Способ определения суммарной площади активных структур пористой поверхности

 

Союз Сааетских

Социалистических

Республик

> i> i3! lC Jl. !()С ()Т (11)Т. С()пдСТС, I 1>CT13H №

Заяв,асио 30.!.1967 (Ле 1130383! 18-10) Кл. 420, 12, 05

12;, 12 с HP! Icoc 11! П(li lie 51 lil51 If!(II \е>

i1P !fop!; Tcò

Опубликовано 24.!.1969. Б(оллстспь ¹ 6 (fI!К 6 011) Ci 0lc

УДК 621.9.015(088.8) Комитет по лапам изобретений и аткрытий при Соаете М(!инстроа

СССР

Дата оиубл;(кoliB!1115! o.lf càíl я 12А !. !969

Авторы и 3 0 б 13 с T (. H 11 5 I

В. Г. Зубаков и 3. С. Щербаковский

3 а яки(тель

Ленинградское оптико-механическое обьединение

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СУЧ>ЧАРНОЙ ПЛОЩАДИ АКТИ ВНЬ|Х

СТРУКТУР ПОРИСТОЙ ПОВЕРХНОСТИ

С О С T cl «Гl и 0 Т, l ) (3 f)!3 P I, И 10

5,> Ф„

Фа" — — — - - - о

Оче?)идно, что S(s —— S — 5>

c»> >

Ивоб!)Стенис 0THociIT05! к Оптических(м".Тодам иссг!Сдованfl« качества поверхностей.

И3«сстиыс м сто.(ы, (с (ользуемыс;(ля этоГО, ОСI103Bs! i!>IC Ilil:1331 р(>нi! (1> оэффll ц:l, li Г .>3

If }) OIJ 3 CК(1И И и (ОТ() ii )I(Oil 1 l f! ) (1 КТИВН Ь(М И, (с ((1 151 5

МИ Hcl !iCГclTJIB(. И «СЕЧ НЕГатнВОМ (СПИМ:„)М) целиком, ис обссис ш(>ают высокой то(но;т:I

И3ХIСРСH If ff II 30lf jif.! СЙ c! ICTJI«H«IX СТР МКТ3 ) ИО«ерхности, ocîáåííî ири неравном pH(>lx 51;.): ос т 51 х ф О н

Г!О ll 3с,?Л(IГ lсх1031 сиосоо с JE.,I(>IO II )131>1IllciIII5l точности определения площадей ili(TII!3Н!з!Х CT))h КТ)> Р И!) фОНС ЛIОООЙ 51,)КОСТИ, ИОXI 1l 3>C) изме рс?(ия коэффиц icH TO« светопропускания ! От)3аТКЕЧ;I51) и (тИВНЫМИ СТР3 Кт) s) аМИ:I «СЕГО

Hc I ß T JI 13 if (cH Is \! H(! ), НОГ!мченнОГÎ в 1) е3 >, !!> I (f Tc фотографиро«ания исследуемой lio«epx;iocT.i, îIIðcäcë5iioт коэфф:Iöèåíт светоирî:Iуcк;1«;!5! (OT P B Ж (1 И И Я ) l I ) 0 3 I C. Æ 3 Т К О В М ЕЖДУ ci К > И 13 Н Ь! >! J l

C ТР) КТ>5 P H Xl!l И C Ð il«H:(В((IОТ (>ГО С 1,ОЭфф li if: C l! >О тами светопропускания активных;(еталсй всего негатива (снимка) в целом.

Наиболее эффективен предлагаемый .(о,об

H P JI Olf PeÄ(. i CH И И i(aciCCT!i(i HO«CPXHOCTСif Hi, l:1ф О 13 а Л Ь и «1 Х К )) X 1 0 l J, (1 О j) l 3 H B O B !1 О, I I f P O B c l, I I> J i 1>! Х пист;);>I(1!Toff..) 1".».! Способов(o lp(.l(x lflcTcfi

C3 Х(М а !) И (151 И.Toil(el.jI> а КТИ !3Н1>IХ СТР МКТС s) «О 0) HoIlIc. HJI Io ко 1)сей и, !ОП1аДП и тех(H. AH(c«f!,15! на исследуемую ио«срхиость вещестьа с вы ofi I I х! к 0 э () ) ф !! ц и с н T o м и р к О с т и, и <1 I I р) J l x: c p с с р 30

Ho1cHcл0Г0 бари51> с послед) loLHI!xl (!)Отогор;1(1)ированием сс. с!)Отогрг!фический снимок такой

:lовсрxíc)ñти cîстоит и3 большого ч.lcë;i х 10Т;IЧ(.СI ;I P;ICIIC)ЛОЖЕННIЯХ C(3CT.1(>IX li T(!Íi>IХ талей.

Часть деталей соответствует рабочей (и

TIIl3Holl ) илоща !11, и коэффи ци(нт и роп 3 ск(11ili5i фОТОГР (1 фИЧСС1\ОГО СН ИХ! Ка Н;1 1!P03P !1>I HOll

Il0. I. !ОЖКС (I!(>Гcl1 >!?3Е f 13 М(>CТi!Х, СООТВЕТСТ(33 Ю

Ill llX ЭТИХl 1CTilЛЯ 31, ОООЗН(1Ч аlОТ т „. Др >> Г(3 и ч lcгь деталей соответствует порам повсрхиот l l. !,0 э ф ф! I! 1! е н т и р 0 п с к i) н и я (н и м к а 13 э т и х

31(Т,IХ 0003НП ? c! IOT Т„.

ПомсшаloT снимок на пути пучка света:joстаточно большого сечения, который освси(аеl

:3«el -(птСЛЬНУio Ч«СTB СГО ИОВЕРХНОСтп S() МОЩ1(ОСТЫО Ф». Фс Обо«H cl si cl IOT XIOLLLHOCTI> ВСЕХ;1 У-!

Сй, Иалавшпх Licl М Ста, СООт«Етот«УЮЩ:(Е ПО>s) ci XI, Об(ца51 П ?OL(lclдЬ КОтОр(ях На СНИМКЕ

5„; Ф» — мощность лучей, падающих на соот«стствующ:(с рабочей иовеpxHocTI(мссTH, общая площадь которых на снимке — S,.

2З6()2:! (ti ).. 1(ти«(е. I I! l «L « т )I!>«j .. ! IК К!!C

tIii " Г» " г ) — (

<(5„ (н

С. I Г; i т Б !1 Т i., 1 1 f О, <т и <т

1! )) С, ()Л(Е т И:5 О О )) Е т С Н И 5) (:t сp ттнтттт it, М. 3!. Илленко

Тслрс,; . !. >т. Левина

Рс,(; т;тор )3. Петрова

Ет! >,>Cå) iin С. M. Стгг<32

:)ттт(,тз 779 5 Тира<к 480 !1)о tt.:ñ«îp (ПП1!!Г1!1 1 (тлнггстнт тт<):icëns: гттт)т)р,:т< itt,:t;тыгттй itð;:. (.тттт, .< Мтткттс(ро, C СС.

-(1тк е !т, !т . т t j>, i (.с)тt!! i"., i

1»т, i ji,tit!t, !iji (.;!Xi "iii: i

Т0 КO )т))()) т Ili t)С ):T С) 01>((. О il J)t), f t < К l li: i >51 г < If f f iт

К 2 «, l i) li(!! 11>10 ) > !3!>I;) il ili!т С Т(51 T" с ) iI), Т. (L )) 2()0 I с)5! j 2 КТ« J5I!25f ) «ЛО « (2 Ih «0))!I i. T:) f!

II013Гj)X«0СТИ С СTЬ (ОЛ)т 13LLИ IC)13()."(IС)СТI! 52— ! 5 Н С 51 « (! Sl 0 Т l(02,)) (j) > I f (! I C H T 2 C) O!LI C I (7 I I;) O )(3 tC IC clт() f 5f 7 )3 С С и П()13(") ")3ОСТИ И КОЗ())ф if i(>i(т f1 ))5 П П )II \ Сfiст!(IIН T 11 Г (L СБСTËÛК П I СЛ;11!>IX. (СTc!

Гт (И

С 11)Тст H Нсl,IОСTHTO«iliX 11, 10«let;15!

5р !>0, I I I Ь! \1 !l 3 «2 51 COOTH0(«(. li«L Ьт) П 1)СС>1(:.(С"C.7CL(X!Off «.101Ö2, (li (Л! с(С! Н Гcl O СH«XI!0 131>ltf «<, l «ТЬ )) с(00

В Ч сlСТН)Н. : C.1 (тlс15(К;(Г15! S, «O ) > ЧсllОТ 1>1>! j) 2 женин, согл<(сл)ощисс5! с ffj) ti01:)коЙ. ТЯк, сс,iii темl!1>I(. .(ГTЯ;111 сп;I >1 КH Ili>«j)031)сlт!11! 1, TО:

5„= — „ — С >t

Г С,1 i 1(T 0 >Ч > Ж С 1 i, 10 Т «О С Т Ь С 3 С Т:1 Ь: . ; . I i. Т !Л С и . > 1!!—

ЛП (-.„.=. j ), Го:

5„Т50, Т, .;I, IU«1 cl.,)Ь СБГТ, I I X М ГС I ii,;Ulii), )!l l, Oif

КОЭ>И ф И«И СHT(0() «(ЕГО «!) 0« > L Xci ««51 С« il \1 >2, ОП))(.,(Л IСНI!.<с КОЭффlf:l«i. «1 2 0() П(CГт);1!)О« > Сli2«lfH СIII!Л)к<1 «J)0«3!30 l«TCSI «ct К"),I,I!IË!ЯТО,«0 «(j) O T O XI L f)! 1 Г С К 0 ! Л C 1 2 ) f O I> f(LX LO <"!7) 51 Щ Г И I i 3

Y O, 1, l I li! -1 Т С, ) Я С 0 т. Б С 1 И I C, I C !>!,, (C )) Ж <1 Г, 1 )! С 1. I! Л 1Ко(3 т! Фо IOÇ,".CXIC)112 С ОIСDI Л СГ:)Ä!.i"1 БОЧ.

ДС)))КЯ ГСЛЬ СОС ГO)ll ИЗ !)СIIТС))2 И I!0 (15!I)f(:IO Il, ф«КСП,3Л СЛ)0 И Б И C !CO, 1ь КИ I!0510)f> C! I:!SIX )) 2 ЛlКИ. ° > (сl КС И. <1 !i>:IO(3!! <1 (Сн И С f «10 <>()(т

О О т С, I <1 13, ) i i !32 i i C5(1 12 П Xf C)I)> III II XI 3. 1 <1 !i «!! < Л! 0:(ПОИ 113 15<7 I il I ««:, I!I H ЛI Г j) ci (13С 1 ОЬ>0 10 «т 2

1 .0,1,))(МЯ ГО))2, ))ЯЗЛIСi)c! L «11Л!Ксl>:(:(ЯЛ)СТ )2 0)1))стБЫ ФО 1ОЭЛСЛ(;:! ГЯ

К,О Эфф! III!(CHТ 11 !) 01! > CКсlН"!5! О 1 . (LX I I>!il. .X. (L"T

j3C .! 1 lillf)>I т < т,, )1 Т,)ОЛ) (HI>I Ullt)LЛСЛ>)ТЬ<5!, т, 1 (0 l 5 ) ) С Г C, I ) ) if . . Л и () О Б (И С)) ()) 3 H I X 3 Н c(> I (««51 >,; < С, I « . I;! «ЛI С«H C Sl > l! I кг) 0())01 О; IС ))), TO )IL 0 () X ) . (: I:т) 0 I O >1 C 1(c! Ь (1) 0 ТО -), i (. >1 С H T Н сl;(О С Т сl ТО )«0 5ол);«;)ч;)ЯСL ÃOHÍÈ;I ОГ ())ОТОЛ)СТР«рл ел(от» (« ll Л! « <1 (Э (! < I H;; « l>f(;5Н с! I < fili < ) ) . . т (I I К j) (), l i 1 0 М С 1 . ): 1 1 С i К I! М К и i. 0 0 L H i f 0 С Т H М I! !. !) «Л)(. 15! С >Л) I>IX !)! (!Г! (Sl cl T(. )1! сl !«I), ." с() с) КТЕ() ИЗ> IOП т « !I :S I< 0 Э ()! ф :11(!1 C Н T 0 Б If ) О 11 Л С К 2—

1О Hi! 5! 01 !) <1:)л! с ;) ОБ, Ii Tнгl(Й и 00 > с 101!лснн),:л3;1

«< !I!! cl l5, I LH H f>i Ëi X ! «

:I I)i )1(0)т)(ll> I XI if 13L ° 1)I <>>! НЯ Лl I. ! тт(()0)XU;(«. >! О OT! i T!IТЬ «ОЗЯБ«СИ >!OCT(> )5(. ЛH i:11(I>1 )1:3 Xf C)) Sf() >I:))I «. 10«!

I!! 5 ) Н)ОТО! )) )С С.!Л— Ii 5К !(О ГЛ(! ) :! J, l: C) C !LOCI (>. Ë;IÇXIC j) H CXI2H IIГIО«I 2 I H (« I HU3Hit I l0 < I35I:3I>I f3 c! C. ÒС51 «j) 0. f0)) I(l0H 2 . ЬН(>),>:1)5) Ii I«ti 001 Ьто т f0 «<1 (cl IO« I!I Xi )! сl )) С С

20 0131>D(и i IкОм. . 3! !<1, 101 « IHli! L )) 2 СС 3 Ж;(С П;15! МОЖНО И !):i BCCT«

И, (ГIH СГI (<(<151.:1)) ИЛ)ГНСНИ)1 (j)OTOI,) 2 (j))(QPCI(fl X ,!ЯT();I cl. IOI! Hi! НЕ«))0:3)) сl)113 Ы Х ПО;!.(ОЖКсl. (, (j) C) -0! ))2 (j) If<(CO Ê 2 5! (; >">12 Гсl j . I j)) И ЭТО(! (5Л)(СТО ()25 Э,)) ф: т (:. I i H T 0)5 i! )) О П Л "С К 1 «;15) П С. Ь> 0 Л О,". «Xf t ,5 0 Б cl T f> С Si 1> О Э ()! ф!! . (I! С. Н Т 2 Л! 11 ОТ j) сl Ж (1! . Н,; (3 . >I L —

j)CH«I>IXI «!3 TLК ЖГ, !TÎ, I КОЭфф I:!HC HTf>i П!)U-! I 3 C КЯ П, 151, 0««cl «H:>! ; )3Ы«1(Л (К IOIS IH

). CII0C00 ОП:)СДС IL!i.!)г X ЛlмЯ)):IОЙ П,70ЩЯ,З,Н

fX CT J) 3 1(ТЛ j) ИО)) «0101(ИО 5L j)X HOLÒÈ, H2

35 «i)«X! i j) )) Бит т 1(11 )I, IO«l ci,(«МСЛ КО Т))Л КТЛ Г)Н!>(к

iLICI1Iф0Б2Г1I>ИIИ . К))Л ГОБ, cl()))

:ll:lifL! I H ())010Л)ст;)и;)ОБЯ:1, f. I «(ГHTIil3<1 ICC, I(.!",(М 0)! 11015(f)."IfÎ<.Т:! «М ГС>Ч ÎI I)) Г.;СГIС. 111. 51;I! Iф(!) Л 5:!Ы. КОЭф()):1.111(1:О:3 («СТО)1))ОИ > Скс:. l!51 ЬССГО

40 C Н. 1>Ч К<1 «(С тkl. Ii. ll> CUUT«(ТОТ)5 т !0«l! IX;! > C««l! I,Di

i. " j) >1 i > )) Я 31> ОГ.!!f (J)ОЕ()(<1)Г. ТСЛI, !1 0, С ЦЕ, IЬIО !ОБ«1«1 С<и«и ТИ 1«ОСТИ ОП !)(Ь! (, 1 ««Н «,10 13(cl;I C. И

2 К Г!Ii3«:>1 <"I J) > IC! S:) H«! фОПЕ .IIO()Oi! 51))КОС))),,(!It))())3:!III>1«кU3;1HÐ:I:!«el! T с)3с TO«!)Опi ск«н:!н О:I

45 ) (7 Hx I « fUT, (LI 2 и)) ил Г<кл Tl(0i! лl сж (i 2 кти!3««1л)1!, t < T 1 11 П i.,! <«3 I f l. 15 ñt IU Ò (< 1 0 i:;I «(! т)) > 3 H I >I 1 И К 0 :ii)) i!) « I(if(11 I . .т! < 13(. ТО«;)0 « т Сr> ЯHI! H !3C(Ч 0 i Н ИЛ! КЯ !

1, I(!7.,!СП, C<)UÒ!!LТС! Б !0)Ц, IX сlК! И)3«Ь(Л) СТ))

) Л J)2:,I.

). СI!0 )i) то «), 07 .>ит((т)ОЦиЦС5<) ТЕЧ, ЧТО, C

ЦС, И>)О !)C«0. I>. !i) !3

55 I i j) ofl x с«2 и:15! i) II f) i l i", 15! IUT 1 О эфф «Ц;(ентl.: UT)) 2)КГПИН.

Способ определения суммарной площади активных структур пористой поверхности Способ определения суммарной площади активных структур пористой поверхности 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих внутреннюю резьбу

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия
Наверх