Способ определения местной толщины палладиевых покрь1тий

 

186716

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских.Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 03.11 .1964 (№ 880303/22-2) с присоединением заявки №

1<,л. 42Ь, 12/03

42/, 3/53,ЧПК G 01П

G 011

УДК 546 98 621 357 7

:531.717.521(088.8) Приоритет

Опубликовано ОЗ.Х.1966. Бюллетень № 19

Дата опубликования описания 25.Х.19бб

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

° Ф

1 ань Тт..т ф01

Р. С. Сайфуллин и Ф. И. Надеева i " 1ГХИЧ;;;

Б1 Б,Ц;1Т!

Казанский химико-технологический институт им. С. М.Ядикова

Авторы изобретения

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕСТНОИ ТОЛЩИНЫ

ПАЛЛАДИЕВЬ1Х ПОКРЫТИЙ

Предмет изобретения

Известные способы определения толщины палладиевых покрытий, осажденных, например, на медь, латунь, серебро электроструйным нуль-методом, занимают много времени.

По предложенному способу толщину покрытий определяют травлением образца в растворе, содержащем йодид калия 500 г/л, йод

7,5 г/л.

Определение толщины покрытий проводят следующим образом.

Получают исходные гальванические осадки палладия для испытания их хлораммонийпого электролита, затем промытый и высушенный образец закрепляют под углом 45 к капилляру прибора.

Образец подвергают действию раствора йодида калия и йода до отклонения стрелки гальванометра на пять делений.

Время снятия осадка толщиной 2,3 мк в центре образца при температуре раствора и окружающей среды 20 С равно 70+2 сек (4 определения), что в пересчете на 1 мк составляет 30,6 сек.

Способ определения местной толщины палладиевых покрытий осажденных, например, на медь, латунь, серебро с помощью электроструйного нуль-метода, отличающийся тем, 15 что, с целью сокращения времени, определение толщины проводят травлением образца в растворе, содержащем йодид калия 500 г/л и йод 7,5 г/л.

Способ определения местной толщины палладиевых покрь1тий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх