Способ измерения опорной площади неровностей

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для определения и контроля опорной площади неровностей поверхности электропроводных изделий. Сущность: на базовую поверхность (плиту), имеющую минимальную шероховатость и максимальную плоскостность, кладут исследуемый образец и пускают ток через образец и плиту. В зависимости от площади контакта будет определенное сопротивление тока. По виду материала образца и по тарированному прибору, определяющему сопротивление, измеряют опорную площадь неровностей. 1 ил.

 

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к контрольно-измерительной технике, и может быть использовано в машиностроении для определения и контроля опорной площади неровностей поверхности электропроводных изделий.

Российский ГОСТ 2789-73 (Шероховатость поверхности) имеет всего шесть параметров, определяющих неровность поверхности (Ra; Rz; Rmax; Sm; S; tP), причем не стандартизован важный параметр, характеризующий поверхностный слой - опорная площадь неровностей. Этот параметр наиболее полно и точно определяет важнейшие эксплуатационные свойства рабочих поверхностей деталей машин и приборов (прочность соединения, износостойкость, усталостная прочность, противокоррозионная прочность). В зависимости от вида обработки деталей опорная площадь неровностей будет различна. Например, поверхности, обработанные давлением, заметно отличаются от обработанных резанием, практически во всех случаях величина опорной поверхности, образованная накатыванием, больше, чем при точении, шлифовании и доводке при одних и тех же классах шероховатости [1]. Как следствие, - различные физические характеристики поверхностного слоя и различный ресурс работы деталей машин.

Существует способ определения опорной длины неровностей при помощи профилографа-профилометра [2], по которой определяют опорную площадь неровностей. Исследуемый образец профилируют в продольном и поперечном сечении, определяя среднее значение опорной длины неровностей по сечениям. Далее из произведения средних величин определяют опорную площадь неровностей. Недостатком данного способа является большая погрешность измерения опорной площади по опорным длинам профиля, которые не могут максимально полно отразить картину поверхностности.

Наиболее близкие к предлагаемому изобретению существующие способы и конструкции направлены на измерение шероховатости поверхности, заключающиеся в измерении электроемкости, силы тока, частотного спектра сигнала, изменяющихся в зависимости от шероховатости поверхности [3-5]. Недостатком существующих аналогов является невозможность измерения опорной площади неровностей.

Задачей, на решение которой направлено предлагаемое изобретение, является измерение опорной площади неровностей путем определения сопротивления материала при прохождении через него постоянного тока.

Способ реализуется следующим образом. На базовую поверхность (плиту), имеющую минимальную шероховатость и максимальную плоскостность, кладут исследуемый образец и пускают ток через образец и плиту. Так как сопротивление тока есть величина, зависящая от площади R=f(S), то, в зависимости от площади контакта, будет определенное сопротивление тока.

На чертеже приведена схема измерения опорной площади, где: 1 - базовая плита; 2 - исследуемый образец; 3 - электрокабель; 4 - прибор для измерения сопротивления (омметр).

Тарирование прибора производится при помощи размещения на базовой плите образцов с заранее установленной площадью поверхности. Каждый электропроводящий материал характеризуется собственным сопротивлением. По виду материала (свойству электропроводимости) образца и по тарированному прибору можно не только качественно, но и количественно определять опорную площадь неровностей.

Так как поверхность материалов не является чистой (наличие окисных пленок, масел, других инородных веществ), то сопротивление одних и тех же образцов может быть различно. Поэтому необходимо травление образца перед исследованием, после которого в течение 40 секунд необходимо произвести замеры.

Для большей чувствительности омметра используют мостовые схемы, позволяющие измерять сопротивление 10-6-10-9 Ом.

Данный способ успешно апробирован и реализован в лаборатории кафедры МРСиИ Бийского технологического института. Использование способа позволило количественно оценить опорную площадь поверхностей, обработанных различными способами механической обработки (точение, шлифование, накатывание), и количественно обосновать эффективность применения накатывания, по сравнению с другими видами обработки деталей.

Источники информации

1. Шнейдер Ю.Г. Чистовая обработка металлов давлением. М.-Л., 1963.

2. Российский ГОСТ 2789-73. Шероховатость поверхности. Параметры, характеристики и обозначения, М., 1985.

3. А.С. СССР №1130735.

4. А.С. СССР №1474452.

5. Патент РФ №2133943.

Способ измерения опорной площади неровностей поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что пропускают электрический ток по исследуемому образцу, отличающийся тем, что измеряют сопротивление электрического тока, пропускаемого через исследуемый образец и базовую плиту, по которому определяют опорную площадь неровностей поверхности исследуемого образца.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике. .

Изобретение относится к нанотехнологии, более конкретно к устройствам, обеспечивающим получение информации о состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии.

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно к устройствам, обеспечивающим получение информации о поверхности образцов и модификацию поверхности образцов в туннельном и атомно-силовом режимах в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ).

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки.

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов в жидкостной среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии.

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов с использованием жидкостных ячеек методом сканирующей зондовой микроскопии.

Изобретение относится к нанотехнологии, а более конкретно - к устройствам, обеспечивающим получение информации о магнитном состоянии поверхности с использованием сканирующей зондовой микроскопии.
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля состояния и класса обработки поверхности изделий.

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем.

Изобретение относится к сплошному ролику для определения отклонений от плоскостности при обработке полосового материала, согласно ограничительной части п

Изобретение относится к областям металлургии, производства материалов и может быть использовано преимущественно в листопрокатных технологиях

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии

Изобретение относится к машиностроению, а именно к области создания средств и методов бесконтактного измерения неровностей поверхностей, геометрических размеров, эксцентриситета и перемещений деталей машин и механизмов

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для усовершенствования работы инструментов, измеряющих высоту рельефа поверхности, и для сертификации высотных стандартов

Нутромер // 2381440
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в качестве устройства измерения линейных величин неровностей профиля поверхности внутренней полости трубы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, используемой при послеремонтном контроле поверхностей крупногабаритной трубопроводной арматуры /ТПА/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости наружной сферической поверхности детали

Изобретение относится к зондовой микроскопии, а именно к устройствам, обеспечивающим комплексные исследования сложных объектов при контроле и создании требуемой среды измерения

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа рельефа, линейных размеров и физических характеристик поверхности объектов в режимах сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа
Наверх