Устройство для измерения толщины немагнитныхматериалов

 

ОПHCАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

242408

Союз Советских

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 03.1,1967 (№ 1123548/28-12) с присоединением заявки №

Приоритет

Кл. 42Ь, 11

42Ь, 12/03

42k, 51

МПК G Olb

G 0lb

G 01Ь

УДК 620.179.142,6(088.8) Комитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров

СССР

Опубликовано 25.IV.1969. Бюллетень № 15

Дата опубликования описания З,Х.1969

Авторы изобретения

Н. В. Замарашкин, А. С. Шварц и Ю. В. Таничев

Ленинградский институт текстильной и легкой промышленности им. С. М. Кирова

Заявитель

УС1РОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕМАГНИТНЫХ

МАТЕРИАЛОВ

Известно устройство для измерения толщины немагнитных материалов, состоящее ms двух магнитопроводов, между которыми помещается измеряемый материал, индукционной катушки и регистрирующего прибора. Однако при помощи этого устройства нельзя измерить толщину материала обувной заготовки непосредственно на затяжной колодке. .Предлагаемое устройство отл ичается от известных тем, что один магнитопровод встроен в колодку для заготовки, а второй смонтирован на направляющей с возможностью перемещения .вдоль колодки, Это позволяет измерить толщину заготовки в отдельных точках по длине колодки.

На фиг. 1 изображена обувная колодка предлагаемого устройства и вид по стрелке А; на фиг. 2 — разрез по Б — Б на фиг. 1.

Устройство выполнено в виде обувной колодки 1, в которую встроен магнитопровод, состоящий из горизонтального стержня 2, установленного вдоль продольной оси колодки, профилированных полос 8 вдоль следа колодки, соединенных со стержнем пальцами 4, и стойки 5, с которой жестко соединена направляющая б при помощи гайки 7. По направляющей перемещается ползун 8 с боковыми аластинами 9. Ползун в местах измерений фиксируется при помощи винтов 10. Второй магнитопровод выполнен в виде подвижных якорей

11. Индукционная катушка 12 закреплена на стойке.

Работа устройства основана на преобразовании отклонения толщины материала обувной заготовки в изменении индуктивности выходного преобразователя. Предварительно производится тарировочное измерение эталонных деталей для различных точек колодки, которые определяются по шкале, нанесенной на

10 направляющую.

Перемещая ползун по направляющей и устанавливая подвижные якоря для каждой измеряемой точки при помощи винтов 18 и 14 и планки 15 на кронштейне 16 до положения

15 фиксации с поверхностью эталонных деталей, снимают выходные сигналы и записывают на диаграммной бумаге прибора (например, милливольтметра Н 375), По результатам измерения строят тарировочный график.

20 После этого таким же образом замеряется затянутая на колодку заготовка, и полученные данные фиксируются на .бумаге самопишущего прибора.

25 Путем сопоставления полученных результатов с тарировочными графиками строится эпюра толщин деформированного материала заготовки, затянутой на колодке, что позволяет определять деформации материала обувной

30 заготовки в процессе обтяжно-затяжных опе242408

-- 12

ФиГ. 1

6 6 7 юг.2

Составитель Н. Тинде

Техред Л. Я. Левина

Корректор Л. В. Юшина

Редактор А. Бер

Заказ 2i59i9 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 раций на различном оборудовании — непосредственно на затяжной колодке.

Предмет изобретения

Устройство для измерения толщины немагнитных материалов, состоящее из двух магнитопроводов, между. которыми помещается измеряемый материал, индукционной катушки и регистрирую щего прибора, отличающееся тем, что, с целью измерения толщины заготовки в отдельных точках по длине колодки, один магнитопровод встроен .в колодку для заготовки, а второй смонтирован на направляющей с возможностью перемещения вдоль колодки.

Устройство для измерения толщины немагнитныхматериалов Устройство для измерения толщины немагнитныхматериалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх