Способ определения коэффициента комы оптической системы

Изобретение относится к оптике и может быть использовано для определения коэффициента комы оптической системы оптико-электронного датчика. Способ определения комы проекционной оптической системы включает размещение точечного монохроматического источника света на заданном расстоянии от главной оптической оси, определение координат крайней точки пятна рассеяния на изображении, расчет диафрагменных координат крайнего луча по координатам крайней точки пятна рассеяния, измерение величины комы по расстоянию между точкой истинного изображения и крайней точкой пятна рассеяния, определение коэффициента комы. Обеспечивается снижение сложности определения коэффициента комы и расширение области применения, заключающееся в возможности использования способа для определения коэффициента комы оптической системы любого оптико-электронного датчика. 3 ил.

 

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для определения коэффициента комы оптической системы оптико-электронного датчика.

Известен способ измерения аберраций оптических систем (патент США №6459480, опубликованный 1.10.2002), заключающийся в печати шаблона на тонкий диск путем проецирования шаблона через линзу на множество уровней и направлений; измерение множества необходимых линейных расхождений между двумя областями на напечатанном шаблоне для каждого из множества уровней и направлений; и определение хотя бы одного коэффициента Зернике коматической аберрации, основанное на измеренных линейных расхождениях.

Недостатком этого способа является высокая сложность организации проведения измерений и необходимость наличия специализированной техники для нанесения шаблона на тонкий диск.

Наиболее близким к предлагаемому является способ определения комы проекционной оптической системы (патент США №5760879, опубликованный 2.06.1998), заключающийся в том, что получают изображение шаблона, спроецированного проекционной оптической системой хотя бы в одной позиции вдоль оптической оси проекционной системы, определяют позиции хотя бы одного полученного изображения шаблона, расположенного в плоскости, перпендикулярной оптической оси проекционной оптической системы, и определяют кому проекционной оптической системы на основе расчетов.

Недостатком данного способа является высокая сложность проведения измерений и узкая область применения, заключающаяся в возможности использования способа только для проекционных оптических систем.

Технической задачей изобретения является снижение сложности определения коэффициента комы и расширение области применения, заключающееся в возможности использования способа для определения коэффициента комы оптической системы любого оптико-электронного датчика.

Задача решается тем, что в известный способ определения комы проекционной оптической системы, включающий определение комы на основе расчетов, введены размещение точечного монохроматического источника света на заданном расстоянии от главной оптической оси, определение координат крайней точки пятна рассеяния на изображении, расчет диафрагменных координат крайнего луча по координатам крайней точки пятна рассеяния, измерение величины комы по расстоянию между точкой истинного изображения и крайней точкой пятна рассеяния, определение коэффициента комы.

Изобретение может быть использовано для контроля качества изображения широкого класса оптических систем как при их изготовлении, так и при их эксплуатации и соответствует критерию «промышленная применимость».

Сущность изобретения поясняется чертежом, где на фиг.1 показан ход лучей при коме, на фиг.2, 3 - схемы, используемые для определения параметров комы.

Кома является одним из видов монохроматических аберраций и заключается в том, что симметричный относительно главного луча пучок, входящий в оптическую систему, становится асимметричным по выходе из системы (фиг.1) [Теория оптических систем. Учебник для вузов, Б.Н.Бегунов, Н.П.Заказнов, С.И.Кирюшин, В.И.Кузичев. - 2-е изд., перераб. и доп. - М.: Машиностроение, 1981. - С.158].

Наличие комы в оптической системе приводит к тому, что вместо изображения в виде точки, в геометрическом смысле слова, имеет место световое пятно, напоминающее своей формой комету с постепенно расширяющимся хвостом [Прикладная оптика. Апенко М.И., Дубовик А.С. Издательство «Наука», Главная редакция физико-математической литературы, М., 1971. - С.147].

Меридиональная Δy' и сагиттальная Δх′ составляющие комы определяются по формулам [Прикладная оптика: Учеб. пособие для приборостроительных специальностей вузов. / Под общ. ред. Н.П.Заказнова. - М.: Машиностроение, 1988. - С.126]

где В - постоянный для оптической системы коэффициент, определяющий кому третьего порядка, m и М - зрачковые координаты крайнего луча, y - расстояние точки предмета от главной оптической оси (фиг.1).

Для определения параметров m и М используются координаты точки на изображении и величина угла α (фиг.2). На изображении точка О принимается за начало координат, треугольники ОАР и O1A1P1 подобны. Таким образом

где у и х - координаты точки Р на изображении, r - радиус диафрагмы.

Для определения коэффициента В располагают квазимонохроматический источник на известном расстоянии у от оптической оси. Меридиональную составляющую Δу' комы (фиг.3) определяют по изображению. Из выражения (1) коэффициент В равен

Точность определения коэффициента В может быть повышена путем проведения i дополнительных измерений величин yi. Δy/i, расчета коэффициентов Bi по формуле (3) и расчета коэффициента В как среднего арифметического множества {Bi}.

Таким образом, изобретение позволяет снизить сложность определения коэффициента комы и существенно упростить контроль качества широкого класса оптических систем как при их изготовлении, так и при их эксплуатации.

Способ определения коэффициента комы оптической системы, включающий определение комы на основе расчетов, отличающийся тем, что дополнительно размещают точечный монохроматический источник света на заданном расстоянии от главной оптической оси, определяют координаты крайней точки пятна рассеяния на изображении, рассчитывают диафрагменные координаты крайнего луча по координатам крайней точки пятна рассеяния, измеряют величину комы по расстоянию между точкой истинного изображения и крайней точкой пятна рассеяния, определяют коэффициент комы.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для определения и коррекции дисторсии оптических подсистем видеокамер и систем технического зрения, использующих в качестве приемников изображения матричные приемники изображения.

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля качества объективов оптических приборов.

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для измерения коэффициентов отражения, близких к единице, различных зеркал. .

Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано, в частности, при аттестации длиннофокусных крупногабаритных объективов для контроля радиальной дисторсии.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для диагностики повреждений объектов с помощью тонкопленочных датчиков порогового типа. .

Изобретение относится к волоконно-оптическим линиям связи и может быть использовано для измерения потерь мощности в волоконно-оптическом соединителе. .

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для идентификации поврежденного оптического волокна в системах мониторинга оптических волокон на сети связи.

Изобретение относится к области систем передачи сигналов по волоконно-оптическим линиям связи и может быть использовано для мониторинга волоконно-оптической сети.

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерных дальномеров. .

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения потерь оптической мощности в соединении оптических волокон при монтаже оптического кабеля в процессе строительства волоконно-оптических линий передачи, при проведении ремонтно-восстановительных работ на линии связи.

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для определения коэффициентов сферической аберрации объектива оптико-электронного датчика (ОЭД) при разработке и исследовании систем технического зрения

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для коррекции сферической аберрации объектива оптико-электронного датчика (ОЭД) при разработке и исследовании систем технического зрения

Изобретение относится к области оптических информационных технологий, к методам диагностики динамических параметров оптических волноведущих систем и позволяет определять скорость передачи импульсно-кодовой или аналоговой информации (полосу пропускания)

Изобретение относится к цифровой обработке изображений и может быть использовано для определения параметров (фокусного расстояния, радиуса диафрагмы и размеры фоточувствительной области матричного приемника изображения) оптических систем оптико-электронного датчика (ОЭД) при разработке и исследовании систем технического зрения

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к преобразователям оптического излучения, преобразователям теплового изображения в кристаллах, приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от оптического знака кристалла

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для определения и коррекции дисторсии оптических подсистем видеокамер и систем технического зрения, использующих матричные приемники изображения

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано как для нахождения областей изображения, искаженных коматической аберрацией, так и для коррекции коматической аберрации оптической системы оптико-электронного датчика
Наверх