Цифровой измеритель статического коэффициента передачи тока транзисторов

 

I

О П И С А Н И Е 236564

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советски

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 21а4, 71

Заявлено 11.XI1.1967 (№ 1202003/26-9) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 03.11.1969. Бюллетень ¹ 7

Дата опубликования описания 11 VII.1969

МПК G 01г

УДК 621.317.74(088.8) Комитет по делам изобротеиии и открытий при Совете Министров

СССР

Авторы изобретения

А. В. Романов и Е. А. Маслов

Заявитель

ЦИФРОВОЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ СТАТИЧЕСКОГО КОЭФФИ ЦИ ЕНТА

ПЕРЕДАЧИ ТОКА ТРАНЗИСТОРОВ

Известны устройства для измерения статического коэффициента передачи тока транзисторов В„ в цифровой форме в схемах с общим эмиттером. Базовый ток в этих устройствах задается от генераторов импульсов тока через последовательный делитель, включаемый непосредственно в цепь базы транзистора.

Пользуясь подобными устройствами, возни1;ают трудности при создании делителей и коммутирующих устройств, управляющих их работой. Кроме того, при измерении В„ими не учитывается входное сопротивление испытуемых транзисторов, которое может изменяться в широких пределах даже для одного и того

>ке типа транзисторов, что вносит дополнительную погрешность в измерение.

Предлагаемое устройство отличается от известных тем, что генератор импульсов гока выполнен в виде импульсно-модулпроваш1ого стабилизатора постоянного тока, а управляемый делитель включен последовательно в цепь источника опорного напряжения и измерительного элемента стабилизатора.

Блок-схема предлагаемого устройства представлена на чертеже.

Сопротивление база-эмиттер испытуемого транзистора 1 является нагрузкой генератора

2 импульсов постоянного тока, состоящего из источника опорного напряжения 8, управляемого дискретного делителя 4, измерителы1ого элемента 5, регулирующего элемента 6, импульсного модулятора 7, источника питания 8 генератора импульсов, а также переключателя 9 пределов измерения с эталонными резисторами 10 и 11.

При запуске схемы измерения блок управления 12 осуществляет запуск коммутатора 13, который своими контактами производит дискретное изменение сопротивления делителя 4.

10 Величины сопротивлений делителя пропорциональны весовым коэффициентам выбранного цифрового кода.

При изменении сопротивления делителя про11сходит изменение тока в цепи база-эмиттер

1s и, следовательно, величины коллекторного тока испытуемого транзистора 1, протекающего через нагрузку И от источника коллекториаго напряжения 15.

Напря>кение н а коллекторе испы гуем ого

20 транзистора ср",âíïâàåòñÿ с напряжением эталонного источника 16 при помощи схемы сравнения 17. После того, как этп напряжения стануT равными, коммутатор прекращает работу, и измеренная величина В„, пропорцпо25 нальная числу шагов коммутатора 1 >, считывается с табло цифрового индикатора 18.

Предмет изобретения

Цифровой измеритель статического коэффи30 циента передачи тока транзисторов, содержа

Цифровой измеритель статического коэффициента передачи тока транзисторов Цифровой измеритель статического коэффициента передачи тока транзисторов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может найти применение в электронной технике для измерения напряжений на диэлектрике и полупроводнике, а также их временного изменения в МДПДМ-структурах

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к электронике и при использовании позволяет повысить точность контроля заданной величины отрицательного дифференциального сопротивления за счет изменения соотношения глубины положительных и отрицательных обратных связей в элементе с регулируемыми напряжениями и токами включения и выключения

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано при конструировании и производстве тиристоров

Изобретение относится к радиационной испытательной технике и может быть использовано при проведении испытаний полупроводниковых приборов (ППП) и интегральных схем (ИС) на стойкость к воздействию импульсного ионизирующего излучения (ИИИ)

Изобретение относится к области измерения и контроля электрофизических параметров и может быть использовано для оценки качества технологического процесса при производстве твердотельных микросхем и приборов на основе МДП-структур

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для контроля полярности выводов светодиодов

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Наверх