Устройство для контроля прозрачных образцов

 

262430

О П И С А Н И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соеетскиз

Социалистическил

Республик

Зависимое от авт, свидетельства №

Кл. 42h, 35/01

Заявлено 12,VIII.1968 (№ 1263389j29-33) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26.!.1970. Бюллетень № 6

Дата опубликования описания 18Л .1970

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР.ЧПК G Olm

G 02Ь

УДК 620.192 (088.8) Авторы изобретен,ия

В. С, Доладу гина и А. А, Пастухов

i I

ТЕХ" И,"г г.» "

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРОЗРАЧНЫХ ОБРАЗЦОВ

Изобретение относится к устройствам для контроля прозрачных образцов и может быть использовано в стекольной промышленности.

Известно устройство для контроля прозрачHblx образцов,в атрессивной среде с помощью светового луча, включающее кювету с установленным в ней столиком. Все повороты и вертикальные перемещения образца делаются вручную.

Цель изобретения — механизация процесса контроля образца.

Досгигается это тем, что устройство выголпено с П-образным кронштейном и установленной внутри него подъемной скалкой с вращающимся валиком, соединенными через систему шестеренок каждый со своим приводом.

На фиг. 1 показано предлагаемое устройство, вид спереди; на фиг. 2 — то же, вид сбоку.

В прозрачной кювете 1, наполненной иммерсионной жидкостью, на столике 2 в центре светового пучка находится исследуемый прозрачный образец. Свет проходит испытуемый образец и образует на экране теневую картину свилей.

При помощи рукоятки 8 с электрокнопкой

4 происходит поворот и вертикальные перемещения столика. Рукоятка через систему шестеренок 5, электродвигатель б и редуктор 7 связана с поворотно-выдвижным механизмом, состоящим из опорной стойки 8. Внутри опорной стойки помещена скалка 9, имеющая боковую реечную нарезку, посредством которой от шестерни 10 редуктора эта скалка переме5 щается вверх и вниз. С противоположной стороны реечной нарезки в скалке сделана продольная прорезь, благодаря которой шестеренка 11 привода от электрорукоятки передает вращение валику 12, который имеет продоль10 ную нарезку зуба и смонтирован на подшипниках внутри скалки. В верхней части скалки закреплен П-образный кронштейн 13, внутри которого размещена система шестеренок 14, гередающая вращение валику 15, последний

15 посредством шесгеренок 1б, смонтированных в нижнем кронштейне 17, передает вращательное движение специальному столику 2 с образцом 18.

Регулировка образца по высоте осуществ20 ляется винтовым устройством типа гайки 19 с конусным зажимом 20. Кювета 1 установлена HB;êðoíøòåéíå 21 и регулируется по высоте гайкой 22.

Работает устройство следующим образом.

25 На столик укладывают исследуемый образец 1. Нажимая на электрокнопку 4, вмонтированную в управляемую рукоятку 8, погружают образец в кювету с иммерсионной жидкостью, Поворачивая рукоятку от себя и на

30 себя, вращают образец на 360 относительно вертикальной оси, одновременно рассматри262430

Фиг / вая на экране теневую картину свилей и др., вновь нажимают на электрокнопку, и столик вместе с образцом поднимается из кюветы наружу.

Предмет изобретения

Устройство для контроля прозрачных образцов в агрессивной среде с помощью световоro луча, включающее кювету с установленным в ней столиком, отличающееся тем, что, с целью механизации процесса, контроля, оно выполнено с П-образным кронштейном и установленной внутри него подъемной скалкой с вращающимся валиком, соединенными через систему шестеренок каждый со своим приводом.

262430

Составитель Щередииа

Техред Т. П, Курилко Корректор Т. А. Абрамова

Редактор Яковлева

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 1265/9 Тираж 500 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для контроля прозрачных образцов Устройство для контроля прозрачных образцов Устройство для контроля прозрачных образцов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, более конкретно к фотометрии, и может быть использовано в конструкции тест объектов, используемых для контроля характеристик инфракрасных наблюдательных систем

Изобретение относится к области неразрушаемого контроля материалов и изделий

Изобретение относится к измерениям таких параметров, как интегральная чувствительность, пороговая облученность, их неоднородности по полю измеряемого многоэлементного приемника излучения, и позволяет повысить точность измерения фотоэлектрических параметров многоэлементных приемников излучения при одновременном снижении стоимости устройства, его габаритов, а также повышении корректности измерений параметров ИК приемников

Изобретение относится к области спектрофотометрии протяженных внеатмосферных объектов

Изобретение относится к медицине, более точно к медицинской технике, и может быть использовано для определения рекомендуемого времени нахождения человека под воздействием УФ-облучения

Изобретение относится к системам дистанционного измерения статического и акустического давления, приема и пеленгации шумовых и эхолокационных сигналов звуковых, низких звуковых и инфразвуковых частот в гидроакустических системах и сейсмической разведке, в системах охраны объектов на суше и в водной среде

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники, более конкретно к устройствам для контроля параметров лазерного поля управления, создаваемого информационным каналом
Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для оценки светорассеивающих материалов

Изобретение относится к устройствам для анализа проб и предназначено для загрузки-выгрузки проб при анализе образцов веществ, например, на низкофоновых бета-или фоторадиометрах

Изобретение относится к технической физике, более конкретно, к фотометрии, и может быть использовано при создании технологии инструментальной оценки параметров качества авиационных оптико-электронных средств (ОЭС) и систем дистанционного зондирования (ДЗ) на основе методов автоматизированной обработки и анализа изображений наземных мир, полученных ОЭС в натурных условиях, а также в разработках конструкций наземных мир видимого и инфракрасного диапазонов электромагнитного спектра
Наверх