Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрол\етра

 

271815

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН Ия

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Секта Советских

Социалистических

Республик

L 1о(ъс.r„ 3 т LI, т ..т .нтно ,«,ф. "- г ч рте ча >

Зависимое от авт. свидетельства №

1<л 42Ь 12/01

Заявлено 09.VI.1967 (№ 1161987/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26.V.1970. Ьюллстснь ¹ 18

Дата опубликования описания 13.X.1970

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

МПК 6 01b 11/14

УДК 531.715.27. (088.8) Автор изобретения

Н, В. Силицкий

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ РАСПОЛОЖЕНИЯ

ИЗМЕРИТЕЛЬНЪ|Х ПОВЕРХНОСТЕЙ МИКРОМЕТРА

Известно устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрометра, содержащее стол с верхней базовой плоскостью, а также связанные со столом автоколлимационную отсчетную систему с приспособлением для установки нулевого отсчета, оптическая ось которой параллельна базовой плоскости стола, и наклонное зеркало для измерения направления хода лучей автоколлимационной системы.

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что оно снабжено двумя поочередно устанавливаемыми на верхнюю базовую плоскость стола трехопорными мостиками, в которых соответственно укреплены микровинт и микрометр, выполненными так, что две опоры каждого мостика образованы установочными винтами с износостойкими сферическими торцами, а третья опора образована измерительными поверхностями соответственно микровинта или пятки микрометра.

Это позволяет проводить контроль в процессе доводки измерительных поверхностей для повышения ее точности и производительности.

Кроме того, мостик, в котором укреплен микровинт, может быть снабжен установочным зеркалом, перпендикулярным оси микровинта, а нижняя плоскость стола может быть выполнена параллельной его верхней базовой плоскости.

Наклонное зеркало может быть выполнено поворотным относительно оси автоколлимационной системы на 180 для изменения хода ее лучей в направлении, перпендикулярном установочному зеркалу мостика и параллельном плоскостям стола.

На фиг. 1 изображено описываемое устройство, продольный разрез; на фиг, 2 — его принципиальная схема.

Описываемое устройство содержит стол 1 с верхней базовой плоскостью 2, а также связанные со столом автоколлимациоиную отсчетную систему 8 с приспособлением для установки нулевого отсчета, оптическая ось которой параллельна базовой плоскости стола, и наклонное зеркало 4 для изменения направления хода лучей автоколлимационной системы.

Устройство снабжено также двумя поочередно устанавливаемыми на верхнюю базовую плоскость 2 стола трехопорными мостиками 5 и б, в которых соответственно укреплены микровинт 7 и вшкрометр 8, выполненными так, что две опоры каждого мостика образованы установочными винтами 9 с износостойкими сферическими торцами, а третья опора образована измерительными поверхноностями соответственно микровинта 7 или

30 пятки микрометра 8.

271815

Мостик 5, в котором укреплен мпкровинт, снабжен установочным зеркалом 10, перпендикулярным оси микровппта, à ни>княя плоскость 11 стола выполнена параллельной его верхней базовой плоскости 2, Наклонное зеркало 4 выполнено поворотным относительно оси автоколлимациопной системы на 180 для изменения «ода ее лучей в направлении, перпендикулярном установочному зеркалу мостика и параллельным плоскостям стола.

Устройство работает следующим образом.

Перед началом работы устройство устанавливают па нуль по плоскости 2 с помощью эталона 12 параллельности путем совмещения обоих перекрестий сетки 1?, наблюдаемого в окуляр 14.

Затем на плоскость 2 устанавливают мостик 5 с микровинтом 7 так, чтобы зеркало 10 находилось против отверстия. Если повер«ность зеркала 10 не параллельна поверхности 2, то перекрестия сетки 18 не будут совмещены. Совмещение перекрестий производят перемещением мостика с помощью винтов 9. После совмещения перекрестий осуществляют доводку измерительной повер«ности микровинта 7. По окончании доводки вновь проверяется совмещение перекрестий доведенной поверхности и зеркала 10.

Перед доводкой измерительной повер«ности пятки микрометра 8 устройство снова настраивают на нуль по плоскости 2 стола 1.

При этом зеркало 4 переворачивают па 180, а мостик 6 с микрометром 8 устанавливают на плоскость 2, причем установку осп микрометра перпендикулярно плоскости 2 производят по доведенной измерительной плоскости микровинта 7. После этого производят доводку измерительной плоскости па плоском притире с контролем, как описано выше.

Предмет изобретения

1. Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрометра, 5 содержащее стол с верхней базовой плоскостью, а также связанные со столом автоколлимационную отсчетную систему с приспособлением для установки нулевого отсчета, оптическая ось которой параллельна базовой

10 плоскости стола, и наклонное зеркало для измерения направления хода лучей автоколлимационной системы, огличающееся тем, что, с целью проведения контроля в процессе доводки измерительных поверхностей для повы15 шения ее точности и производительности, оно снабжено двумя поочередно устанавливаемыми на верхнюю базовую плоскость стола трехопорными мостиками, в которых соответственно укреплены микровинт и микрометр, выпол20 пенными так, что две опоры каждого мостика образованы установочными винтами с износостойкими сферическими торцами, а третья опора образована измерительными поверхностямп соответственно микровинта или пятки

25 микрометра.

2. Устройство по п. 1. оттиа(ощееся тем, что мостик, в котором укреплен микровинт, снаб>кен установочным зеркалом, перпендикулярным оси микровинта, а нижняя плоскость сто30 ла выполнена параллельной его верхней базовой плоскости.

3, Устройство по пп. 1 и 2, отличавшееся тем, что наклонное зеркало выполнено поворотным относительно оси автоколлимацион35 ной системы на 180 для изменения хода ее лучей в направлении, перпендикулярном установочному зеркалу мостика и параллельном плоскостям стола.

271815

2 0

Фиг.2

Составитель А. Иванова

Редактор А. Бер

Текред Л. В. Куклина

Корректор Н. С. Сударенкова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 2303 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Сон те Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрол\етра Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрол\етра Устройство для контроля расположения измерительных поверхностей микрол\етра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной аппаратуре, применяемой в электротехнике, и, в частности, может быть использовано для контроля воздушного зазора синхронной электрической машины, например гидрогенератора

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах АСУ ТП промышленных предприятий

Изобретение относится к области измерений, в частности к контролю положения подкрановых путей в плане преимущественно мостовых кранов

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам передачи в измерительной технике и может быть использовано для измерения перемещений объекта

Изобретение относится к измерениям и может быть использовано при быстрой (в темпе измерения) обработке результатов большого числа измерений, когда невозможно проводить накопление большого количества информации (нескольких чисел для вычисления координаты одной точки), а желательно получать результат в виде одного числа - каждой точке соответствует одно измерение и одно число (результат)

Изобретение относится к волоконно-оптическим автоколебательным системам на основе микромеханического резонатора с частотным кодированием выходного сигнала и может быть использовано в системах измерения различных физических величин (температуры, давления, линейных и угловых перемещений и др.)

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению и может использоваться в скоростных дифрактометрах

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Изобретение относится к волоконно-оптическим системам измерения и может быть использовано для измерения перемещений объекта
Наверх