Сканирующий туннельный микроскоп

Авторы патента:

ГАСТЕВ СЕРГЕЙ ВИКТОРОВИЧ

ГРОХОЛЬСКИЙ АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ

ГОЛУБОК АЛЕКСАНДР ОЛЕГОВИЧ

ДАВЫДОВ ДМИТРИЙ НИКОЛАЕВИЧ

ТИМОФЕЕВ ВЛАДИМИР АНДРЕЕВИЧ

ТИПИСЕВ СЕРГЕЙ ЯКОВЛЕВИЧ

H01J37/285 - эмиссионные микроскопы, например автоэлектронные микроскопы

Похожие патенты:

Туннельный микроскоп // 1597961

Изобретение относится к туннельной микроскопии и может быть использовано для микроанализа поверхности твердых тел

Туннельный микроскоп // 1520609

Изобретение относится к электронной технике, в частности к микрозондовым приборам, в которых для исследования поверхности используется тунельный ток

Способ определения энергетических параметров межузельных атомов в металлах // 1405623

Автоионный микроскоп // 1186021

Способ автоионномикроскопического измерения профилей пробегов имплантированных в металлы ионов // 1160880

Способ исследования сплавов в полевом ионном микроскопе // 1107192

Автоионный микроскоп // 1048534

Автоэлектронный микроскоп-анализатор // 1047330

Способ автоионномикроскопического анализа структуры проводящих материалов // 1029261

Анод для автоэлектронного микроскопа // 858146

Способ визуализации на экране изображений исследуемых объектов и устройство для реализации способа // 2101800

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Зондирующий эмиттер для сканирующего туннельного микроскопа // 2117359

Тестовый объект для калибровки растровых электронных микроскопов // 2207503

Изобретение относится к области электронной микроскопии

Способ визуализации изображений объектов, эмитирующих заряженные частицы, и устройство для реализации способа // 2210138

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам

Сканирующий туннельный микроскоп // 2218629

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел

Сканирующий туннельный микроскоп // 2296387

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел

Способ исследования поверхности твердого тела туннельным микроскопом // 2358352

Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел

Способ измерения температуры наночастицы // 2431151

Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области

Туннельный микроскоп // 2054740

Способ изготовления зондирующего эмиттера для туннельной микроскопии // 2058612

Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии