Голографический способ контроля отклонений

 

ОП ИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2950I9

Союз Соеетсвил

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.Х.1969 (№ 1369018/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 04.11.1971. Бюллетень ¹ 7

Дата опубликования описания 24.III.1971

МПК G 61Ь 11/24

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК, 531.715.2 (088.8) Авторы изобретения

l0. Н. Денисюк и В. И. Локшин

Заявитель

ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОТКЛОНЕНИЙ

РАЗМЕРОВ ДЕТАЛЕЙ СЛОЖНОЙ КОНФИГУРАЦИИ

ОТ ЗАДАННОЙ ФОРМЫ

Изобретение относится к методам голографических измерений и может быть применено для определения отклонений размеров деталей сложной конфигурации от заданной формы или для изучения деформаций под нагрузкой различных трехмерных объектов.

Известный голографический способ контроля заключается в том, что регистрируют на фотопластинке голограмму эталонной детали. Полученное в результате реконструкции изображение пересечено системой интерференционных полос, характер и положение которых обусловлено различием между эталонным и контролируемым объектами.

Реализация этого способа требует изготовления специальных эталонов и сопряжена с большими затратами времени на расшифровку интерференционной картины.

Предлагаемый способ лишен этих недостатков, Это достигается тем, что впечатывают на фотопластину множество пар голограмм пучков сходящихся в одну точку так, чтобы точки схождения этих пучков располагались на поверхности нулевого допуска контролируемой детали, и таким образом регистрируют на фотопластине голограмму эталонной детали, которую используют как световой шаблон, а о величине отклонения размеров контролируемой детали от заданной формы судят по состоянию точек схождения восстановленных голограммой пучков от контролируемой поверхности детали.

На фиг. 1 и 2 изображены последовательные стадии контроля точек одного сечения поверхности.

На фотопластпне 1 регистрируют пары голограмм Г>I — Г,Г4 точечного источника 2, который с помощью программного устройства устанавливают в контрольные точки а — а4, определяющие контролируемое сечение поверхности 8. Далее направляют параллельный референтный пучок через два отверстия в смещающемся экране 4. Последшш необходим, так как фотопластина 1 должна последовательно засвечиваться в тех парах областей, через которые в момент регистрации голограмм проходят пучки, формирующие контрольную точку.

При реконструкции голограмму устанавливают перед контролируемой деталью в расчетное положение так, чтобы изображения точек совпали с поверхностью нулевого допуска.

Реконструирующий параллельный пучок (см. фиг. 2) освещает голограммы à — Г4, которые восстанавливают пучки света, сходящиеся в контрольные точки а — а4. Отраженные от контролируемой поверхности 8 расходящиеся пучки освещают голог р а м мы Г< — Г4.

30 Реконструированная голограмма ми система параллельных пучков проходит линзу 5, диафрагму б и проектируется на плоскость 7 контроля. Если проверяемое сечение поверхности не будет совпадать в отдельных контролируемых точках с эталонными точками, восстанавливаемыми голограммами, то соответствующие этим точкам пучки не пройдут через диафрагму б, и эти точки не появятся на плоскости 7. Смещая диафрагму б до появления отсутствующих пучков, определяют абсолютную величину отклонения от формы.

Предмет изобретения

Голографический способ контроля отклонений размеров деталей сложной конфигурации от заданной формы, заключающийся в том, что регистрируют на фотопластине голограмму эталонной детали, отлича ощийся тем, что, с целью упрощения процесса контроля, впечатывают на фотопластину множество пар голограмм пучков, сходящихся в одну точку так, чтобы точки схождения этих пучков располагались на поверхности нулевого допуска контролируемой детали, и таким образом регистрируют на фотопластине голограмму эталонной детали, которую используют как световой шаблон, а о величине отклонения размеров контролируемой детали от заданной формы судят по состоянию точек схождения восстановленных голограммой пучков от контролируемой поверхности детали.

Составитель В. Илясова

Редактор Г. К. Гончарова Техред Т. П. Курилко Корректор О. С. Зайцева

Изд. № 290 Заказ 697/4 Тираж 473 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Голографический способ контроля отклонений Голографический способ контроля отклонений 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к устройствам для измерения радиуса сферических полированных поверхностей, и может быть использовано при контроле оптических деталей

Изобретение относится к способам оптического контроля деформации поверхности объекта и может быть применено в машиностроении для контроля криволинейности штампованных изделий

Изобретение относится к измерительной технике, к устройствам для определения формы и перемещений поверхности объекта

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерферометрии, и может быть использовано для контроля радиуса кривизны оптической поверхности
Изобретение относится к метрологии и может быть использовано для контроля качества готовой продукции, проведения антропометрических измерений в легкой промышленности, медицине, криминалистике, поисковых системах и т.п

Изобретение относится к способу бесконтактного динамического определения профиля (Р) твердого тела

Изобретение относится к области нанотехнологий и наноэлектроники, а более конкретно к сканирующей зондовой микроскопии

Изобретение относится к медицине, измерительной технике, медицинской технике, биомедицинской инженерии и может быть использовано для определения формы, размеров, глубины и рельефа поверхности анатомических объектов

Изобретение относится к области технической физики и может быть использовано при контроле параметров профилей сооружений метро, железнодорожных туннелей, трубопроводов, горных выработок и иных объектов
Наверх