Устройство для контроля стойкости к импульсным воздействиям оксиднополупроводниковых нелинейных резисторов


G01R31 - Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R 1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H 71/04,H01H 73/12, H02B 11/10,H02H 3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L 21/66; испытание линий передачи энергии H04B 3/46)

 

Использование: на предприятиях, изготавливающих варисторы и использующих их. Целью изобретения является повышение достоверности контроля. Сущность изобретения: устройство содержит источник 1 переменного напряжения , испытуемый резистор 2, измерительный шунт 3, блок Ц регистрации , генератор 5 испытательных импульсов. Пеовый выход генератора испытательных импульсов соединен с первым выводом испытуемого резистора 2 и первым выходом источника 1 переменного напряжения, второй выход генератора испытательных импульсов соединен с вторым выводом испытуемого резистора 2, первым входом блока регистрации и первым выводом измерительного шунта 3, второй выход источника 1 переменного напряжения соединен с вторым выводом измеритель- i (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1

9 СИ () ЫЛЛ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ (1О ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4626043/21 (22) 26.12.88 (46) 07,05,92. Вюл. Г 17 (71) Научно-исследовательский институт по передаче электроэнергии посто янным током высокого напряжения (72) В.А.Долгих, Л.A.Öçèí, В.И,Черников и Ю.Н.Колышкин (53) 621.317.799 (088.8) (56) Патент Японии Р 58-11725, кл. С 01 R 31/02, 04.03.83.

Патент Японии Р 59-52990, кл. С 01 R 31/00, 28.12.84, Авторское свидетельство СССР " 1320776, wa, С 01 R 31/00, опублик. 30,06,87, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ СТОЙ.КОСТИ К ИМПУЛЬСНЫМ ВОЗДЕЙСТВИЯМ ОКСИДНОПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ НЕЛИНЕЙНЫХ

РЕЗИСТОРОВ

2 (57) Использование: на предприятиях, изготавливающих варисторы и использующих их . Целью изобретения является повышение достоверности контроля.

Сущность изобретения: устройство содержит источник 1 переменного напряжения, испытуемый резистор 2, измерительный шунт 3, блок 4 регистрации, генератор 5 испытательных импульсов. Первый выход генератора испытательных импульсов соединен с первым выводом испытуемого резистора

2 и первым выходом источника 1 переменного напряжения, второй выход генератора испытательных импульсов соединен с вторым выводом испытуемого резистора 2, первым входом блока регистрации и первым выводом измерительного шунта 3, второй выход источника 1 переменного напряжения соединен с вторым выводом измеритель3 1 ного шунта 3 и вторым входом блока 4 регистрации, Генератор 5 испытательных импульсов содержит регулируе.мый источник 6 постоянногo напряжения, измеритель 7, конденсатор 8, индуктивность 9, полупроводниковый ключ 10, Первый выход регулируемого источника 6 постоянного напряжения соединен с первым входом измерителя

7, первым выводом конденсатора 8 и первым выводом индуктивности 9, вто732299

1

10 рой выход рег улируемого и сточ ни ка постоянного напряжения соединен с вторым входом измерителя 7, вторым выводом конденсатора 8 и вторым выходом генератора 5 испытательных импульсов, .второй вывод индуктивности 9 соединен с входом полупроводникового ключа 1О, выход которого соединен с первым выходом генератора 5 испытательных импульсов, 1 э,п ф-лы, 1 ил, Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано на предприятиях, изготавливающих варисторы и использующие их.

Цель изобретения - повышение достоверности, На чертеже приведена структурная схема устройства, Устройство для контроля импульсной стойкости оксиднополупровод- никовых нелинейных резисторов содержит источник 1 переменного напряжения, испытуемый резистор 2, измерительный шунт 3, блок 4 регистрации, генератор 5 испытательных импульсов.

Первый выход генератора 5 испытательных импульсов соединен с первым выводом испытуемого резистора 2 и первым выходом источника 1 переменного напряжения, второй выход генератора 5 испытательных импульсов соединен с вторым выводом испытуемого резистора 2, с первым выводом измерительного шунта 3 и первым входом измерительного блока 4, второй выход источника 1 переменного напряжения соединен с вторым выводом измерительного шунта 3 и вторым входом блока 4 регистрации. Генератор

5 испытательных импульсов содержит регулируемый источник 6 постоянного напряжения,. измеритель 7, конденсатор

8, индуктивность 9 и полупроводниковый ключ 10, первый выход регулируемого источника 6 постоянного напряжения соединен с первым входом измерителя 7, первым выводом конденсатора 8 и первым выводом индуктивности

9, второй выход регулируемого источника 6 постоянного напряжения соединен с вторым входом измерителя 7, вторым выводом конденсатора 8 и вто- рым выходом генератора 5 испытатель-

«0, перенапряжение с определенным им55

Hb1x импульсов, второй вывод индуктивности 9 соединен с входом полупроводникового ключа 1П,. выход полупроводникового ключа 10 соединен с первым выходом генератора 5 испытательных импульсов.

Устройство работает следующим образом.

С помощью регулируемого источника ! переменного напряжения устанавливают такой рабочий ток через испытуемый резистор 2, чтобы активная составляющая тока приняла определенное фиксируемое значение, Измерение это производится с измерительного шунта

3 блоком 4 регистрации изменения активной составляющей тока, В простейшем случае в качестве такого бло- . ка может служить запоминающий осцил" лограф. Затем через испытуемый резистор 2 пропускается от: генератора

5 испытательных импульсов тока однократный импульс тока, имитирующий пульсным воздействием, и фиксируется активная составляющая в рабочем токе после этого импульса тока. Возрастание значения активной составляющей рабочего тока через резистор

2 является критерием стойкости резистора к импульсным воздействиям, формула изобретения

1, Устройство для контроля стойкости к импульсным воздействиям оксиднополупроводниковых нелинейных резисторов, содержащее источник переменного напряжения, последовательно включенные испытуемый резистор и измерительный шунт и блок регистрации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения достоверности, оно

2. Устройство по п,1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что генератор испытательных импульсов выполнен в

I составитель В,Федотов

Техред M,Дидык

Корректор Л,Пилипенко

Редактор В,Бугренкова

У

Заказ 1581 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-.35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101

S 17 снабжено генератором испытательных импульсов, первый выход генератора испытательных импульсов соединен с первым выводом испытуемого резистора и первым выходом источника переменного напряжения, второй выход генератора испытательных импульсов соединен с вторым выводом испытуемого резистора, с первым выводом измерительного шунта и первым входом измерительного блока, второй выход источника переменного напряжения соединен с вторым выводом измерительного шунта и вторым входом .блока регистрации, 32299 б виде регулируемого источника йостсянного напряжения, измерителя, конленсатора, индуктивности и полупроводникового ключа, первый выход perулируемого источника постоянного напряжения соединен с первым входом измерителя, первым выводом конденсатора и первым выводом индуктивности, второй выход регулируемого источника постоянного напряжения соединен с вторым входом измерителя, вторым выводом конденсатора и вторым выходом генератора испытатель1 5 Hblx имп ул ьсов, BTopoH BbIBop, и ндуктивности соединен с входом полупроводникового ключа, выход полупроводникового ключа соединен с первым выходом генератора испытательных импульсов.

Устройство для контроля стойкости к импульсным воздействиям оксиднополупроводниковых нелинейных резисторов Устройство для контроля стойкости к импульсным воздействиям оксиднополупроводниковых нелинейных резисторов Устройство для контроля стойкости к импульсным воздействиям оксиднополупроводниковых нелинейных резисторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике электрических измерений и контроля, в частности электрических схем, выполненных на печатных платах

Изобретение относится к электрическим испытаниям, в частности к испытаниям электрической прочности изоляции движущихся в процессе производства или перемотки изолированных проводов и кабелей, и может быть использовано для автоматизированного удаления одиночного дефекта и/или дефектного участка по его началу и концу изолированной жилы или провода

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано на электрических станциях

Изобретение относится к производству радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля печатных плат, например толстопленочных микросборок

Изобретение относится к измерительной и вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля параметров с использованием ЭВМ

Изобретение относится к электроизмерительной технике, в частности к приборам для определения механических, термических , электрических, оптических и пр

Изобретение относится к технике высоких напряжений и может быть использовано для тренировки электрической изоляции, например, импульсных конденсаторов

Изобретение относится к измерительной аппаратуре, применяемой в электротехнике, и, в частности, может быть использовано для контроля воздушного зазора синхронной электрической машины, например гидрогенератора

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электротехнике, в частности к контролю электрических параметров аккумуляторных источников питания как отдельных аккумуляторов, так и батарей

Изобретение относится к области высоковольтной техники, в частности к силовым конденсаторным батареям (СКБ) в энергосистемах

Изобретение относится к области высоковольтной техники, в частности к силовым конденсаторным батареям (ОКБ) в энергосистемах
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2013-03-27T11:26:38
Наверх