Блок обработки сигналов фотоэлектронного дефектоскопа

 

Изобретение предназначено для использования при автоматическом контроля локальных дефектов поверхности изделий. Цель изобретения - упрощение схемы и повышение достоверности контроля дефектов . Устройство содержит диоды, катоды которых подключены к выходам перемножителей, а аноды объединены и соединены со входом фильтра нижних частот, при этом сигнальный вход компаратора подключен непосредственно к выходу того же фильтра. Выходные сигналы всех перемножителей вносят вклад в результирующий сигнал отрицательной полярности, сравниваемый после усреднения с пороговым уровнем бракования. Диоды в каждый момент времени пропускают на вход фильтра нижних частот наиболее отрицательное значение из выходных сигналов перемножителей . 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ, 1 (21) 4833304/25 (22) 01.06.90 (46) 15.08.92. Бюл. М 30 (75) Б. А. Борзы х (56) Мирский Г. Я. Аппаратурное определение характеристик случайных процессов.

М.: Энергия, 1972, с. 117, рис. 4 — 2.

Авторское свидетельство СССР

М 1702262, кл. G 01 N 21/88, 1989., (54) БЛОК ОБРАБОТКИ СИГНАЛОВ ФОТОЭЛ ЕКТРИЧ ЕСКОГО ДЕФ Е КТОСКО ПА (57) Изобретение предназначено для использования при автоматическом контроля локальных дефектов поверхности изделий.

Цель изобретения — упрощение схемы и поИзобретение относится к контрольносортировочной технике и может быть йспользовано в составе фотоэлектрического дефектоскопа, предназначенного для конт.роля локальных дефектов поверхностй изделий;

Известны блоки обработки сигналов, выполненные в виде многоканальных коррелометров, что обеспечивает фильтрацию, близкую к оптимальной, в случае сигнала с нормальным распределением. Коррелометр содержит входные устройства, линию задержки с отводами, схемы умножения, первые входи которых «объединены и подключены к выходу одйого из входных . устройств, а вторые входы соединенй с соответствующими отводами и выходом линии

„„5LI„„1755140 А1 (says G 01 Ц 21/88

2 вышение достоверностй контроля дефектов. Устройство содержит диоды, катоды которых подключены к выходам перемножителей, а аноды объединены и соединены со входом фильтра нижних частот, при этом сигнальный вход компаратора подключен непосредственно к выходу того же фильтра. Выходные сигналы всех перемножителей вносят вклад s результирующий сигнал отрицательной полярности, сравниваемый после усреднейия с пороговым уровнем бракования. Диоды в каждый момент времени пропускают на вход фильтра нижних частот наиболее отрицательное значение из выходных сигналов перемножителей. 1 ил. задержки, усредняющйе устройства, входы которых к соответс гйующим выходам схем умножения, регистрирующее устройство, объединяющее выходы усредняющих устройств.

Недостатком подобных блоков обработки сигналов является прежде всего относительно большое число усредняющих устройств, разброс параметров которых должен быть минимальным. Кроме того, регистрирующее устройство лишь показывает вид корреляционной функции, не анализируя ее автоматически по принципу "годенбрак".

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является блок обработки сигналов фотоэлектрического

1755140 аноды объедйнены и соедийены со входом. 50 фильтра нижних частот, при этом сигнальный вход компаратора подключен непосредственно к выходу того же фильтра, а . выхбд всех линий задержки и вторь|е входы всех перемножителей объединены между собой и подключейы к выходу центрирующего фильтра.

На чертеже приведена схема обработки сигналов фотоэлектрического дефектоскопа (для случая объединения трех ненулевых дефектоскопа, содержащий центрирующий фильтр, линию задержки сигнала, аналоговый перемножитель, первый вход которого вместе с входом линии задержки подключен к выходу центрирующего фильтра, а второй вход соединен с выходом линии задержки, усредняющий фильтр нижних частот, вход которого подключен к выходу перемножителя, пиковый детектор минимума, соединенный с выходом усредняющего фильтра, компаратор, сигнальный вход которого через масштабный усилИтйль подключен к выходу пикового детектора. Схема определяет максимальное по абсолютной величине отрицательное значение ненулевых ординат корреляционной функции сигнала, Недостатком его является относительная сложность схемной реализации, связанная с необходимостью усредняющих фильтров в количестве, равном числу одновременно вычисляемых текущих ординат корреляционной функции, и подбора компонентов фильтров для обеспечения идентичности параметров последних; некоторая неполнота использования информации, содержащейся в выходйых сигналах усредняющих фильтров, обусловленная тем, что пиковое детектирование учитывает лишь ординату,:максимальную rio абсолютной величине, и отсекает все остальные ординаты меньшей величины независимо от их текущих значейий.

Цель изобретения — упрощение устройства и повышение достоверности обнаружения дефектов

Поставленная цель достигается тем, что блок обработки сигналов фотоэлектрического дефектоскопа, содержащий цейтриру1ощий фильтр, линию задержки сигнала, аналоговый перемножитель, первый вход которого вместе со входами линий задержки объединен и подключен к выходу центрирующего фильтра, а второй вход соединен с выходом линий задержки, фильтр нижних частот, компаратор снабжен дополнительно, по крайней мере, одной линией задержки С перемножителем на выходе, диодами, катод каждого из которых подключен к выходу соответствующего перемножителя, а

40 ординат корреляционной функции сигнала . фотоприемника).

Блок обработки .содержит центрирующий фильтр 1, линии 2, 3, 4 задержки сигнала; аналоговые перемножители 5, 6, 7, первые входы которых (нижние по схеме) вместе со входами линии 2, 3, 4, задержки объединены и подключены к выходу центрирующего фильтра 1, а вторые входы (верхние по схеме) соединены с соответствующими выходами линий 2, 3, 4 задержки; набор 8 так называемых "идеальных" диодов (диодов, включенных на выходах операционных усилителей и входящих в цепи отрицательной обратной связи),.имеющих пренебрежимо малое пороговое напряжение открывания, условные катоды которых (неинвертирующие входы операционных усилителей) соединены с выходами перемножителей 5, 6, 7, а условные аноды обьединены; усредняющий фильтр 9 нижних частот, со входом которого соединены условные аноды диодов 8, а с выходом— сигнальный вход компаратора 10.

Оптимальные величины задержек сигнала в линиях 2, 3, 4 выбираются на основе экспериментов из геометрического ряда значений и равным долям миллисекунды или единицам миллисекунд в зависимости от особенностей контролируемых изделий.

Постоянная времени фильтра 9 нижних частот должна превышать время развертки дефектов максимальных размеров в несколько раз (уточняется с реальными изделиями по критерию максимальной достоверности). . Устройство работает следующим образом, Усиленный сигнал от развертываемой поверхности с выхода фотоприемника центрируется фильтром 1 и задерживается линиями 2, 3, 4 на три различных значения времени. Прямой и задержанные центрированные сигналы перемножаются перемножителями 5, 6, 7. Результаты перемножения представляют собой случайные процессы с удвоенной (в среднем) частотой спектрального максимума по сравнению с исходным сигналом. Набор 8 "идеальных" диодов в каждый данный момейт времени пропускает на вход фильтра 9 нижних частот наиболее отрицательное значение их выходных сигналов перемножителей 5, 6, 7. В каждый данный момент времени открыт лишь один диод из набора 8. Диоды открываются случайным образом. Результирующий сигнал состоит из фрагментов выходных сигналов перемножителей 5, 6, 7, причем "провалы" (в сторону положительных значений) каждого из сигналов перемножителей 5, 6, 7, как правило, заполняются отрицательными вы1755140

Техред M.Moðãåíòàë Корректор Т.Вашкович

Редактор M.Òîâòèí

Заказ 2887 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета па изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 бросами других сигналов. Тем самым дополнительно подавляются шумы от годной поверхности, причем спектр шумов еще больше смещается s сторону верхних частот (за счет диодной коммутации). Отрицатель- 5 ные выбросы от дефекта,-как правило, не сопровождаются переключением диодов, однако выброс может быть расширен аналогичными выбросами других ординат, что увеличит амплитуду выходного импульса 10 фильтра 9 йижних частот и с большей вероятностью вызовет срабатывание компаратора 10. Опорный (пороговый) уровень компаратора 10 отрицательной полярности формируют одним из известных способов. 15

Для предотвращения случаев запирания всех диодов вход фильтра 9 может быть соединен с положительным полюсом источника питания через резистор сопротивлением в несколько килоом. При этом 20 усредненный уровень шума несколько уменьшится по абсолютной величине.

Изобретение при более простой схемной реализации повышает достоверность бракования дефектов и снижает вероятность 25 ложной забраковки годной поверхности за счет усреднений сигнала, сформированного из сигналов по всем анализируемым ненулевым ординатам корреляционной функции, Формула изобретения

Блок обработки сигналов фотоэлектрического дефектоскопа, содержащий центрирующий фильтр, линию задержки сигнала, аналоговый перемножитель, первый вход которого и вход линии задержки объединены и подключены к выходу центрирующего фильтра, а второй вход соединен с выходом линий задержки, фильтр нижних частот, компаратор, отл ича ющийся тем, что, с целью упрощения уСтройства и повышения достоверности обнаружения дефектов, он снабжен дополнительно по крайней мере одной линией задержки с йеремножителем на выходе, диодами, катод каждого из которых подключен к выходу соответствующего перемножителя, а аноды объединены и соединены с входом фильтра нижних частот, при этом сигнальный вход компаратора подключен непосредственно к выходу того же фильтра, а входы всех линий задержки и первые входы всех перемножителей объединены между собой и подключены к выходу центрирующего фильтра. (— Ч

Блок обработки сигналов фотоэлектронного дефектоскопа Блок обработки сигналов фотоэлектронного дефектоскопа Блок обработки сигналов фотоэлектронного дефектоскопа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к дефектоскопии , в частности к способам контроля глубины дефектов в стеклокристаллических материалах (ситаллах)

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике

Изобретение относится к технике исследования физических свойств веществ и касается способа измерения малых концентраций влаги в сыпучих материалах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано в системах автоматического контроля для анализа качества обработки поверхностей различных деталей, в частности поршневых колец

Изобретение относится к оптическим устройствам для автоматизированного контроля дефектов поверхности в областях техники , где необходимо исследование микрообъектов

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в системах для оптической обработки изображения , а также в регистрирующих фотоприемных системах

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к обнаружению дефектов на гладкой поверхности, например на поверхности магнитных дисков

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх