регулировки подаваемого на диод напряжения и блок измерения величины производной обратного тока, при испытаниях диодов с жесткими характеристиками и диодов, которые 13 режиме иробоя имеют отрицательное динамическое сопротивление, мощность, выделяемая на р—«-переходе, может превысить допустимое значение, что приводит к выходу диода из строя.в иредложеином устройстве для иредотвращения выхода диодов из строя в процессе измерения последовательно с каждым из сопротивлений блока регулировки напряжения включен стабилитрон, в результате чего нагрузочная кривая цепи, в которую включен диод, приобретает вид гиперболы и незавиеимо от вольтамперной характеристики мощность диода неизменна.схема устройства изображена на чертеже.последовательно с испытуемым диодом 1 включен блок 2 ступенчатой регулировки напряжения, источник которого соединен с зажимами 3. блок 2 содержит сопротивления 4, коммутируемые шаговым искателем 5. к каждому из сопротивлений подключено ио стабилитрону 6, в результате чего напряжение на диоде и ток, протекающий через него, будут определяться точкой пересечения характер]!- стики диода с гиперболой.в ироцесее измерения блок 7 измерения величины пропзводной обратного тока контролирует отношение прпращенпя тока через дпод к приращению напряжения на нем, т. е. величину пропзводной. еели величина пропзводной меньше предельного значенпя, с блока 7 на шаговый пскатель подается управляющпй импульс, и щаговый искатель производит очередное изменение величины соиротивлений. если величииа иропзкодной больше или равиа за-, данному предельному значению, автоматически включается пз^iepитeльный прибор s, ио которому отсчитывается величина пробивного напряжения, и управляемый шаговым искателем индикатор мощности 9 показывает мощность, выделяющуюся на дподе при пробивном напряженпи.предмет изобретен и яустройство для определения пробивного напряжения иолупроводнпковых л,иодов, содержащее подключенные к диоду блок стуиенчатой регулировки подаваемого на дпод напрял\е-25 нпя, снабженный набором коммутируемых сопротивлений, и блок измерений величины производной обратного тока, отличающееся тем, что, с целью предотвращения выхода диода из етроя в процессе измерений, последовательно30 с каждым из сопротивлений блока стуиенчатой регулировки напряженпя включен стабилитрон.101520 // 172374

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-03-27T02:41:20
Наверх