Патент ссср 254794

 

254794

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОР КОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Соцналнстнческлх

Реслублнк

Зависимое от,"..". сшгдетсльства №

Заявлено 18.Х1.1968 (№ 1283092/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 17.Х.1969. Бюллетень ¹ 32

Дата опубликования описания 9.111.1970

Кл, 42b, 12/02

МПК 6 01Ъ

УД К 531.715.2:

:531.717.2(088.8) Комитет ло делам иаобретеннй н открытий лрн Совете Мнннстров

СССР

СПОСОБ ЗАМЕРА ИЗОГНУТОСТИ ТОНКИХ ПЛАСТИН

Известен способ замера изогнутости тонких пластин, например конденсаторных, с применением измерительного прибора. В качестве измерительного прибора в известных способах используют индикатор часового типа.

Однако известные способы имеют низкую точность замера из-за того, что под действием измерительного усилия пластины меняют величину стрелы прогиба.

В предлагаемом способе этот недостаток устранен за счет того, что в качестве измерительного прибора используют измерительный микроскоп, содержащий центра для крепления замеряемой пластины и отсчетное устройство, устанавливают пластину одним своим концом в центрах микроскопа, затем снимают по отчетному устройству величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной оси микроскопа, а величину изоН гнутости подсчитывают по формуле t = —.

На чертеже изображена схема, поясняющая описываемый способ.

Способ замера изогнутости тонких пластин заключается в следующем.

Устанавливают пластину 1 одним концом в центра 2 и 3 измерительного микроскопа и замеряют величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной осн микроскопа. Beëè÷èíó изогнутости t подсчитывают по

5

Формула выведена, исходя нз предположения, что изгиб имеет форму дуги правильной окружности и стягнваемый дугой центральный угол а мал, т. е. а — э-О.

Предмет изобретения

Способ замера изогнутости тонких пластин, например конденсаторных, с применением измерительного прибора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности замера, используют в качестве измерительного прибора измерительный микроскоп, содержащий центра для крепления замеряемой пластины и отсчетное устройство, устанавливают пластину одним своим концом в центрах микроскопа, затем снимают по отсчетному устройству величину отклонения Н свободного конца пластины от поперечной оси микроскопа, а величину изогнутости подсчитывают по формуле

/= —, 4

254794

Редактор Л. Г. Герасимова Техред 3. Н. Тараненко Корректор Г. С. Мухина

Заказ 418/7 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2