Оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности
248249
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Совз Советский
Социалистический
Республик д 11АТЕ1П!: " те наг.;::.
Зависимое от авт. свидетельства №
Заявлено 15.V,1967 (№ 1155177/25-28) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 10Х11.1969. Бюллетень № 23
Кл. 42b, 12/05
МГ1К G 01Ь
УДК 531.717.85:681.2:681 .4 (088.8) Комитет пе делов изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
Дата опубликования описания 1.XII.1969
Автор изобретения
Б. M. Левин
Заявитель
ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ
ЗЕРКАЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ
Предмет изобретения
Известен оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности, при котором используют неподвижно установленную афокальную оборачивающую систему, движущуюся по направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и .оптическую систему для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп.
Особенностью предлагаемого оптического способа является то, что оптической системой последова ельно проектируют изображение марки на проверяемую поверхность, в промежуточное пространство и с двукратным увеличением смещения, вызываемого перемещением проверяемой поверхности по нормали, на ось афокальной оборачивающей системы. Это позволяет повысить точность измерения и предотвратить повреждения проверяемой поверхности.
На чертеже представлена схема измерения прямолинейности зеркальной поверхности согласно описываемому способу.
Измеряемый объект / с контролируемой зеркальной поверхностью ПП устанавливают на плиту 2, на которой также неподвижно размещена афокальная оборачивающая система 3, По направляющим 4 может двигаться измерительная каретка 5 с установленными на ней маркой б и отсчетным микроскопом 7. Оптическая система 8 служит для передачи изображения марки в отсчетный микроскоп.
В процессе измерения прямолинейности зеркальной поверхности ПП объекта / каретку 5
5 перемещают относительно поверхности ПП и последовательно проектируют изображение марки на проверяемую поверхность, в промежуточное пространство и с двукратным увеличением смещения, вызываемого перемещением
10 проверяемой поверхности по нормали, на ось афокальной оборачивающей системы 8.
Изображение штрихов и марки контролируется наблюдателем на экране 9.
Оптический способ измерения прямолинейности зеркальной поверхности, при котором используют неподвижно установленную афо20 кальную оборачивающую систему, движущуюся по направляющим измерительную каретку с установленными на ней маркой и отсчетным микроскопом и оптическую систему для передачи изображения марки в отсчетный микро25 скоп, отличаошийся тем, что, с целью повышения точности измерения и предотвращения повреждения проверяемой поверхности, оптической системой последовательно проектируют изображение марки на проверяемую поверх30. ность, в промежуточное пространство и с дву3 кратнь м увеличением смещения, вызываемого перемещением проверяемой поверхности пс нормали ; Ва ось афокальной ооорачивающе1 системы.
Сос i а витель В. Иванова
Редактор И, С. Грузова Техред Л. К. Малова Корректор С. M. Сигал
Заказ 3204/1О Тираж 480 Подписное
ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Москва 7К-35, Раушская наб., д. 4/5
Типография, пр. Сапунова, 2
