Свч-диод с балочными выводами

 

Использование: в полупроводниковой электронике, в частности, в приборах с балочными и объемными выводами при создании смесительных, детекторных и других СВЧ-диодов и диодов миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн. Сущность изобретения: в слое эластичного диэлектрика, расположенного под анодными и катодными выводами и являющимся несущей основой диода, убирается его центральная часть, покрывающая анод и прилегающие к нему области анодного и катодного выводов. Слой диэлектрика принимает форму рамки, опирающейся на балочные выводы и скрепленной с ними, за счет чего сохраняется прочность конструкции. 2 ил.

Изобретение относится к полупроводниковой электронике, в частности, к приборам с балочными и объемными выводами и может быть использовано при создании смесительных, детекторных и др. СВЧ-диодов прежде всего миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн.

Известно, что для повышения рабочей частоты преобразовательных и др. диодов необходимо уменьшать их паразитные параметры, одним из которых является конструктивная емкость. Известным способом уменьшения конструктивной емкости диодов с балочными выводами является воздушная изоляция анодного вывода от подложки. Так в [1] анодный вывод диода к выпрямляющему контакту с барьером Шоттки изолируется от подложки воздушным каналом, вытравливаемым в полупроводнике под узкой частью вывода на глубину до полуизолирующей подложки. В [2] предлагается уменьшать конструктивную емкость диода путем полного удаления полупроводникового материала под анодным выводом, а возникающую при этом проблему механической прочности конструкции решать нанесением на диод со стороны балочных выводов слоя эластичного диэлектрика с малым д и хорошей адгезией к материалу выводов. Однако при этом, поскольку у известных диэлектриков, используемых в полупроводниковой технологии, д заметно больше, чем у воздуха, то область диода между анодным и катодным выводами оказывается заполненной диэлектриком с д>1 что, в свою очередь, создает конструктивную емкость, снижающую рабочую частоту.

Технический результат настоящего изобретения является уменьшение упомянутой выше конструктивной емкости.

Достигается этот результат тем, что в нанесенном на диод упрочняющем слое диэлектрика над областью диода между анодным и катодным выводами выполнено окно.

Сущность изобретения поясняется ниже со ссылками на чертежи. Фиг. 1 - СВЧ-диод с балочными выводами предлагаемой конструкции в разрезе по плоскости, обозначенной на фиг. 2. Фиг. 2 СВЧ- диод с балочными выводами предлагаемой конструкции, вид сверху.

На фиг. 1 виден кристалл диода, состоящий из подложки 1, n+- слоя 2 и n-слоя 3. Поверхность n-слоя покрыта слоем диэлектрика 4. В окне в слое диэлектрика и n-слое сформирован омический контакт к n+-слою 5, являющийся катодным контактом диода. В окне в слое диэлектрика к n-слою сформирован выпрямляющий контакт 6, являющийся анодом диода. К катодному и анодному контактам сформированы балочные выводы катодный 7 и анодный 8. Анодный вывод имеет узкую часть 9, прилегающую к анодному контакту, и расширенную часть 10 (фиг. 2). Сверху на выводах расположен имеющий хорошую адгезию к материалу выводов слой эластичного диэлектрика 11, с окном над областью диода между катодным и анодным выводами.

Изготовленный такой диод может быть описан в [3] с добавлением операций нанесения слоя эластичного диэлектрика, например полиимида, и травления в нем окна над областью диода между катодным и анодным выводами.

Формула изобретения

СВЧ-диод с балочными выводами, содержащий последовательно расположенные друг над другом подложку, n+- слой, n-слой и слой диэлектрика, катодный контакт к n+-слою, анодный контакт к n-слою, балочные выводы к контактам и слой эластичного диэлектрика, расположенный над катодными и анодным балочными выводами, отличающийся тем, что в слое эластичного диэлектрика над всей областью диода между анодным и катодным выводами выполнено окно.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к твердотельным приборам СВЧ и КВЧ диапазонов и, в частности, к разработке приборов, предназначенных для защиты входных цепей чувствительных радиоэлектронных приемных устройств, например, РЛС

Изобретение относится к полупроводниковым СВЧ приборам для управления мощностью и может быть использовано в устройствах, предназначенных для ограничения радиоимпульсных сигналов сантиметрового и миллиметрового диапазонов волн

Изобретение относится к электронной технике, полупроводниковой электронике, СВЧ-полупроводниковым диодам с динамическим отрицательным сопротивлением

Изобретение относится к электронной технике, а именно к колбам электронно-лучевых приборов (ЭЛП)

Изобретение относится к полупроводниковым диодам, предназначенным для умножения частоты

Изобретение относится к области полупроводниковой техники, а именно к способам переключения высоковольтных полупроводниковых структур ключевого типа, используемых в лазерной, ускорительной, локационной технике и т.п., а также в ряде областей преобразовательной техники

Изобретение относится к области полупроводниковых приборов

Изобретение относится к силовым полупроводниковым приборам и может быть использовано для генерирования мощных наносекундных импульсов высокого напряжения в схемах с индуктивным накопителем и прерывателем тока

Изобретение относится к термокомпенсированным стабилитронам - полупроводниковым приборам, предназначенным для жесткой стабилизации рабочего напряжения в радиоэлектронной аппаратуре в условиях изменяющейся температуры окружающей среды

Изобретение относится к области электронной техники, в частности, к конструированию и технологии изготовления выпрямительных полупроводниковых диодов с p-п переходами, и может быть использовано в электронной промышленности

Изобретение относится к области электронной техники, в частности к конструированию и технологии изготовления лавинно-пролетных полупроводниковых диодов, и может быть использовано в электронной промышленности, в радиотехнике в качестве активных элементов генераторов и усилителей СВЧ

Изобретение относится к области мощных полупроводниковых приборов и может быть использовано при конструировании полупроводниковых симметричных ограничителей напряжения с малым значением динамического сопротивления
Наверх