Способ измерения толщины листовых изделий

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины листовых материалов, в частности древесно-стружечных плит. Цель изобретения - повышение точности и упрощение способа, достигается путем исключения погрешности, связанной с наклоном материала. Световой пучок от источника с помощью системы отражателей преобразуют в систему из трех параллельных пучков, не лежащих в одной плоскости и направленных на одну из поверхностей контролируемого изделия. Световой пучок от источника направляют на противоположную сторону изделия. Координаты пересечения осей световых пучков с указанными плоскостями видны в виде светящихся точек . Изображения каждой из точек проектируются на чувствительные площадки фотоприемников, вырабатывающих сигналы , пропорциональные координатам светящихся точек. Микропроцессорный блок рассчитывает толщину h изделия по координатам четырех светящихся точек по формулам , известным из аналитической геометрии/Например,, рассчитывается объем пирамиды с вершинами, расположенными в указанных точках, площадь основания пирамиды и затем высота пирамиды, являющаяся толщиной контролируемого изделия . 1 з.п.ф-лы, 4 ил. СО с

COIO3 СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (l9) (1l) (5()5 G 01 В 11/06

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

IlO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4455136/28 (22) 05,07.88 (46) 23,04.92. Бюл. N. 15 (71) .Центральное конструкторско-технологическое бюро приборостроения с опытным производством (72) B.ß. Собашко, P.Ñ, Масловский и А.В.

Собашко (53) 531.717(088.8) (56) Корн Г„Корн Т. Справочник по математике для научных работников и инженеров. — М.: Наука, 1968, с.75 — 76, Авторское свидетельство СССР

N 1190191, кл. G 01 В 21/02, 1965. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛИСТОВЫХ ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины листовых материалов, в частности древесно-стружечных плит.

Цель изобретения — повышение точности и упрощение способа, достигается путем исключения погрешности, связанной с наклоИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины листовых материалов, в частности древесно-стружечных плит.

Цель изобретения — повышение точности измерений и упрощение реализации способа путем исключения погрешности, связанной с наклоном материала.

На фиг.1 представлена функциональная схема устройства, реализующего способ измерения толщины листовых изделий; на ном материала. Световой пучок от исгочника с помощью системы отражателей преобразуют в систему из трех параллельных пучков, не лежащих в одной плоскости и направленных на одну из поверхностей контролируемого изделия. Световой пучок от источника направляют на противоположную сторону изделия. Координаты пересечения осей световых пучков с указанными плоскостями видны в виде светящихся точек. Изображения каждой из точек проектируются на чувствительные площадки фотоприемников, вырабатывающих сигналы, пропорциональные координатам светящихся точек. Микропроцессорный блок рассчитывает толщину h изделия по координатам четырех светящихся точек по формулам, известным из аналитической геометрии. Например,. рассчитывается обьем пирамиды с вершинами, расположенными в указанных точках, площадь основания пирамиды и затем высота пирамиды, являющаяся толщиной контролируемого изделия. 1 з.п,ф-лы, 4 ил. фиг,2 и 3 — формульные зависимости для вычисления толщины листовых иэделий; на фиг.4 — схема определения перемещения поверхности контролируемого изделия.

Устройство для реализации способа измерения толщины листового изделия содержит два источника 1 и 2 света, расположенные по разные стороны контролируемого изделия 3; систему полупрозрачных зеркал 4 — 7 для образования трех параллельных световых пучков от источника

1728647

Я вЂ” Z IL

1, четыре фотоприемника 8-11, связанные с микропроцессорным блоком 12, к которому подсоединен эадатчик 13 толщины, К.выходу микропроцессорного блока 12 подключено исполнительное устройство 14. Каждый фотоприемник снабжен объективом 15, Для создания трех световых пучков, освещающих одну иэ поверхностей (на фиг.1 верхнюю), могут быть использованы раздельные источники света.

В качестве задатчиков могут быть использованы любые серийные переключатели, с помощью которых можно задавать многоразрядный двоичный или десятичный код, соответствующий верхнему и нижнему допускам толщины. Задатчик 13 (блок переключателей) связан с ЭВМ с помощью интерфейса ЭВМ.

Способ измерения толщины листового изделия осуществляют следующим образом.

Световой пучок от источника 1, проходя через полупрозрачные зеркала 4 и 5, последовательно разделяется на три пучка, два иэ которых с помощью зеркал 6 и 7 повторно отражаются и образуют систему из трех параллельных пучков, причем образованные пучки не лежат в одной плоскости и направлены на одну иэ сторон контролируемого листового изделия. Световой пучок от источника 2 направлен на противоположную поверхность контролируемого изделия, В результате на одной поверхности контролируемого изделия формируются три светящие точки А, В, С, на противоположной поверхности — одна светящаяся точка А, соответствующие координатам пересечения осей световых пучков с указанными поверхностями,В каждом из фотоприемников

8 — 11 с помощью объектива 15 изображение соответствующей светящейся точки проектируется на один из фотоэлементов линейчатого фотоприемника, отражая координаты этой точки, Фотоприемники формируют электрические сигналы, пропорциональные координатам светящихся точек, которые затем поступают на соответствующие входы микропроцессорного блока 12, на отдельный вход которого также поступает сигнал от задатчика 13 толщины.

При перемещении поверхности контролируемого изделия вверх или вниз изображение светящихся точек перемещается вдоль линеек фотоприемников, от ражая новые координаты Z светящихся точек, а координаты

Х, Y при этом не изменяются (фиг.3). Координаты Х и Y задаются при конструировании прибора путем выбора расстояния между лучами, а также выбором начала координат, Микропроцессорный блок 12 рассчитывает толщину h изделия по координатам четырех точек А (xj, у1, 1); В (x2, у2, z2); С (X3, Уз, Za), А (Х4, У4, Z4) по формулам, извест1 ным из аналитической геометрии.

Так, например, исходя из координат четырех точек, можно рассчитать объем V пирамиды с вершинами, расположенными в указанных точках, площадь S основания пирамиды и затем высоту h пирамиды, являющуюся толщиной контролируемого изделия

Световые пучки от источников 1 и 2 могут быть направлены соосно. В этом случае

А и А лежат на одной прямой и расчет

1 толщины h изделия упрощается и ведется по другой формуле где М =(Yz - У1)(Ез — Z1) -(Уэ - Y1}(Zz - Z1);

И = (Х2 - Х 1)2з - Z 1) - (Хз - Х 1}(гг - Z 1);

1 = (Х2 - Х 1)(УЗ - Y 1) " (ХЗ " Х 1)(У2 - Y 1);

Х1,г,з; У12,3; . Ь.2,3 — координаты точечных изображений, расположенных на одной из поверхностей;

Х4, У4, Z4 — координаты точечного изображения, расположенного на противоположной поверхности, Формирование трех пучков из четырех на одной поверхности изделия, а четвертого пучка — на другой позволяет упростить реализацию способа и повысить точность измерения.

Формула изобретения

1.Способ измерения толщины листовых изделий, заключающийся в том, что направляют четыре световых пучка на противоположные поверхности контролируемого изделия, формируют электрические сигналы. пропорциональные координатам пересечения осей световых пучков с указанными поверхностями, и по полученным значениям электрических сигналов судят о толщине контролируемого изделия, о т л и ч а ю щ ий с я тем, что, с целью повышения точности измерений и упрощения способа, световые пучки ориентируют параллельно друг другу, три пучка посылают на одну из поверхностей контролируемого изделия и располагают их так, что оси пучков не находятся одна с другой в одной плоскости, четвертый пучок посылают на противоположную поверхность контролируемого иэделия.

2.Способ по п,1, отличающийся тем, что два GGGTQBblx пучка направляют на противоположные поверхности контроли1728647 руемого изделия соосно, а толщину изделия

h определяют по формуле где М = (Уг - Y1XZ3- Z1) - (Y3- Y1)(Z2- Z1), N = (Хг - X q)(Q - 21) - (Хз - Xq)(Zz - Zg);

L -.(Хг - Xi)(Y)- Y))-(Хз - X))(Y2 - У );

X1,2,э; У1,2,з; Лад,з — координаты точечных изображений, расположенных на одной

5 из поверхностей;

Z4 — координата точечного изображения, расположенного на противоположной поверхности.

1728647

1728647

Составитель С.Грачев

Техред М.Моргентал

Корректор M.Kó÷åðÿâàÿ

Редактор О.Головач

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Заказ 1398 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Способ измерения толщины листовых изделий Способ измерения толщины листовых изделий Способ измерения толщины листовых изделий Способ измерения толщины листовых изделий Способ измерения толщины листовых изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к определению толщин плит оптическими методами

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к изготовлению многослойных оптических покрытий.наносимых путем осаждения веществ в вакууме

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам определения толщины прозрачных плоскопараллельных объектов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению толщины пленок

Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может быть использовано при изготовлении микросхем, в лазерной технике при напылении материалов на кристаллы

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении линейных размеров объектов, в частности для бесконтактного определения смещений обьекта от номинального положения

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения толщины полупроводниковых и диэлектрических пленок

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в твердотельной электронике для измерения толщины диэлектрического слоя на поверхности полупроводника

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины пленок при производстве интегральных микросхем

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в технологии ионной и ионнохимической обработки материалов при производстве оптических деталей, элементов полупроводниковой микроэлектроники и интегральной оптики

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх