Способ финишной полировки полупроводниковых пластин

 

Использование: обработка полупроводниковых подложек для изготовления изделий электронной техники. Сущность: трехстадийная химико-механическая полировка полупроводниковых пластин. Абразивная суспензия на основе алюмосйликатного наполнителя . Первая стадия - предварительная химико-механическая полировка. Вторая и третья стадии - финишная полировка - проводятся на одном полировальнике при разных режимах. Вторая стадия: рН суспензии 10,2- 10,8, третья стадия: рН 6,0-8,0, давление на пластины 0,05-105-0.11-105 Па, время полировки 2-5 мин. Выход годных увеличивается на 1,0-2,0%.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (Я) 5 Н 01 (21/302 (д,О uII,, g

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

IlO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ю

4

00 (21) 4792919/25 (22) 09.01.90 (46) 15,04.92. Бюл, N. 14 (71) Завод "Квазар" научно-производственного объединения "Микропроцессор" (72) М.Д.Живов и Е,И.Богданов (53) 621.382.002(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N 1119537, кл. Н 01 L 21/302. 1983.

Операционная карта технологического процесса Г90.032.2211К, Химико-механическая полировка. Лист-1 — 12, Киев, 1985.. (54) СПОСОБ ФИНИШНОЙ ПОЛИРОВКИ

ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых пластин, в частности при их химико-механической полировке.

Известен. способ финишной обработки полупроводниковых пластин, включающий двухстадийную химико-механическую полировку пластин на полировальнике с использованием водной абразивной суспензии, причем на второй стадии полировки давление на пластины и температуру полировальника снижают, а расход абразивной суспензии увеличивают в 1,5 — 3,0 раза без изменения ее состава.

Недостатком известного способа является наличие матовости рабочей поверхности пластин после обработки..связанной с повышенной химической активностью применяемой суспензии. имеющей водородный показатель рН 10,0.

„„ Ы„„1727178 А1 (57) Использование: обработка полупроводниковых подложек для изготовления изделий электронной техники. Сущность: трехстадийная химико-механическая полировка полупроводниковых пластин. Абразивная суспензия на основе алюмосиликатного наполнителя. Первая стадия — предварительная химико-механическая полировка. Вторая и третья стадии — финишная полировка — проводятся на одном полировальнике при разных режимах, Вторая стадия: рН суспензии 10,210,8, третья стадия: рН 6,0-8,0, давление на пластины 0,05 10 -0.11 10 Па, время пол5 . 5 ировки 2 — 5 мин. Выход годных увеличивается на 1,0-2,0%.

Наиболее близким к предлагаемому техническому решению является способ финишной полировки полупроводниковых пластин, включающий двухстадийную химико-механическую полировку пластин на двух полировальниках с использованием водных абразивных суспензий, причем первую стадию (предварительную полировку) проводят при водородном показателе рН абразивной суспензии в пределах от 11.5 до

12,4, а вторую стадию при рН = 9,0 — 10,0.

Недостатком этого способа является наличие на их рабочей поверхности остаточных механических дефектов в виде рисок и царапин. Это связано с тем, что в известном способе обработки из-за сравнительно низкого водородного показателя рН суспензии удаляемый на второй стадии полировки с поверхности пластин слой кремния является недостаточным: механические дефекты поверхности, оставшиеся после первой стадии полировки, полностью не удаляются.

1727178

15

25

Повышение съема кремния на второй стадии полировки с целью увеличения выхода годных путем увеличения показателя рН суспензии, давления на пластины, температуры полировэльника и продолжительности обработки приводят к появлению такого вида дефектов, как матовость рабочей поверхности пластин (растравливание), Цель изобретения — повышение выхода годных за счет улучшения качества полированной поверхности.

Поставленная цель достигается тем, что в способе финишной полировки полупроводниковых пластин, включающем многостадийную химико-механическую полировку пластин на двух полировальниках с использованием водных абразивных суспензий, полировку на.второй стадии проводят при водородном показателе рН абразивной суспензии 10,2 — 10,8 и дополнительно проводят третью стадию полировки при водородном показателе рН абразивной суспензии 6,0-8,0 в течение 2-5 мин и давлении на пластины (0,05 — 0,11) 10

Па, причем вторую и третью стадии проволдят на одном полировальнике, Предлагаемый режим обработки на второй стадии полировки имеет следующее обоснование, При выборе водородного показателя рН абразивной суспензии меньше, чем 10,2, например 9,7-9,8, резко снижается производительность процесса, для удаления остаточных механических дефектов пластин требуется увеличить. продолжительность полировки на второй стадии до 12 — 16 мин в то время как при соблюдении рекомендуемого режима продолжительность обработки составляет в среднем 6-10 мин.

При выборе водородного показателя рН абразивной суспензии больше. чем 10,8, например 11,0-11,2, нарушается сбалансированность скоростей механического съема и химического травления кремния в процессе химико-механической полировки, начинает преобладать скорость химического травления, в результате чего наблюдается растравливание поверхности пластин.

П редлагаемые режимы обработки на третьей стадии полировки имеют следующие обоснования.

При выборе водородного показателя рН абразивной суспензии меньше, чем 6,0, например 5,7-5,8, происходит практически полное прекращение процесса травления кремния, что приводит к преобладанию скорости механического съема и появлению на полированной поверхности пластин дефектов в виде рисок и царапин.

При выборе водородного показателя рН абразивной суспензии больше. чем 8,0, наи ример 8,4-8,6, резко снижается и роизводительность процесса, для удаления матовости рабочей поверхности пластин требуется увеличить продолжительность третьей стадии полировки до 8-12 мин, в то время как при соблюдении рекомендуемых режимов продолжительность третьей стадии составляет 2 — 5 мин

При поддержании давления на пластины большего, чем 0.11 10 Па, скорость ме5 ханического съема преобладает над скоростью химического травления кремния, что приводит к появлению на рабочей поверхности пластин дополнительного количества рисок и царапин. Поддержание давления на пластины меньшего, чем

0,05 10 Па, например 0,04 10 Па, затрудняется по техническим причинам, связанным с конструктивными особенностями установок для химико-механической полировки.

При продолжительности третьей стадии полировки меньшей, чем 2 мин, например

1,5 мин, съема кремния оказывается недостаточно для удаления матовости рабочей поверхности пластин, а при продолжительности третьей стадии большей, чем 5 мин, например 5;5 мин, появляются дефекты в виде рисок и царапин.

Необходимость проведения второй и третьей стадий обработки на одном полировальнике имеет следующее обоснование.

При проведении второй и третьей стадии на одном полировальнике в процессе третьей стадии полировки происходит постепенное снижение химической активности полирующей среды. создаваемой в зоне обработки пластин при введении второй стадии полировки, при этом наличие на поверхности пластин окисного слоя препятствует образованию механических дефектов кремния. Проведение же третьей стадии полировки на отдельном полировальнике характеризуется преобладанием скорости механического съема, что прйводит к ухудшению качества пластин по рискам и царапинам.

Пример 1, Кремниевые пластины диаметром 100 мм марки КДБ10 (111), прошедшие после резки слитка кремния на пластины операции формирования фаски, двусторонней шлифовки и травления, подвергают химико-механической полировке суспензиями на основе алюмосиликатного наполнителя на станках типа Ю1М3,105.004.

На первой стадии, проводимой на полировальнике из синтетической кожи, ис1727178 пользуют суспензию с рН = 11,6 при следующих режимах: давление на пластины

0,2 10 Па, температура полировальника

48 и 1 С, расход суспензии 60 — 70 млlмин,, время обработки 34 мин, С поверхности 5 пластин на первой стадии полировки удаляют припуск не менее 25 мкм.

Вторую стадию ведут с использованием суспензии с рН = 10,2 при следующих режимах: давление на пластины 0.05.10 Па, тем- 10 пература полировальника 35 1 С, расход суспензии 110 — 120 мл/мин, время обработки 8 мин. В качестве полировальника применяют синтетическую замшу.

На третьей стадии на том же полиро- 15 вальнике пластины, полируют суспензией с.

pH = 6,0 при следующих режимах: давление на пластины 0,05.10 Па, температура полировальника 30 +. 1 С, расход суспензии

120 — 130 мл/мин, время полировки 2 мин. 20

По окончании полировки прекращают подачу суспензии и проводят промывку деиониэованной водой в течение 1 мин. Затем пластины отделяют от полировальных блоков и подвергают химической очистке в ки- 25 пящих перекисно-аммиачных растворах, гидромеханической отмывке и сушке на центрифуге.

Контроль качества проводят с помощью микроскопа МБС-9 при увеличении не ме- 30 нее 16". Риски и царапины отсутствуют на

gg% пластин. Матовость рабочей поверхности пластин также не обнаружена.

Пример 2. Осуществляют полировку кремниевых пластин диаметром 100 мм 35 марки КДБ40(100).

Предварительную обработку и первую стадию полировки проводят при режимах, указанных в примере 1. На второй стадии используют суспензию с рН = 10,8 при сле- 40 дующих режимах: давление на пластины

0,11 10 Па, температура полировальника

35+1 С, расход суспенэии 110 — 120 мл/мин, время обработки 6 мин. В качестве полировальника используют синтетическую замшу. 45

На третьей стадии на том же полировальнике ведут полировку пластин суспензией с рН = 8,0 при следующих режимах: давление на пластины 0,11 10 Па, темпера- тура полировальника 32 +. 1, расход сус- 50 пензии 130.— 140 млl мин, время обработки 5 мин.

Очистку и контроль качества пластин проводят, как указано в примере 1, риски, царапины, матовость рабочей поверхности 55 отсутствуют на 100% пластин.

Пример 3. Осуществляют полировку кремниевых пластин диаметром 76 мм марки КДБ4,5(100).

Полировку на первой стадии ведут суспензией с рН = 11,8 при следующих оежимах: давление на пластины 0,22 10 Па. темпеоатура полировальника 45 + 1 С. расход суспензии 60-70 мл/мин, время обработки 20 мин, На первой стадии с поверхности пластин удаляют припуск не менее 15 мкм, в качесте полировальника используют синтетическую кожу.

На второй стадии применяют суспензию с рН = 10,5 при следующих режимах: давление на пластины 0,08 10 Па, температура полировальника 34 + 1ОС, расход суспензии 120 — 130 мл/мин, время обработки 10 мин. В качестве полировальника используют синтетическую замшу.

Третью стадию ведут на том же полировальнике суспензией с рН = 7,0 при следующих режимах: давление на пластиHbl

0,08 10 Па, температура полировальника

30 + 1 С, расход суспензии 130-140 мл/мин, время обработки 3,5 мин.

Дальнейшую очистку и контроль пластин проводят, как указано в примере 1 риски и царапины отсутствуют на 99,5% пластин, матовость рабочей поверхности пластин не обнаружена.

Предлагаемый способ обеспечивает увеличение выхода годных пластин на операции химико-механической полировки на

1,0 — 2,0% по сравнению с известными способами за счет улучшения качества полированной поверхности — практически отсутствуют такие дефекты как риски, царапины, растравливание поверхности.

Формула изобретения

Способ финишной полировки полупроводниковых пластин, включающий многостадийную химико-механическую полировку полупроводниковых пластин на двух полировальниках с использованием водных абразивных суспенэии, причем на первой стадии водородный показатель суспензии поддерживают от 11,5 до 12,4, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения выхода годных за счет улучшения качества полированной поверхности, химико-механическую полировку на второй стадии проводят при водородном показателе рН абразивной суспензии 10,2-10,8 и допол нительно проводят третью стадию химико-механической полировки при водородном показателе рН 6-8 в течение 2 — 5 мин и давлении на полупроводниковые пластины от

0.05 105-0,11 105 Па, причем вторую и третью стадии проводят на одном полировальнике.

Способ финишной полировки полупроводниковых пластин Способ финишной полировки полупроводниковых пластин Способ финишной полировки полупроводниковых пластин 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для полирования полупроводниковых частиц

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для крепления полупроводниковых пластин при полировании

Изобретение относится к области ионно-плазменной обработки и может найти применение в микроэлектронике при производстве интегральных схем

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано в производстве пластин арсенида галлия на стадии финишного копирования

Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к технологии изготовления ИС на основе кремния

Изобретение относится к плазменной технике, а более конкретно к СВЧ - плазмотронам, предназначенным для плазменной обработки материалов при давлениях ниже атмосферного, и может быть использовано для проведения процессов травления, очистки, осаждения, формирования собственных диэлектриков (анодирования) на полупроводниках и металлах

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при химико-механическом полировании пластин из полупроводниковых и диэлектричес ких материалов, таких,Как арсенид галлия, индия , ниобат лития

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение технологичности процессов механической обработки, выхода годных пластин, в частности, из материалов группы A3B5 в случае получения пластин с допуском диаметра 0,3 мм и менее

Изобретение относится к области микроэлектроники, в частности, к технологии изготовления полупроводниковых структур, являющихся элементной базой функциональной микроэлектроники и может быть использовано в технологии изготовления интегральных газовых датчиков с тонкими мембранами /1- 5 мкм/, а также мембран для рентгеновских фотошаблонов

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в производстве полупроводниковых лазерных диодов и светодиодов

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых структур, получаемых:- путем механического утонения структур с нерабочей стороны структур до фиксированной толщины, например до толщины 6-20 мкм;- путем термического соединения (сварки через окисел) двух пластин разной проводимости, легирования и кристаллографической ориентации и механического утонения одной из пластин до фиксированной толщины, например до толщины 6-10 мкм;- путем механической или химико-механической доводки структур для выравнивания планарного рельефа, удаления дефектов с использованием Stop-процесса

Изобретение относится к способам термохимического травления тугоплавких химически стойких материалов, в частности к методам локального травления их поверхности, например, с использованием локального лазерного облучения

Изобретение относится к технике полупроводникового производства и может быть использовано для формирования многоуровневых межсоединений СБИС, в частности, для планаризации поверхности межслойного диэлектрика, межуровневого диэлектрика, для получения вертикальных проводников, диффузионно-барьерных слоев и адгезионных слоев на операциях подготовки поверхности пластин, например, при химико-механической полировке с последующей отмывкой их (гидромеханической, мегазвуковой и др.)

Изобретение относится к электронной промышленности, а именно к фотошаблонным заготовкам (ФШЗ), предназначенным для формирования рисунка микроизображения при изготовлении интегральных схем

Изобретение относится к области оптоэлектроники и может быть использовано при изготовлении пластин из слитков или булей монокристаллов, например, сапфиров

Изобретение относится к производству изделий электронной техники и может быть использовано, например, на операциях очистки полупроводниковых пластин с помощью щеток и мегазвука
Наверх