Патент ссср 183282

 

ОП ИСАНИ Е l83282

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сок!а Саввтаких

Социалистических

Республик

Зявиси ioe от авт. свидетельства 1(т

Кл. 21е, 36/04

Заявлено 12.III.1965 (№ 947118/26-24) с присоединением заявки №

Приоритет

Спубликовсн!о 17.VI.1966. Бюллетень № 13

ЧПК 6 01г

Комитет па лелгм изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УД1(621.317.799:

:621-503.53 (088.8) Дата опубликования описания 24.VI I 1.19áá с!Р 1с !",У:,,,1 !

Авторы изобретения

Б. М. Яговкин и Б. П. Шевцов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КЛАССА ТОЧНОСТИ

ЭЛЕМЕНТОВ СЛЕДЯ ЩИХ СИСТЕМ

Известны устройства для определения класса точности элементов следящих систем, осноВс1ННЫЕ На ПРИНЦИПЕ ЭЛЕКтРОМаГНИтНОй аСИМметрии. Они содержат оптические делительные головки с ручным приводом и измерителы!ый прибор (милливольтметр) . Ho эти устройства не дают возможности автоматизировать процесс определения класса точности элемента 110 электромагнитной асимметриии.

Особенность пред;1оженного устройства для определения класса точности элементов, например сельсинов, заключается в TÎм, что подвижные пластины емкостных датчиков соединены с кварцевым генератором и расположены на диске, жестко связанном с ротором исп! !Туес!Ого э le! ieHTH. He!10,113ижняя часть ем1(OCTIIblX;j3TiIHKOB СОСТОИТ Из двух rl;IBCTHII H сое;!инена с входами запо, !!И(а!Ощих блоков схемы определения среднеарифметического значения отклонений характеристик испытуемого элемента, например сельсипя, от теоретического значения характеристик в фиксируемых точках. Зто позволяет автоматизировать процесс измере1!ия отклонений минимума характеристик элементов следящих систем от теоретических точек и определения класса точности элементов по электромагнитной асимметрии.

Иа чертеже изображена блок-схема описываемого устройства.

Подвиж 1ые пластины 1 e»i(ocò !ых датчиков расположены Ila враща1ощемся диске 2 и за5 нитыва!Отея синусоидальным напряжением с генератора 8. Общая пеподвижн"-,ÿ часть е»1(ОСТИ ЫХ Дс1Т I HI(013 COCTOliT ИЗ ДВУХ Ся гlОСТОЯтельных пластин, следовятелтию по отношеншо r(;ioÄl;i!жпым имеет нсйтраль, и каждую

10 отдел ную неподвижную пластину можно счиTHTL по:!Ожителыlой и Отриця тельной. СигняЛ1 0 ВЕ. 1ИЧИПЕ ЕМКОСТИ СПИМсl!ОТСЯ ОДПОВРЕ

МЕИ110 С Г!ОЛОЖИТЕс!Ьпой! П ОТРИЦссТЕЛЬНОй ЧЯстей неподги!жной пластины и подаются ня

15 г3ходы двух каналов, схемы для определения среднеарифметического значения, состоящей

l;3 УМПОКИТЕЛЕП (с И О, ЗЯПО ilHIIЯIОЩПХ 3 СТpoiicTl3 б и 7 и вычислительного устройства 8.

3апо..!1и!Я10щис устройства зяпог!ИИЯ1от толь20 ко максимальные значения поступивших сиги а. 1 О В С 0 13 С ЕХ КО Н Т Р О Л Ь П Ы Х ТО Ч Е 1(, а В Ь! с! и С Л Ительное устройство определяет абсолютную величину их среднеарифметического значения.

Выходной сигнаг! устройства 8 определяет

25 класс точности элемента по электромагнитной асимметрии. Схема сравнения, состоя цяя из мульп!вибраторов 9, 10 и !1 и генератора опорного !«,HðIIH(åíHÿ 12, классифицирует этот сигнал по к;!ассам и выдает сигнал на пнди183282

Предмет изобретения

Выходной сигнал

Составитель В. В. Мардин

Техред А. А. Камышникова Корректор Л. В. Тюняева

Редактор П. И. Шлайн

Заказ 2294/9 Тираж 1525 Формат бум. 60><90% Объем 0,16 изд. л. Подписнос

ЦНИИПИ Комитегп по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 кацию, соответствующую классу точности испытуемого элемента, например сельсина.

Устройство для определения класса точности элементов следящих систем, например сельсинов, по электромагнитной асимметрии, состоящее из емкостных датчиков, расположенных на вращающемся диске, кварцевого генератора, схемы для определения среднеарифметического значения и схемы сравнения, отличающееся тем, что, с целью автоматизации измерения отклонений минимума характеристик элементов следящих систем, например сельсинов, от теоретических точек и определения класса точности элементов, в нем подвижные пластины емкостных датчиков соединены с кварцевым генератором и расположены на диске, жестко связанном с ротором испытуемого элемента, а неподвижная часть емкостных датчиков, состоящая из двух пластин, соединена с входами запоминающих блоков схе10 мы определения среднеарифметического значения отклонений характеристик испытуемого элемента, например сельсипа, оТ теоретичсского значения характеристик в фиксируемых точках.