Способ определения светочувствительных характеристик фотоситаллов

 

Назначение: изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов. Сущность изобретения: способ включает облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой. В процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца. Искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям. 2 ил.

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к способам контроля параметров при изготовлении фотоситаллов, и может быть использовано для изготовления элементов интегральной и градиентной оптики.

Известен способ определения параметров стекол по электросопротивлению в процессе их ситаллизации [1] .

Однако данный способ позволяет осуществить контроль и управление только в процессе отжига стекла. В процессе облучения этот метод не дает информацию, так как во время облучения не образуется кристаллическая фаза.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому способу определения параметров является Метод определения светочувствительных характеристик исходных стекол для получения фотоситалла.

В данном способе образец получают, подвергают термообработке и определяют параметры по непосредственному измерению зависимости коэффициента поглощения от длины волны и экспериментальным микрофотометрированием проявляемого изображения [2] .

Данный метод невозможно применить в процессе облучения образца и последующей термообработки. Кроме того, этот метод сложен, не дает достаточной точности и невозможен для получения образцов с заранее заданными параметрами.

Целью изобретения является повышение точности и упрощение способа определения параметров.

Цель достигается тем, что в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям.

Сущность изобретения заключается в следующем.

При облучении светочувствительного стекла в ультрафиолетовом свете число образуемых центров кристаллизации определяется временем экспозиции.

Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности образца от времени экспозиции. В процессе термообработки в облученном образце образуется кристаллическая фаза.

Экспериментально была выявлена зависимость величины электрического заряда облученной поверхности от температуры и времени кристаллизации.

Способ осуществляется с помощью устройств, изображенных схематично на фиг. 1 и 2, где показаны образец 1 измерительная камера 2, электропечь 3, электрометр 4, самописец 5, оптическая щелочь 6, ртутная лампа 7.

Реализация способа происходит в двухстадийной технологической обработке: облучение образца в ультрафиолетовом свете с последующим термическим отжигом.

На первой стадии на образец 1 устанавливается металлический электрод и производится непрерывное измерение заряда поверхности. При достижении расчетного значения заряда процесс облучения прерывается. На второй стадии образец 1, находящийся в экранированной металлической камере 2 с электродом на поверхности помещают в электронагревательную печь 3. В процессе непрерывного измерения заряда поверхности определяют момент начала кристаллизации и время, за которое концентрация кристаллической фазы достигает расчетного значения. После этого процесс отжига прекращается.

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СВЕТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ФОТОСИТАЛЛОВ, включающий облучение образца ультрафиолетовым излучением с последующей термообработкой образца и определение искомых характеристик, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, в процессе облучения и термообработки измеряют электрический заряд на поверхности образца, а искомые характеристики определяют по предварительно полученным калибровочным зависимостям.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к методам контроля качества однородных частиц, например ворса, используемых при нанесении покрытий в сильных электрических полях

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при построении прецизионных измерительных устройств входного динамического контроля диэлектрических параметров ленточных и дисковых носителей информации

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля изделий

Изобретение относится к исследованию свойств материалов, может быть использовано для определения или контроля изменения температуры стеклования полимерных материалов и позволяет повысить экспрессность и технологичность процесса определения температуры стеклования полимеров неразрушающим методом без нагревания материала

Изобретение относится к области физических методов исследования газовых разрядов и может быть использовано при разработке и диагностике разрядных камер газовых лазеров

Изобретение относится к исследованию электростатических свойств материалов , в частности к исследованию электризации порошкообразных материалов в условиях пересыпания

Изобретение относится к испытанию электрофизических свойств материалов , в частности к способам определения контактной разности потенциалов и плотности зарядов двойного электрического слоя в контакте, и может быть использовано в исследовательскйх лабораториях, например , для изучения физических свойств материалов в малых объемах

Изобретение относится к физической химии, а именно к средствам исследования поверхностных процессов, протекающих на границе твердое тело - жидкость, содержащим поверхностно-активные вещества-присадки, в частности к определению адсорбционных свойств жидких углеводородов, таких как топливо, масла и их смеси, при контакте с металлом, что необходимо, например, для определения смазывающих характеристик смазок, топлива

Изобретение относится к области текстильного производства и может быть использовано на прядильных, ткацких и т.п

Изобретение относится к детектированию пластиков и других веществ с использованием диэлектрокинеза (фореза) и, в частности, к детектированию конкретных пластиков, полимеров и других органических и неорганических веществ с помощью детектирования выброса тока электродинамической реакции на механически вынужденную обратную силу диэлектрофореза

Изобретение относится к дефектоскопии горных пород путем исследования электромагнитных полей, излучаемых породами при разрушении

Изобретение относится к аналитической технике, а именно к способам определения содержания вредных примесей (в частности, серы) в нефтепродуктах

Изобретение относится к электрохимическому способу определения оксидантной/антиоксидантной активности веществ

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при исследовании двухфазных потоков в качестве датчика наличия пара или капель

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно диагностики технического состояния газотурбинных двигателей в процессе их производства, испытаний и эксплуатации

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества изоляционного материала и может быть использовано при изготовлении и исследовании новых полимерных материалов, изготовлении и контроле качества морозостойких электроизоляционных материалов
Наверх